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具有凹凸界面结构的有机发光器件的性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
通过采用毫米尺度的凹凸界面结构实现了有机发光器件(Organic Light Emitting Device,OLED)发光效率的提高。在制备OLED器件过程中使用双狭缝模板,在发光层的界面处构建了高度为10nm的凸起,获得最大功率效率为23.9lm/W,最大电流效率为45.6cd/A,与传统的平直界面的OLED相比,分别提高了70%和36%。经过实验数据分析与理论模拟得出初步结论:OLED发光效率提高主要归因于金属界面处局域表面等离子体共振激发,提高了金属阴极界面的远场散射,从而提高OLED的出光效率;另外适当凹凸深度也改善了器件的电学性能。 相似文献
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1 资料及方法1 1 一般资料全部病例均为 1995年 7月至 2 0 0 0年 12月在我科门诊病人。前庭大腺脓肿 2 6例 ,前庭大腺囊肿 4 0例 ,年龄 2 6~ 5 7岁 ,病程 1周~ 10年。手术时机 :急性前庭大腺炎 ,已形成脓肿 ;前庭大腺囊肿在 2cm以上。1 2 治疗方法调试好CO2 激光器 :输出功率 2 0W ,切割时光斑 0 3mm。凝固汽化时光斑直径 3 0mm。患才截石位于手术台上 ,外阴常规消毒 ,铺无菌单 ,用 2 %利多卡因局部浸润麻醉 ,选择切口在小阴唇内侧的皮肤粘膜交界处 ,将调试好的激光聚集刀 ,由肿物的上极至下极充分切开至脓肿或囊肿壁 ,充分… 相似文献
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本文讨论了JEM-1200EX透射电镜拍片过程并对所发生的故障进行了分析。显然,这对于准确及时地排除同类型电镜故障是有益的,对于排除其它类型电镜故障也有参考价值。本文所用符号参见JEM-1200EX透射电镜电路图第17~20页。JEM-1200EX透射电镜拍片程序JEM-1200EX透射电镜拍片过程包括三个程序。第一是取片程序。当第一次按PHOTO键后,微机CPU接受终端取片请求,发指令给继电器Ry1供电。Ry1结点闭合,使传送底片马达M1供电,传动机构齿轮联动,机械手移至供片盒,并从中取出底片送至荧光屏下曝光位置。与此同时,底片到位开关S1和要求马达… 相似文献
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线绕电阻器广泛用于电子节能灯和充电器等产品,本文介绍了一种新型RXF21型抗电涌线绕电阻器的应用方法.重点论述线绕电阻器耐负荷和负载短路保护功能以及抗电涌冲击性能. 相似文献
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为了判别大功率半导体激光器是否为静电损毁失效,对大功率半导体激光器进行了静电损毁机制的研究。通过测量和表征大功率半导体激光器静电损毁现象,为判别其失效提供有效判据。首先,对GaAs基980 nm大功率半导体激光器(HPLD)分别施加了-200 V,-600 V,-800 V,-1200 V以及+5000 V的静电打击(ESD),每次打击后,测量样品电学参数和光学参数。其次,对打击后的器件进行腐蚀并显微观察其打击后损伤现象。反相ESD后,半导体激光器I-V曲线有明显的软击穿现象,在反向4 V电压下反向1200 V静电打击后漏电为打击的5883854.92倍。正向5000 V静电打击后器件没有明显的软击穿现象,且功率下降很小。在反向ESD后器件腐蚀金电极后表面有明显熔毁现象,正向静电打击后则没有此现象。通过正向静电打击和反向静电打击下器件反应的不同I-V特性和损伤表征,推测正向瞬时大电压大电流下,器件的I-V特性无明显变化,而反向大电压大电流打击会导致I-V曲线出现明显软击穿,功率下降和表面熔毁现象,为判别静电损毁提出了有效判据。 相似文献
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1智能光网络正朝着更灵活、更高效的方向演进 由于网络运营商希望通过引入新业务和应用来应对强大的市场竞争,因而对通信容量(bytes)和业务多样性(技术、协议)的需求大大增长。传统的网络分层结构越来越复杂,网络的运营维护成本也越来越高。统计结果表明,运营维护成本(OPEX)大约占到运营商总成本的40%左右。 相似文献