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21.
对高清背景下的科技声像后期制作特点进行了简要分析,并从非编系统、媒资系统和网络系统三个方面对科技声像单位的系统搭建提出了建议. 相似文献
22.
通过氙灯辐照试验对ARMOS纤维进行了紫外老化试验,采用单丝拉伸、FTIR、SEM和XRD研究了紫外光辐照对ARMOS纤维的影响。结果表明,短时间的紫外光辐照引起ARMOS纤维的拉伸强度在辐照6h后上升了13.7%,36h后又下降了2.1%。利用FTIR、SEM和XRD发现,经过紫外光辐照后,ARMOS纤维中酰胺基团的C—N键发生了断裂,同时氢键缔合能力增强,纤维结晶度增加,从而导致纤维表面出现沟槽,断口方式由微纤劈裂转向脆性断裂,说明短时间的紫外辐照对ARMOS纤维有削弱和强化2种相互矛盾的影响作用。 相似文献
25.
建立了一种送风管道为等截面等风口的膜分离制氮装置分流器实验模型,旨在对分流器各出风孔口的分流进行问题分析与优化计算,通过对模型分风实验测定,得到了分流器各风口出风量大小不等的结果,其分风量的最大偏差为12%。由于分流器分流不均对膜组有不利影响,因此对分流器实验模型进行了优化设计,采用5%的不均匀性分风系数设计分流器,可看作分流器实现了近似等量分风,而由此设计出的出风口孔径d,即为优化设计的结果。 相似文献
26.
光电轴角编码器轴线与棱体轴线不平行会降低转角误差测试结果的置信度,为了减小光电轴角编码器转角测试误差,将由光电轴角编码器轴线与棱体轴线不平行引入的转角测试误差控制在光电轴角编码器转角误差的1/3~1/5以内,建立了由光电轴角编码器轴线和棱体轴线平行度引入的转角测试误差数学模型及Y向偏置数学模型。由仿真结果可知,光电轴角编码器转角测试误差和Y向偏置随转角的增大呈现周期性变化,周期分别为和2,棱体轴线倾斜方向相同时,两轴线夹角越大,转角测试误差峰值和Y向偏置峰值越大,两轴线夹角相同时,棱体轴线倾斜方向大小只会改变转角测试误差曲线和Y向偏置曲线相位,不会改变曲线形状。根据多面棱体-自准直仪法对建立的数学模型进行了实验验证。实验结果表明:测试结果与数学模型具很好的自洽性。在实际测试中,对转角误差进行预先测试,绘制偏置曲线并对曲线进行最小二乘法拟合,求取平行度与倾斜方向,根据倾斜方向调整两轴线平行度大小,直到误差峰值满足测试要求。 相似文献
27.
在1553B总线应用中,总线消息的识别和过滤是总线监视器(BM)的扩展功能,在很多工程应用中具有非常重要的意义,尤其在高负荷实时通信中,总线上数据量庞大,给系统设计带来很大困难。在研究1553B总线协议的基础上,提取了消息分类的特征信息,设计了基于FPGA的具有信息识别和过滤功能的BM。该BM根据1553B总线消息特征进行消息识别,从而将总线上传输的信息处理成有意义的数据块;在此基础上,按照一定的策略进行消息过滤,仅保留过滤后的信息,从而降低总线负荷。采用VHDL语言、有限状态机技术和模块化设计,进行BM的开发,并通过仿真验证和硬件综合,测试结果表明本文设计的BM达到了设计目的。 相似文献
28.
双界面智能卡芯片静电放电(ESD)可靠性的关键是模拟前端(AFE)模块的ESD可靠性设计,如果按照代工厂发布的ESD设计规则设计,AFE模块的版图面积将非常大.针对双界面智能卡芯片AFE电路结构特点和失效机理,设计了一系列ESD测试结构.通过对这些结构的流片和测试分析,研究了器件设计参数和电路设计结构对双界面智能卡芯片ESD性能的影响.定制了适用于双界面智能卡芯片AFE模块设计的ESD设计规则,实现对ESD器件和AFE内核电路敏感结构的面积优化,最终成功缩小了AFE版图面积,降低了芯片加工成本,并且芯片通过了8 000 V人体模型(HBM) ESD测试. 相似文献
29.
分析了冗余技术在水电站计算机监控系统中的配置模式和可靠性设计。阐述了单星形、双星形和双环网等3种结构冗余以及电源冗余、存储冗余和信号冗余等3种功能冗余,介绍了冗余模式与主备模式的异同以及具体实施。 相似文献
30.
首次将预应力槽型板应用于人防结构中,为研究装配式预应力槽型板结构体系在设计人防荷载作用下的抗爆性能,对缩尺比为1∶3的槽型板进行了模拟核爆试验,分析大跨预应力槽型板结构在人防爆炸荷载作用下的动力性能、变形性能.再对有限元模型在4级爆炸等级作用下进行模拟分析,并与试验结果对比.研究结果表明:在核5级人防荷载作用下试验构件完好,仅在构件底部受拉区和端部剪切区出现少量裂缝;在核4级作用下,结构未发生脆性断裂,说明合理设计的装配式预应力混凝土槽型板可以用于4级的人防工程;也证明了装配式预应力混凝土槽型板具有良好的位移延性,不会发生脆性破坏,可用于抗爆结构;通过模拟分析,验证有限元模拟的真实性以及分析结果的可靠性. 相似文献