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41.
基于扭矩测量的交流伺服工作台摩擦建模与仿真研究   总被引:1,自引:1,他引:1  
张涛  路长厚  李泉 《润滑与密封》2006,(4):32-35,38
摩擦是影响XY交流伺服工作台定位精度的重要因素。利用作用力与反作用力原理设计了一种新的应变式扭矩传感器,代替传统试验中采用的碳刷-集流环式扭矩传感器,间接测量了交流伺服电机的传递扭矩信号。对XY交流伺服工作台进行动力学分析,建立动力学方程,获得了系统中的摩擦力矩数据。利用实验数据辨识了Stribeck摩擦模型的参数,得出了XY工作台的带参数摩擦模型。建立了XY交流伺服工作台的仿真模型,仿真结果表明本文中的实验方案设计是可行的。  相似文献   
42.
砂轮不平衡量最小二乘识别研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
提出一种磨床砂轮不平衡量现场识别的最小二乘新方法,建立起了最小二乘识别通用模型,给出了典型识别公式和识别算法,并进行了现场识别与平衡研究。结果表明该方法能有抑制测量误差的影响,提高识别与平衡精度。  相似文献   
43.
基于对转子系统振动进行控制的目的,本文研究了电磁阻尼器结构参数的优化设计,建立了一种不完全对称的电磁阻尼器的结构模型。将这种不完全对称的电磁阻尼器应用于滑动轴承支撑的转子系统上,计算机仿真证明这种不完全对称的电磁阻尼器对转子系统的振动控制是有效的。  相似文献   
44.
基于能量观点的主动隔振系统性价比研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
应用导纳功率流理论推导了复杂激励下柔性耦合主动隔振系统作动器的功率流输出表达式。以功率流作为衡量评价隔振效果与能量消耗的指标,讨论了系统参数对该系统的功率流传递特性与能耗性的影响,对系统的性价比进行了评价,提出了可降低能耗的几条有效途径。  相似文献   
45.
46.
基于不平衡响应的柔性转子系统动态参数识别研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文提出了一种利用柔性转子本身不平衡响应作为激励,利用小波变换理论去除噪声,获取不平衡响应信号,识别油膜特性系数的新方法,实验结果评价表明,识别值具有较好的精度。  相似文献   
47.
提出一种基于阴影莫尔法的凹凸字符图像获取方法,针对压印凹凸字符的特点给出了基于阴影莫尔法的字符图像获取的理论分析.进行了光栅传感器的设计计算,设计了实验装置,并将实验结果进行了对比分析.实验证明了采用阴影莫尔法采集的字符图像与光栅传感器的设计计算结果是相吻合的.使用此实验装置对压印字符进行质量检测是一种可行的方法,而且具有检测方法简洁、快速的优点,适合压印凹凸字符的在线质量检测.  相似文献   
48.
激光参数对铝合金表面标刻条码质量的影响研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对如何在光滑的铝合金表面得到高质量的激光直接标记Data Matrix(DM)条码的问题,以YAG-T80C固体调Q激光器在6 061铝合金表面标刻的DM二维条码为研究对象。分析了电流强度、扫描速度这两个加工参数对条码表面粗糙度的作用机理,通过实验研究了电流强度,扫描速度对激光直接标记DM条码标记区域表面粗糙度的影响规律,发现了DM条码粗糙度会影响条码标记区域外观颜色的变化并且与条码的质量等级存在一定的对应关系。研究结果表明,增大电流强度或降低扫描速度能提高条码标记区域的表面粗糙度;随着条码标记区域表面粗糙度的增加,DM条码激光标记区域的外观颜色逐渐由白变灰再变黑;B等级DM条码表面粗糙度在14.25μm~24.32μm的范围内,C等级DM条码的表面粗糙度在4.53μm~15.15μm范围内,D等级DM条码表面粗糙度在2.98μm~6.08μm的范围内,提高条码标记区域表面粗糙度,有利于提高条码等级便于条码的识别。  相似文献   
49.
为解决接触式测量方式损伤工件以及测量设备造价昂贵的问题, 设计一种基于机器视觉的低成本、高精度的丝杠螺距测量系统。该系统依靠MATLAB平台搭建, 由图像采集系统、机械系统、步进控制系统、图像和数据处理4个子系统构成。利用亚像素图像拼接算法拼接丝杠子图像从而获得完整的丝杠图像, 通过图像增强、降噪等预处理方法改善图像质量, 采用形态学边缘提取和亚像素边缘定位的组合算法精确提取丝杠边缘, 并由数据处理程序自动测量螺距误差。试验结果表明, 机器视觉系统和标准仪器(JCS-040A)对3种型号滚珠丝杠螺距测量结果的相对误差分别不超过0.04%、0.06%、0.09%, 该方法应用于丝杠工业测量中的可行性得以验证。  相似文献   
50.
李剑锋  田志仁  路长厚  艾兴 《中国激光》1997,24(11):1053-1056
红宝石脉冲激光器和外同步触发信号结合实现了齿轮轮齿动态散斑图的记录.用精确的时间延时得到齿轮轮齿完整啮合过程的二次曝光散斑图,经图像自动处理系统分析,获得了轮齿完整啮合过程的动态变形.实测值与有限元计算结果的变化趋势一致.  相似文献   
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