3 MV加速器质谱测量36Cl

在端电压为3 MV的AMS装置上实现³⁶Cl及其他中重核素的高灵敏测量是AMS技术发展的重要方向之一。为进一步提高充气飞行时间探测方法中³⁶S的压低能力,本文研究了³⁶S和³⁶Cl在P10、异丁烷和丙烷气体中的能量歧离和角度歧离。在32 MeV的入射能量下测量了几个地下水样品中³⁶Cl的[JP2]含量,测量结果与72 MeV能量下的测量结果相符。测量结果表明,采用充气飞行时间探测方法在3 MV的串列加速器上测量³⁶Cl时,探测限为³⁶Cl/Cl≈10^-14,当样品中³⁶Cl/Cl≈10^-13时测量不确定度为30%。     

核电站周边环境中锕系元素的加速器质谱测定

为了评估位于意大利南部的Garigliano核电站对周边环境的影响,利用超灵敏的加速器质谱技术对核电站周围环境表层土壤中236U和钚同位素的含量进行了测定.测量结果表明,每克表层土壤中含236U、239Pu和240Pu的原子数分别为106～107、107～108和106～107.其中,240Pu与239Pu的原子数之比...     

中重核素加速器质谱测量的实验谱模拟

加速器质谱测量中重核实验中存在多种离子的干扰,从而给实验谱的核素分析和在束确认带来困难。为了解决这一问题,我们建立了中重核素加速器质谱测量的实验谱模拟方法,用此方法的分析结果与实验测量结果进行了比较,结果显示此方法可以很好用于核素的分析。     

充气飞行时间探测方法研究进展

在AMS测量中最常用的探测器是飞行时间(time-of-flight,简称TOF)探测器和多阳极气体探测器.大部分的TOF探测器是微通道板(MCP) MCP和MCP与SBD(气体电离室)结构,有部分实验室采用MCP SBD的探测器结构用飞行时间和总能量的双维谱进行同位素鉴别.     

用^41Ca作为生物示踪剂在细胞信使中的应用研究

在动物细胞内,Ca~(2 )作为重要信使通过改变细胞内细胞质中的Ca~(2 )浓度来传递细胞内外、细胞之间的各种信息。细胞质中的Ca~(2 )浓度过高,会导致细胞死亡。许多研究表明,细胞质中Ca~(2 )的浓度与细胞调亡、细胞增值、细胞代谢等许多过程相关。现有事实表明:在致癌物的持续作用下,人体细胞内细胞质中的Ca~(2 )浓度不断增高。查明 Ca~(2 )浓度增高过程中Ca~(2 )的来源是一个十分重要的基     

AMS测量中充气飞行时间探测方法研究

同量异位素的干扰是加速器质谱测量长寿命放射性核素的主要问题,一般采用能量损失法来测量这些核素,但在能量较低的情况下,能量损失法受到限制。为了提高在较低能量下AMS测量中同量异位素的鉴别能力,设计和建立了充气飞行时间探测系统。     

26Al的加速器质谱测量方法及其应用

26Al is one of important radionuclide, which applies to geology, biomedicine, nuclear physics, nuclear astrophysics, and so on. The measurement methods of 26Al by accelerator mass spectrometry (AMS) were introduced, including chimical treatment-ion exchange method and extract AlO- for AMS measurement.     

加速器质谱(AMS)测量中的粒子鉴别探测器

描述了中国原子能科学研究院AMS测量中使用的飞行时间探测器、多阳极电离室、Bragg探测器、入射离子X射线探测器以及充气飞行时间探测器。通过它们可以获得粒子的飞行时间、部分能量和总能量,从而达到粒子鉴别的目的。介绍了采用这些探测器在HI—13串列AMS系统上做的相关工作以及取得成果。     

一台改进的充气飞行时间谱仪

在已有的基础上重新设计和研制了一台用于加速器质谱测量中进行同量异位素鉴别的充气飞行时间谱仪。介绍了该谱仪的原理、结构和调试结果。在入射能量分别为64．5和49MeV的情况下,用时间谱实现了^36S和^36Cl的鉴别。     

79Se的AMS测量方法研究

测定⁷⁹Se时由于⁷⁹Se尚无标准样品,需要建立⁷⁹Se/Se（⁷⁹Se、Se原子个数比,余同）的AMS测量方法。在⁷⁹Se/Se的绝对测定中,为尽可能避免测量Se的同位素之间的差异,通常利用探测器测量⁷⁹Se离子,本文用法拉第筒对⁷⁸Se和⁸⁰Se进行测量,但这造成两个测量系统之间的系统误差。为避免这种系统误差,利用同一探测器测定⁷⁹Se、⁷⁸Se和⁸⁰Se。考虑到⁷⁸Se和⁸⁰Se的计数率非常高,在CIAE-AMS系统中的静电分析器前和靶室内安装衰减片以降低⁷⁸Se和⁸⁰Se的计数率。实验结果表明：通过两个衰减片的衰减作用,能将⁷⁸Se和⁸⁰Se的束流降低到半导体探测器的检测范围内,实现了样品中⁷⁹Se/Se的绝对测定,得到⁷⁹Se/Se为(2.08±0.10)×10^-7,为准确测定⁷⁹Se半衰期奠定了基础。