ROSS滤片法测量软X光谱强度

介绍了ROSS滤片差分法基本原理,给出了ROSS滤片差分对的理论设计及实际应用分对的响应函数计算结果。并用此方法获得了激光等离子体发射软X光谱的绝对强度测量值。最后对软X光谱测量值进行了误庆功分析和估算。     

小灵敏面X 光二极管性能研究

X 光二极管(XRD)小型化有助于优化软X 光能谱仪,也可实现与其他X 光诊断设备的集成应用。完成了小灵敏面X 光二极管机构设计,储能电容更合理,体积更小。开展了微波仿真与模拟计算,在0耀20 GHz 的带宽范围内其反射很小,微波传输特性满足实验要求。另外,在短脉冲激光装置上开展了探测器性能研究实验。结果表明探测器时间分辨能力提升20%左右。小灵敏面X 光二极管研究有助于探测器在辐射流监测的方面获得更广泛的应用。     

多种材料软X光平面镜反射率标定

利用北京同步辐射装置(BSRF) 3W1B束线及反射率计靶室,在束流强度40～120mA、贮存环电子能量2GeV专用光运行模式下,做了不同材料掠入射平面镜反射率标定实验。标定过程用高灵敏度无死层的硅光二极管代替X射线二极管(XRD)作探测器,使输出信号提高2～3个量级,可标定能区从150～270eV拓展为50～1500eV能区,对C,Si和Ni材料平面镜给出完整的反射率标定曲线,最终把实验数据与理论计算比对并分析。