环境温度及干扰光对主动辐射测温系统测温精度影响的讨论

在介绍一种利用InGaAs/I半导体激光器实现的实时测温系统的基础上，着重讨论了环境温度及干扰光对该系统测温精度的影响。提出了克服环境温度及干扰光对测温精度影响的两条措施：一是在调制盘与探测器之间置一窄带滤光片；另一是采用水冷遮蔽板并进行电气补偿，进行了一些必要的计算和分析，得到了一些有意义的结论。     

一种实用化实时测温系统的测温灵敏度

基于基尔霍夫定律,利用半导体激光器InGaAs/I及钽酸锂热释电探测器设计了一种实用化的实时测温系统。基于该系统A/D转换器件的分辨率、V(T)-T曲线的温度灵敏度及其与测温范围间的制约关系,确定了系统应选用16位的芯片为其A/D转换器件;基于该系统的测温精度、V(T)-T曲线的相对温度灵敏度及其与波长间的关系,对其工作波长的优化选择进行了进一步的讨论;基于探头的温度分辨力、A/D转换器件的分辨率以及与V(T)-T曲线的温度灵敏度间的制约关系,对其波长带宽的优化设计进行了进一步的分析,并给出了系统在673K～1473K内的测温灵敏度。对系统进行优化设计后,在测温范围的低温段,其灵敏度不低于0.5K;在测温范围的高温段,则不低于0.1K。在673K～1473K内,其测温不确定度不低于0.3%。     

利用8031单片机及1.064μm激光实现的能见度测量仪

利用了一种利用８０３１单片机及１．０６４μｍ激光实现的能见度测量仪及其光学发射与接收系统、信号放大与处理系统及显示系统。详细分析了该测量仪的工作原理、基本结构和主要技术指标,讨论了其中的技术难点及相应的解决办法。     

利用激光实时测量高温物体比辐射率及温度的系统

本文介绍了 种利用激光作为光源,以８０３１单片机为核心构成的高温物体比辐射率及温度实时测量系统。该系统主要由光学接收与发射系统,信号放大与处理系统及显示系统三部分组成。     

反射辐射和探测器本身的辐射对实时测温系统测温精度的影响及其抑制

在介绍一种采用钽酸锂热释电探测器实现的实时测温系统的基础上 ,着重讨论了反射辐射和探测器本身的辐射对该系统测温精度的影响。提出了抑制反射辐射及探测器本身的辐射对测温精度影响的 4条措施 :1)采用水冷遮蔽板并对探测器进行水冷 ;2 )尽可能地使探头正对待测物体表面 ;3)选择合适的仪器工作波长带宽 (Δλ =10nm) ;4 )进行电气补偿。进行了一些必要的分析与讨论 ,得到了采用水冷遮蔽板、将探头尽可能地正对待测面并选用合适的波长带宽可以有效地抑制反射辐射、及对探测器进行水冷并进行电气补偿 ,可有效地抑制探测器本身的辐射的结论。实验表明 ,采取优化措施后 ,在要求的测温范围 4 0 0～ 12 0 0℃内测温精度不低于 0 3% ,符合设计要求     

利用热电器件实现发射率及温度的实时测量系统

介绍了一种采用钽酸锂热释电探测器作为光接收元件、以 80 31单片机为核心实现的中、高温物体发射率及温度实时测量系统。介绍了其工作原理与结构 ,分析了其中的技术难点及相应的解决方法 ,讨论了系统的灵敏度、发射率及温度的测量精度。结果表明 ,对 42 7℃抛光的钢铸件而言 ,系统的最小可鉴别温差为 0 .32 K,发射率的测量精度 σελ=1 .72× 1 0 -2 ,|σελ/ελ| 2 .6% ;温度的测量精度σT=1 .8k,|σT/T| 0 .2 575%。