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针对储存测试系统微型化的瓶颈问题,设计了具有多采样策略的ASIC(application specific inte-grated circuit)。该芯片可以根据被测信号的变化规律在一次测试过程中设置多种采样频率,可以有效利用系统有限的储存空间,减少储存芯片的数量。多种采样频率的转换通过触发信号自动完成。采用此ASIC的测试系统不仅在体积微型化方面提供了有效的途径,还提高了ASIC的灵活性,使其具有更加广泛的应用空间。芯片进行了测试和验证,能够达到设计要求,可以进行实际应用。基于此ASIC的存储测试系统比现有存储测试系统体积减小40%~60%。 相似文献
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为解决存储测试系统的微体积和多种存储容量需求的问题,提出了一种基于片上系统(SoC)技术的智能可级联芯片通用结构.这种结构可外接多种传感器,允许芯片以级联方式扩充系统的存储容量,采用主-从控制方式,通过级联芯片间互相连接的2个引脚即可完成所有芯片内部存储器工作的自动控制和切换,不需外加控制芯片,外引线少,可靠性高.采用CMOS工艺进行设计实现工艺中的线宽是0.18μm,芯片内部包括12bit ADC,控制模块,512k×12bit存储单元和接口.经实验该芯片体积微小,性能稳定,使用灵活,已成功应用于压力、加速度等参数的测试. 相似文献
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存储测试的主要特点是测试仪器置于被测对象内部或被测环境中实时地获取动态参数,为了减小测试仪器对被测对象的影响,需要减小测试仪器的体积,实现测试仪器的微型化.针对存储测试仪器的微型化需求,提出利用SoC系统集成、模块化结构等技术,将数字电路的ADC模块、控制模块、存储模块、接口模块等集成在专用SoC芯片中,同时,将测试电路分为模拟电路、SoC数字电路、电池等模块,立体封装在机械壳体里,设计并实现了微型化的动态参数记录仪.基于SoC的微型化动态参数记录仪体积约10 cm3,可以嵌入被测体内或者置入被测环境中,实时获取相关动态参数.试验表明,基于SoC的微型动态参数记录仪可以用于应变、侵彻加速度、火炮膛内压力等动态参数的测试. 相似文献
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在射孔过程中射孔器腔内会产生二次压力脉冲,一次压力脉冲是一种对于腔内压力测试系统的抗冲击设计、频响设计以及传感器选择的重要参数;二次脉冲是石油企业工程分析的重要参数;为了在高温、高压、高冲击环境中测得一次脉冲,为射孔器腔内压力测试系统的设计提供重要依据,延长射孔器枪内压力测试系统的使用寿命和降低高昂的成本实现信号的完整采集,保证动态测试精度,从实际应用需求出发,给出了系统频响展宽的总体设计方案和测试信号的技术指标。 相似文献
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片上系统在动态测试领域的应用探讨 总被引:1,自引:0,他引:1
在实时动态测试领域中,测试系统微型化是一个重要的研究方向.片上系统技术的发展,为降低系统体积、功耗提供了有效的技术手段.本文利用该技术对微型测试系统进行了研究,对包括SoC(System on Chip)单片机、基于FPGA(Field Programmable Gate Array)的SoPC(Systems on a Programmable Chip),SIP(System-in-package),ASIC(Application Specific Integrated Circuits)等片上系统技术在动态测试领域中的应用进行了探讨.设计了SoC单片机及SoPC在动态测试中的应用方案,并进行了试验测试.结果表明,片上技术能更好地完成动态测试. 相似文献
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