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本文中我们首次在这里公布近些年来我们对半导体材料及微电子器件进行无损显微分层内窥新方法(简称显微分层内窥法)的一些电子显微镜照片及研究结果。这个方法目前已可应用到对半导体材料的亚表面层内的微结构和缺陷进行检测。亚表面层内的微结构状况和缺陷的有无及多少,将直接地决定着用这些材料制作的微电子器件的质量。对亚表面层内有缺陷的半导体材料可以用我们按照显微分层内窥法研制成的扫描电子显微镜(SEM)的专用附件——托莫(下称SETM)来加装到SEM上,对投料生产微电子器件前的半导体材料的亚表面层进行无损显微分层内窥检测,筛… 相似文献
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给出了紫外光度法测定PCB化学镀金/镍中,以硫酸镍、乳酸为主的镀金/镍组分液中微量硫脲含量的技术条件。根据试验结果,PH至12,波长235nm,硫脲浓度在0ug/mL~6ug/mL范围内,线性系数r=0.9996,相对标准偏差小于1%,加标回收率为97.8%~101.6%。本分析方法仪器简单,适宜于硫酸镍、乳酸镀金/镍液中微量硫脲的分析。 相似文献
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音频处理器是广播传输系统环节中重要设备之一,文章根据工作实际,提示大家更好地了解、合理地掌握音频处理器。 相似文献
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