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针对管网管道数据传输频繁的问题,为了能够对管网进行实时检测和减少站场间数据传输次数,通过研究管网站场内不同数据的类型及传输特点,建立了管网管道的运行模型,提出了基于要素矩阵触发的管道异常分布式检测方法.该分布式异常检测方法利用站场设备数据建立管道数据要素矩阵并通过提出的基于随机矩阵单环定理的异常判断准则来决定站场间数据传输的时刻,然后采用考虑管道倾角的数据衰减模型将相邻站场的压力数据进行折算并且与实际管道压力差相比较,得到管道的运行状态.该方法采用要素矩阵触发和压力数据衰减模型对数据进行传输和处理,可以减少站场间的数据传输频率以及提高检测的精度.最后通过管网站场历史数据验证了所提方法的有效性. 相似文献
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83.
84.
X射线聚焦望远镜镜片黏接装配的数值模拟和分析 总被引:1,自引:0,他引:1
对采用圆锥嵌套Wolter-I型结构的X射线聚焦望远镜在装配过程中产生的面形偏差进行了模拟和分析。首先,利用ANSYS有限元软件建立二维模型。然后,以实际装配步骤和夹具为加载和边界条件,通过分析不同半径镜片的装配过程,得到了面形偏差与三根压条的载荷关系曲线,由此优选出了不同半径镜片对应的最佳装配载荷。分析显示:除对应的最大面形偏差外,优选出的装配载荷均可控制在0.1μm以内,满足装配精度要求,而且对应装配载荷下玻璃镜片的最大Mises应力也均小于玻璃的强度极限,不会在装配过程中失效。此外,建立了三维分析模型并与二维简化模型分析结果进行了比较。结果显示:计算偏差主要集中在镜片的前、后两端约5mm范围内,最大偏差为2.3μm;镜片中段两种模型的计算偏差小于0.03μm,表明提出的二维简化模型可以用于玻璃镜片装配的快速面形偏差分析和载荷确定。文中对镜片装配过程的分析可为提高装配精度提供理论依据。 相似文献
85.
文中对非线性系统的故障诊断方面问题给予了归纳总结,指出了基于数学模型方法,基于信号处理方法和基于知识的方法在实现非线性系统故障诊断的基本思想,并进一步指出了各各非线性系统故障诊断方法及可能的发展方向。 相似文献
86.
通过构造适当的Lyapunov泛函分析了一类时变时滞双向联想记忆神经网络的平衡点稳定性问题。不要求激励函数的单调性和可微性,得到了保证时变时滞双向联想记忆神经网络的平衡点全局鲁棒渐近稳定的两个新判据。所得到的结果能够表示成线性矩阵不等式形式,进而易于用内点算法等方法来验证。通过仿真例子与其他文献中的一些结果进行比较,表明了本文所得结果的有效性。 相似文献
87.
针对增强型X射线时变与偏振探测卫星(eXTP)项目中嵌套式聚焦成像望远镜对柱面镜片上W/Si多层膜的要求,在掠入射角为0.5°,工作波段为1~30keV条件下,设计了非周期W/Si多层膜并优化了薄膜制备工艺。首先,利用分隔板和掩模板对溅射粒子进行准直,同时优化了本底真空度和溅射工作气压,提升了薄膜的成膜质量;然后,通过调整分隔板间距和公转速率提升了在柱面基底上薄膜的沉积均匀性;最后,利用幂指数算法设计了非周期多层膜,并在北京同步辐射光源上进行了多能点反射率测试,得到了与理论设计基本吻合的测试结果。基于优化的制备工艺制备了周期数为80,周期为3.8nm和W膜层厚度占比为0.47的W/Si周期多层膜,其界面粗糙度仅为0.29nm,柱面镜薄膜厚度误差可控制在3%以内,基本满足了eXTP项目中嵌套式掠入射望远镜镜片用多层膜对于成膜质量、沉积厚度均匀性和能谱响应宽度的需求。 相似文献
88.
摘要:为研究SiC/Mg极紫外多层膜光学性能随制作时不同本底真空度的变化,利用直流磁控溅射方法在不同本底真空条件下制备了峰值反射波长在30.4nm的SiC/Mg周期膜。X射线掠入射反射测试结果表明不同本底真空度条件下制备的SiC/Mg周期多层膜膜层质量有明显差异。用同步辐射测试了SiC/Mg多层膜在工作波长处的反射率,本底真空度为6.0E-5 Pa时的SiC/Mg周期膜反射率为43%,而本底真空度在5.0E-4 Pa时的SiC/Mg多层膜反射率仅为30%。同步辐射反射曲线拟合结果表明:反射率随着本底真空度降低的原因是由于多层膜Mg膜层中Mg的氧化物含量增多造成的。 相似文献
89.
对于机械设备来讲,润滑工作非常重要,良好的润滑可以确保设备处于良好的工作状态,延长设备使用寿命。文章对水润滑技术在煤矿机械设备中的应用进行了介绍,分析了与传统润滑技术相比,水润滑技术的优势所在。最后,文章对水润滑摩擦副材料的选择进行了简要地探讨。 相似文献
90.
宽带反射器和带通滤光片可以利用厚度固定为3.20μm的锗亚波长周期薄膜实现。强折射率调制的锗亚波长周期薄膜使得泄漏模共振的带宽增大,因此泄漏模共振TE11、TE21和TE30能够发生相互作用。通过改变光栅深度,可以在波长λ=10.60μm附近形成高反射宽带和透射带。利用泄漏模共振TE11、TE21和TE30之间的叠加产生增强反射效应,从而形成具有高反射率的反射宽带。利用这些泄漏模共振边缘的叠加产生共振增强透射效应,从而获得具有高透射率的透射带。在这两种情况下分别研究了光栅的未刻蚀和过刻蚀效应,结果表明,为了获得良好的光谱性能,刻蚀过程中应该避免过刻蚀情况。 相似文献