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层次型结构片上网络测试方法研究 总被引:2,自引:0,他引:2
使用HDL硬件描述语言建模了在FPGA芯片中可综合实现的二维网状片上网络,在此基础上建立了片上网络测试平台。提出了一种新颖的基于全扫描和逻辑内建自测试的层次型结构片上网络测试方法,论述了层次型结构和非层次型结构SoC芯片测试方法的差异,给出了与IEEEStd.1500标准兼容的测试壳设计,测试响应特征分析使用空间和时间数据压缩技术。实验结果显示本文所提出测试方法能有效地减少测试时间和测试数据量,从而降低了整体测试成本。该方法适用于不同类型的片上网络。 相似文献
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支持内嵌IP芯核测试的片上网络路由器技术研究 总被引:2,自引:0,他引:2
微系统芯片测试中一个主要问题是对内嵌IP芯核的测试存取。对于基于片上网络的微系统芯片,可复用片上网络测试内嵌IP芯核,提出了支持内嵌IP芯核测试的片上网络路由器结构,分析讨论了测试模式下的无拥塞路由算法,片上网络路由器分析模型以及在片上网络平台上的测试存取链配置方法。使用VHDL硬件描述语言实现了在FPGA芯片中可综合的二维Mesh片上网络,建立了片上网络测试平台,可用于分析被测芯核的测试时间和路由/交换算法。最后,使用测试基准电路集ITC’02中的微系统芯片基准电路d695进行了实验验证。 相似文献
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容差条件下PSO算法诊断模拟电路单软故障方法 总被引:2,自引:0,他引:2
为了定量地诊断模拟电路中的单个软故障,提出一种容差条件下基于微粒群优化理论的诊断方法.首先通过灵敏度分析建立电路测试节点电压增量方程,以及模拟电路故障诊断的约束线性规划方程组;然后引入罚甬数,把微粒群算法应用到方程的求解中;最后估计出电路各元件参数的最小变化量,并与各元件容差范围相比较来定位故障元件.仿真实验结果表明.该方法兼顾故障元件的定位和故障元件参数变化量的估计,可以有效地实现模拟电路在容差条件下的软故障定量诊断. 相似文献
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多频幅相感应测井仪线圈系设计 总被引:2,自引:0,他引:2
本文研究了一种全新的多频幅相测井仪的线圈系设计.文中首先通过研究三线圈系的响应函数,分析测井响应与发射频率和源距的关系,得出探测深度随频率的增加、源距的减小而变浅;分辨力随频率的减小、源距的增大而迅速变差的结论.在此基础上,设计了多频幅相测井仪的线圈系模型,并在典型地层中模拟了幅相测井仪的探测特性.实验结果表明仪器探测深度达到了3 m,分层能力达到了30 cm满足仪器性能指标的设计要求.本文的研究工作为后续测井仪器的设计提供了理论依据. 相似文献