基于多站支路功率联合学习的分布式光伏支路异常检测方法

近年来,分布式光伏站点数量迅速增长,频发的支路异常带来了巨大的发电效能损失,也产生了如何精准且高效检测多站支路异常的需求。为解决上述问题,提出了基于多站支路功率联合学习的分布式光伏支路异常检测方法。该方法通过多个光伏站支路异常检测任务联合学习的方式,提取了辨识多站支路异常特征的相似性和差异性表示;通过构建的多尺度卷积神经网络有效捕捉了多站支路功率中存在的差异性异常特征;利用辅助任务充分学习多站支路异常辨识特征的相似表示;采用多阶段训练策略减少辅助任务对多站支路异常检测精度的消极影响。最后,通过收集的多站支路功率数据进行实验对比,结果证明了提出方法能有效提升分布式光伏各站支路异常检测的精度。此外,该方法仅需构建一个模型即可检测分布式光伏多站支路异常,具有较好的建模便捷性。     

P(MMA/EA)/PEG-TPE半互穿网络聚合物的合成

为提高聚甲基丙烯酸甲酯/聚乙二醇聚氨酯(PMMA/PEG-TPE)半互穿网络聚合物的相容性,探索了在PEG-TPE中将甲基丙烯酸甲酯(MMA)与丙烯酸乙酯(EA)共聚形成P(MMA/EA)/PEG-TPE半互穿网络聚合物(S-IPN).红外光谱和核磁共振氢谱分析表明丙烯酸酯基本反应完全,PEG-TPE的单体转化率达到89%; 动态热机械分析(DMA)显示P(MMA/EA)/PEG-TPE的玻璃化转变温度峰较同组成比例的PMMA/PEG-TPE内移,甚至在组成比为10/90,30/70的体系中形成了单一的玻璃化转变峰,且扫描电镜(SEM)中表面形貌也变得较柔顺,表明体系的相容性和互穿程度进一步提高.     

高压条件下密封环变形的控制

分析了高压条件下机械密封端面的变形情况及其对密封性能的影响,提出了密封环的压力变形机理和解决措施以及实际设计中的注意事项,列举了部分成功应用的实例。     

也看物业管理三十年之巨变

中国物业管理至今已诞生三十年,回望1981-2011年之中国物业管理,正如一个新生儿成长到而立之年,其变化不言而喻.其中尤以一些方面的变化最能说明物业管理行业的日新月异,如今慢慢谈起,依然令人感慨万千.     

使用后评估（POE）理论及案例研究——清华大学美术学院教学楼评价性后评估

使用后评估（post-ocupancy evaluation）是依据建筑性能标准对建筑环境进行评价与分析的操作。后评估以建筑使用者及其需求作为评价标准和依据,以期从评价中获取信息和经验为未来创造更好的建筑提供有益的借鉴。就当今建筑设计实践的全过程而言,使用后评估是建筑设计程序中的又一个重要的因素, 它的操作和研究使建成环境和设施更加完善,使建筑设计更加科学和合理。使用后评估分为三个层次,它们是指示性后评估、评价性后评估和诊断性后评估。本文通过对使用后评估理论的梳理,针对清华大学美术学院教学楼进行后评估,将后评估理论进行了实际程序的操作,为我国建筑环境后评估提供了案例研究。     

职业学校应以培养技能为中心的教学探究

鉴于职业学校的培养目标,必须以就业为导向,以培养学生技能为中心,建立完整的课程体系,优化教学模式和考核评价体系,开展有效的计算机教学.一、目前职教计算机教学存在的问题1、学生基础参差不齐,给教学目标的实现带来一定难度并且他们的学习习惯普遍较差,没有一定的学习目标,对书本知识理论知识不感兴趣,只会被动接受教师讲授的知识.     

电力系统小信号稳定性分析和控制研究的新进展

介绍了电力系统小信号稳定分析和控制研究的一些新进展 ,提出了小信号稳定分析和控制研究工作的展望。     

第66届全国电子展剑指浦东完美展示电子产业链

告别华南盛亭．第66届全国电子展(秋季)定于2005年11月22日-25日在上海浦东新国际博览中心举行。CEF参展企业和展品范围从电子材料、电子元器件、集成电路．到生产设备、测控仪器．再到汽车电子、光电显示、IT配件和消费类电子．覆盖整条电子制造产业链。这一巨大的优势将使CEF成为电子制造业真正意义上的“交流平台”。第66届全国电子展预计展出面积将达到约60000平方米．预计2500余家参展企业。     

可见分光光度检测离子色谱仪分析铬鞣液中铬含量

本文介绍了用可见分光光度检测离子色谱仪分析铬鞣液中铬含量,允其适用于大量样品的连续分析。实验证明,该方法精密度高,变异系数0.32%,线性关系好,回收率为98～100.25%,准确,快速,方便是该方法的特点。     

光盘读写头光栅纵向和横向加工误差数值分析

基于标量衍射理论给出了矩形光栅衍射效率的一般表达式,数值分析了VCD、DVD和CD-ROM光盘读写头(光学头)分束光栅纵向和横向加工误差对辅助光束与读写主光束强度之比以及对透过率的影响.结果表明,对辅助光束与读写主光束强度之比,纵向加工误差与横向加工误差可以互补,但是,要以损失部分透过率为代价;对光学头分束光栅,其纵向加工误差与横向加工误差间存在的互补性,对光栅的具体制作有着实际的参考价值.