C语言指针教学的探讨

本文分析了在C语言指针学习中存在的难点。主要通过不规范使用指针的反例来强调正确使用指针的重要性。     

退火时间对BNT-BT6薄膜微结构及压电性能的影响

采用溶胶-凝胶法(Sol-Gel)在Pt/Ti/SiO2/Si(100)衬底上制备了0.94(Na0.5Bi0.5)TiO3-0.06BaTiO3(BNT-BT6)薄膜,研究了不同退火时间对其微结构和压电性能的影响。X射线衍射(XRD)结果表明,制备的BNTBT6薄膜为钙钛矿型铁电薄膜,随着退火时间的延长,晶粒尺寸略有增加。原子力显微镜(AFM)结果表明,制备的薄膜表面比较平整、无裂缝。随着退火时间的延长,薄膜的粗糙度有所增加。在退火时长为60min时薄膜表面具有最佳的均一性,在退火时间为90min时薄膜均一性最差;优化退火时间,可提高薄膜结晶程度,避免焦绿石相的生成,进而提高BNT-BT6薄膜压电性能。压电力显微镜(PFM)结果表明,BNT-BT6薄膜的电畴为多畴结构。在不同退火时间下均有明显的压电响应,特别是在退火时间为60min时,BNT-BT6原始电畴有着最高的振幅强度。在30min、40min、60min和90min退火时间时,其平均压电系数d33分别为48pm/V、157pm/V、186pm/V和142pm/V。     

BNT KBT BT薄膜的制备及外场下电畴翻转

采用金属有机物热分解法在Pt/Ti/SiO2/Si基底上制备了085(Bi05Na05)TiO3 010(K05Bi05)TiO3 005BaTiO3(85BNT 10KBT 5BT)薄膜。通过X射线衍射仪、扫描探针显微镜（SEM）、压电力显微镜(PFM)等对薄膜的结构和外场下的电畴演变进行了表征及研究。结果表明,该薄膜微观结构主要由钙钛矿相和少量的焦绿石相组成,表面无明显裂纹和孔洞,其最大压电系数d33=150 pm/V;通过PFM观察到在电场作用下,其电畴可实现180°翻转,在力场作用下其电畴可实现90°翻转,并结合微观结构对电畴在外场下的演变机理进行了研究。该研究为铁电薄膜在MEMS中的应用提供了参考。     

激光淬火工艺对QT700-2球墨铸铁表面硬度与硬化层深度的影响

对QT700-2球墨铸铁进行单道和非对称多道激光淬火处理,研究不同工艺激光淬火后球墨铸铁的表面硬度和硬化层深度。结果表明:单道激光淬火后,球墨铸铁的表面硬度在52～59HRC,表面硬度随着激光功率的增加而升高,随着扫描速度的增大先升高后略微降低;在激光功率1 300W、扫描速度8mm·s~(-1)下,球墨铸铁的表面硬度基本在55～58HRC,表面硬度分布较均匀,硬化层深度约为1mm。不同工艺参数下非对称多道激光淬火后,球墨铸铁表面的硬度均大于52HRC;当前一道激光功率为1 200 W,扫描速度为6mm·s~(-1),后一道激光功率为1 300 W,扫描速度为8mm·s~(-1)时,球墨铸铁的表面硬度较高,且硬度波动较小,在距表面0.3mm处的软化区宽度约为4.0mm,非软化区和软化区的硬化层深度分别约为1.0,0.5mm。     

地域文化背景下卢宅古村落的保护与利用研究

通过对卢宅古村落保存现状的分析,提出卢宅保护的基本原则,并在传承本土地域文化的基础上,探讨研究了卢宅保护利用项目的实施细节,旨在保护卢宅文化遗产,改善区域民生,发展文化旅游产业。     

钛合金表面渗Mo改性层在5%NaCl溶液中的抗腐蚀性能研究

利用双层辉光离子渗金属技术在Ti6Al4V表面渗Mo,对形成的表面改性层的组织、成分及电化学性能进行了测试,并对其在5%NaCl水溶液中的腐蚀性能进行了研究。结果表明,表面改性层由沉积层及扩散层组成,Ti6Al4V经表面改性后,耐蚀性得到提高。     

Ti6Al4V合金渗镀Mo-N表面改性层在不同腐蚀环境下的抗磨损行为研究

采用等离子渗镀技术在钛合金(Ti6Al4V)表面形成均匀致密的钼氮合金渗镀层.在3.5%NaCl溶液、0.5 mol/L 的H2SO4溶液、0.02 mol/L的Na3P04溶液和亨氏溶液中,对比研究了Ti6Al4V合金及其钼氮改性层的抗腐蚀磨损性能.20 000周次腐蚀环境下的微动磨损试验结果表明,渗镀的Mo-N改性层显著提高了Ti6Al4V合金的抗腐蚀磨损能力.电化学噪音测量结果证明,Mo-N改性层削弱了Ti6Al4V合金腐蚀和磨损相互耦合增幅的作用.     

木雕文化在生态廊道建设中的应用研究

介绍了浙中生态廊道的建设现状,从记录历史变迁、表达美好愿景、教化社会大众等方面,探索了木雕文化融入生态廊道建设的作用,并以东阳木雕为例,分析了其在生态廊道建设中的应用。     

X射线衍射方法分析粗晶铁硅合金的残余应力

尝试采用Imura等提出的单晶材料残余应力的测量方法来分析拉伸不同程度后粗晶铁硅合金的残余应力,先利用衍射仪测得试样衍射峰的位置后,再根据晶面指数和Imura方法计算出残余应力的大小。结果表明:该方法可以用于粗晶材料残余应力的测定;随着拉伸变形量的增大,各个衍射晶面的半高宽随之增大;当晶面位置参数精度为0.25°、衍射角精度为0.01°时,计算的应力状态基本符合试样拉伸后应力状态的理论值。