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71.
本介绍了Informix平台以及天津移动通信局基于Informix平台改进业务的情况。  相似文献   
72.
高晖  邓宏 《微纳电子技术》2006,43(12):572-576,591
采用水热法在p-Si(111)衬底上生长出六棱ZnO微管,在空气中进行了300~600℃不同温度的热处理,并用XRD、XPS、PL谱研究了热处理对ZnO微管的结构、发光性能的影响。结果表明经过热处理后,ZnO微管的晶体质量显著改善。室温下的光致发光测试显示,在可见发射几乎消失的情况下,近带边发射的强度显著增大。与原位生长的ZnO微管相比,在泵浦密度为28kW/cm2时,热处理400℃的样品在近紫外区产生一个新的发射峰P。通过验证发射峰A与P之间的相对能量位置,认为新发射峰P可能是由激子-激子碰撞引起的。  相似文献   
73.
姚海军  李燕  罗佳慧  姜斌  邓宏  蒋书文 《功能材料》2004,35(Z1):2890-2893
用激光分子束外延技术在SrTiO3(001)衬底上外延生长SrTiO3/BaTiO3多层膜,通过反射式高能电子衍射(RHEED)原位实时监测并结合原子力显微镜(AFM),研究了不同基片温度下所生长薄膜的表面平整度,利用X射线衍射(XRD)对外延薄膜进行了结构分析,结果表明薄膜具有二维生长模式,在基片温度为380~470℃之间生长的薄膜具有原子级光滑,并且具有完全C轴取向.同时运用X射线光电子能谱(XPS)研究了薄膜界面的互扩散,结果表明降低制备薄膜时的基片温度有利于减少互扩散.  相似文献   
74.
李燕  谢娟  邓宏  徐自强 《材料导报》2005,19(12):87-90
从20世纪80年代末提出光子晶体的概念以来,由于光子晶体独特的调节光子运动状态的特性,使其在许多领域有着广泛的用途.系统叙述了光子晶体的产生、结构、制备和应用,介绍了ZnO光子晶体的最新研究进展.  相似文献   
75.
LaAlO3/BaTiO3超晶格薄膜的生长及结构分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
郝兰众  李燕  邓宏  刘云杰  姬洪  张鹰 《功能材料》2005,36(3):346-347
采用激光脉冲分子束外延技术,在(100)取向的SrTiO3 单晶基片上成功外延生长了LaAlO3/Ba TiO3 超晶格薄膜。在超晶格薄膜生长过程中,采用高能电子衍射技术(RHEED)对LaAlO3/BaTiO3 超晶格薄膜的生长过程以及平面晶格变化进行了分析。通过对超晶格薄膜中各层RHEED衍射条纹的分析计算发现超晶格薄膜存在一个临界厚度,其值约为 17nm,当超晶格薄膜的厚度小于该临界厚度时,晶格畸变在逐渐增加,当厚度超过该临界厚度时,晶格畸变因弛豫现象的产生而逐渐减小。超晶格薄膜中不同层的RHEED衍射条纹的差别说明了由于不同应力的作用使超晶格薄膜中LAO层和BTO层表面粗糙度不同。  相似文献   
76.
主要论述了低维材料的制造方法、特异性能及在光电子和微电子器件领域的应用,包括介质超晶格、金属超晶格和一维量子线;介绍了我们分别采用激光分子束外延制备的BaTiO3/SrTiO3介质超晶格及其介电性能、直流磁控溅射法制备的强紫外光反射的Cu/Ti超晶格和宽禁带的一维ZnO量子线;描述了低维材料的发展前景.  相似文献   
77.
重庆作为抗战时期的“陪都”,城 市建设发生巨大变化,许多名人政要聚集 于此,使得重庆具有丰富的遗址遗迹资源。 名人故居作为重庆民国建筑的重要组成部 分,具有中国近代建筑的典型性与代表性。 但由于对建筑遗迹保护完整性与真实性的 忽视,建筑外部空间的保护并没有得到重 视,从而导致文化遗产陷入“失真”的危机 状态。本文选取具有典型代表性的南岸区名 人故居,在实地调研的基础上,通过对其外 部空间的构成要素与构成形态的研究,建构 其外部空间的构成特征因子评价体系,从而 为保护民国建筑的真实性与完整性提供理 论与实践的参考。  相似文献   
78.
空间光调制技术广泛应用于阈值开关、高速光互连、光逻辑运算等领域,对光信号的实时快速寻址有极高的要求。与电寻址方式相比,光寻址采用并行寻址,速度快,分辨率高,具有更大的优势。但在实际应用中,如何实现快速稳定的光寻址成为空间光调制的关键。本文以Zn O薄膜作为光导层,构造光寻址液晶空间光调制器,更好地实现了对读出光光强和相位的二维空间分布的调制。  相似文献   
79.
邓宏 《铜业工程》2010,(2):105-106
由于卫生间内管道多、阴阳角多且工作面狭小常采用涂膜防水。它具有防水效果好、施工方便、冷作业等优点。本文就涂膜防水施工工艺谈一下自己的见解,以供参考。  相似文献   
80.
采用热蒸发ZnO粉末法,以金膜为催化剂,在两片表面分别朝上和朝下的Si(100)基片上生长ZnO纳米线(样品分别标为1#和2#)。X射线衍射(XRD)图谱上只存在ZnO的(002)衍射峰,说明ZnO纳米线沿(001)择优取向。通过扫描电子显微镜(SEM)表征发现,ZnO纳米线整齐排列在Si基片上,直径在100nm左右,平均长度为4mm。通过分析得出,两种基片上生长的ZnO纳米线的生长机理是不相同的:1#样品,在基片表面上先生长ZnO薄膜,再在薄膜上生长ZnO纳米线;2#样品,ZnO纳米线直接外延生长在基片表面。结果显示基片表面的朝向影响ZnO纳米线的生长机理。  相似文献   
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