用频率调谐的TE_(01)模微波谐振腔测量复介电系数

本文描写一个用恒定长度的频率调谐的TE_(01)模谐振腔来决定低损耗固体材料的复介电系数的测量系统。腔体有着简单的机械结构,对于介电系数实部的ε′测量只需很短的时间,但具有相当高的精度,并且能在给定频段的一系列具体频率下进行。此外还将这个方法与标准的长度调谐腔进行比较,理论分析和约在10GHz对聚合物和融熔石英的实际测量指出:两个方法的误差具有几乎一致的数值。     

Q表在测量ε、tanδ时对引线的修正方法

一、引言 Q表是无线电测量中最常用的仪器之一,当用它来测量电介质的介电系数ε和损耗角正切tanδ时,共计算公式为: C_P=C_1-C_2 (1) ε=C_P/Ca (2)     

在300—600MHz频率下测量固体材料的复介电系数

描述一个频率在300～600MHz、以被测样品为集中电容负载的同轴谐振腔。除负载间隙电容精密可调外,还具有一个以频率刻度的精密微调圆柱电容器。 介电系数由推动间隙电容的精密测微器在有、无样品时的读数变化来计算:损耗角正切是用变电容失谐法来获得。由于采用不接触电极的测量方法,能在一系列不同频率下对同一块样品进行测量。此外,也可用于薄膜材枓和大损耗材料的测量。 介电系数的测量误差为±1％,损耗角正切的测量误差为±(5％+0.15×10~(-4))。     

(BaPb)O-Nd_20_3-Tio_2的微波介电性能

（BaPb）O－yNd2O3－zTiO2（y=0.8，0.9，1．0；z=3．0，3．5，3.7,3．9，4．5,5．0）陶瓷的介电常数随y增大而减小，随Z增大而增大改变NdZO3或TiO2的量都可以调整此系统的频率温度系数τf，获得τf≈0的瓷体     

微波功率精密测量系统

一、前言西德联邦技术物理研究院(PTB)电学部超高频微波精密测量研究室在主任H.Bayer博士领导下,对研究测量方法与建立国家标准方面做了许多工作,是一个具有世界先进水平的实验室。目前从事的项目有功率、衰减、电压、阻抗、噪声、六端口技术和电介质复(数)介电系数测量等。其频率范围一般都从1兆赫到40千兆赫。现将功率测量系统介绍于此。     

在微波频率下测量高损耗材料的复介电系数和复磁导率

本文用一般的微波元器件构成平衡电桥干涉系统,测量含样品传输线段的散射参数S_(11)和S_(21)的模和幅角,计算出材料的复介电系数和复磁导率。该方法可用3～40GHz的波导系统和较低频率下的同轴系统来实现,适用于微波吸收材料的测量。     

（Ba0.5Pb0.5）O.La2O3.4TiO2—（Zr0.8Sn0.2）TiO4复合系统的微波介 …

研究了（Ｂａ０．５Ｐｂ０．５）Ｏ．Ｌａ２Ｏ３．４ＴｉＯ２－（Ｚｒ０．８Ｓｎ０．２）ＴｉＯ４复合系统的微波介电性能,烧结性能和微观结构,发现复合系统由（ＢａＰｂ）６－ｘＬａ８＋２ｘＴｉ１８Ｏ４．Ｌａ４Ｔｉ９Ｏ２４和（Ｚｒ０．８Ｓｎ０．２）ＴｉＯ４３相组成,而（Ｂａ０．５Ｐｂ０．５）Ｏ．Ｌａ２Ｏ３．４ＴｉＯ２除了（ＢａＰｂ）６－ｘＬａ８＋２ｘ３Ｔｉ１８Ｏ５４和常数,频率温度系数,Ｑ因子主要与其中的相组     

（BaPb）O—Nd2O3—TiO2的微波介电性能

(BaPb)O-yNd2O3-zTiO2(y=0.8,0.9,1.0;z=3.0,3.5,3.7,3.9,4.5,5.0)陶瓷的介电常数随y增大而减小,随Z增大而增大改变NdZO3或TiO2的量都可以调整此系统的频率温度系数τf,获得τf≈0的瓷体     

Sr,Zr对BaTi4O9陶瓷微波介电性能的影响

本文以材料的微波介电性能ε＇ｒ、ｔａｎδ和τε的测量数据为主，配合Ｘ射线衍射分析，对ＢａＴｉ４Ｏ９陶瓷进行掺杂Ｓｒ、Ｚｒ的研究，发现只有形成掺杂相时，介电常数的温度系数τε数据才会产生明显变化，介电性能中的τε更能表征掺杂相形成。得到不掺Ｚｒ掺Ｓｒ量从６ｍｏｌ％开始和掺Ｓｒ２．５ｍｏｌ％掺Ｚｒ量从６ｍｏｌ％开始出现明显的掺杂相；在Ｓｒ置换Ｂａ和Ｚｒ置换Ｔｉ的ＢａＴｉ４Ｏ９固溶体中，ＳｒＯ－ＺｒＯ２成分是介质损耗ｔａｎδ升高的主要源泉。     

微波大尺寸谐振腔的单模化及微扰测Q技术

本文介绍TE_(01)模大尺寸谐振腔的单模化和微扰测Q技术,以及用该腔体构成的电介质参数测量装置和测量方法。给出同一聚四氟乙烯、融熔石英和有机玻璃样品在35GHz和9.37GHz的ε_r和tanδ的测试数据。