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41.
仪表放大器AD623在数采系统中的应用   总被引:4,自引:0,他引:4  
本文在介绍了低噪声可变增益仪表放大器AD623的特点和工作原理的基础上,进一步介绍了以AD623为核心的放大电路的数采系统。该数采系统提高了数据采集系统的处理能力,降低了系统的功耗,同时改善了系统采集信号的信噪比。  相似文献   
42.
本文介绍了基于XCR3256的存储测试器的模块化设计,利用XCR3256作为主控单元实现了数据的采编存储重发技术。文中针对传统的主要通过硬件电路降低功耗的方法,提出了具体的软硬件相结合实现低功耗技术。分析了软件操作对XCR3256及系统功耗的影响,介绍了几种有效的实现低功耗的方法,并给出了部分的试验数据。  相似文献   
43.
基于FPGA的超声数据采集装置的设计与实现   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
为了实现对某航天器在地面及飞行过程中的超声数据进行高精度、高速采集的功能,根据测量系统的技术要求,设计数据采集装置的硬件电路和时序控制逻辑。为了满足恶劣的环境测试要求,设计采用高速、高精度、宽温度范围的THS1408模数转换器。选取高速运放AD8028进行信号调理,以FPGA作为逻辑控制器,控制THS1408进行模数转换。经测试,采集精度优于0.5%,满足实际工程需要,具有很高的可靠性,已成功应用于该测量系统。  相似文献   
44.
基于W5300的以太网数据传输硬件设计及优化   总被引:2,自引:1,他引:1  
介绍了一种基于W5300芯片的以太网数据传输的硬件设计、优化方案,以及在方案设计和实现过程中的关键点和可优化部分.该设计实现了将数据以较稳定的速度传输,并且整个链路稳定可靠,已成功应用于工程实践中.  相似文献   
45.
为了实现无线遥测PCM数据的备份,设计了基于FPGA的PCM数据收发接口模块。该模块包括RS-422命令下发接口、PCM码接收接口、LVDS数据回收接口和与存储器数据交换接口。配合单元测试设备和存储器,通过上位机软件对回收数据进行解包分析,用以检验接收到的PCM码的误码与丢帧,判断设备的工作情况。该模块采用独立帧结构,PCM数据完全由后续上位机处理,因而具有极强的通用性。经过反复测试验证了数据收发接口模块工作的可靠性与设计的合理性。  相似文献   
46.
介绍了一种基于PXI总线的火箭滚动控制发动机地面热试车测控系统,提出在PXI总线的输入输出模块外增加辅助控制逻辑,将实时控制过程分解为控制过程安排环节和安排的执行环节两部分:过程安排环节由PXI完成,执行环节由辅助控制逻辑完成。使用此方法的实时控制响应时间的理论精度可以达到5μs,控制系统实际的执行精度达到0.1 ms.因此,该方法可以弥补仪器总线用于控制时的不足,也可以解决常用多任务计算机操作系统实时性差的问题。  相似文献   
47.
针对用电平型信号作为紧急命令传输可靠性低的问题,分别从硬件和软件两方面进行了优化设计。在硬件方面,通过对相关参数的理论计算,采用光继电器发送指令,经过电缆用光电耦合器接收指令的电路组合;在软件逻辑方面,将紧急指令以连续脉冲形式发送,经过冗余设计后,对收到接收端FPGA的指令进行滑窗判别,保证指令在接收后判别的可靠性。经测试,优化后的指令传输接口设计简单、功耗低、应用广泛,能实现紧急指令在80 m电缆下长期可靠地传输。  相似文献   
48.
介绍了一个基于FPGA的多通道信号采集电路.该电路以FPGA芯片XC3S400作为电路的主控制器,采用电子开关ADG708对7路信号进行了循环采集,使用AD7667作为模数转换器,由主控制器FPGA控制,将采集到的模拟信号转换为数字信号.然后,通过单片机CY7C68013与上位机通信,将采集到的信号通过上位机软件读出并画图显示.通过试验已验证了该采集电路的功能的有效性.  相似文献   
49.
结合串行总线和令牌总线的特点,本文通过采用高性能芯片和合理的高速设计方法,提出了基于LVDS传输技术的令牌环网总线设计,详细阐述了该总线的设计原理及协议,并对整个环网设计进行了优化.并进行了硬件电路测试,结果表明:数据通过背板总线可实现高速传输且确保系统具有较高可靠性,满足了通用测试台中信号、数据高速传输的要求,具有很强的应用价值.  相似文献   
50.
简要介绍了RTD(共振隧穿二极管)的微分负阻特性及其等效电路,通过对实际AlAs/InxGa1-xAs/GaAs双势垒共振隧穿结构I-V曲线拟合,得出RTD的Pspice等效电路模型参数。采用Pspice软件建立了RTD的等效电路模型,并对其微分负阻特性进行了仿真,仿真结果与测试结果基本吻合。利用所建立的模型,对RTD的基本应用电路:反相器、非门、与非门和或非门进行了仿真模拟。结果表明,该类电路能够正确实现其逻辑功能。最后,对基于RTD的振荡电路进行了仿真,仿真频率与实际测试频率处于同一数量级。由于实测电路寄生参数如串联电阻、电容等的影响,仿真结果与测试结果稍有出入。  相似文献   
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