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21.
高密度封装技术的飞速发展也给测试技术提出了新挑战。为了应对挑战,新的测试技术不断涌现。本文主要介绍了几种新型测试技术的特点,并对未来测试技术的发展趋势及方向进行了初步分析。  相似文献   
22.
内存芯片封装技术的发展   总被引:1,自引:0,他引:1  
鲜飞 《中国电子商情》2003,(3):46-46,49
  相似文献   
23.
在企业产品质量检验工作中,主要有全数检验和抽样检验两种实施方法。对于抽样检验,虽然各企业生产的产品有所不同,工艺过程不一样,但建立在概率统计理论基础上的统计抽样检验方法,却已被各企业加以广泛应用。对于各类典型的抽样方法,国家  相似文献   
24.
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27.
BGA(Ball Grid Array球栅阵列封装)是一项已经进入实用化阶段的高密度组装技术。本文将就BGA器件焊点的质量控制作一介绍。BGA检测中存在的问题 目前,对以中等规模到大规模采用BGA器件进行电子组装的厂商,主要是采用电子测试的方式来筛选BGA器件的焊接缺陷。在BGA器件装配期间  相似文献   
28.
富氧氮氧化硅薄膜退火的研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
利用红外吸收(IR)谱和X射线光电子谱(XPS)对富氧氮氧化硅(oxygen-rich SiOxNy)及其在600、750和900℃下退火后样品的微结构进行了研究.实验中除观察到N、H的释放外,首次发现退火会导致SiOxNy中O的释放,同时还发现退火温度不同,H、O、N元素的释放量以及微结构的变化都不相同,根据这些现象,提出了5个化学反应过程并予以解释.  相似文献   
29.
芯片AD9854在跳频通信系统中的应用   总被引:7,自引:0,他引:7  
介绍了AD公司新推出的AD9854芯片的主要特性,讨论了将其应用于跳频通信系统中的优势。  相似文献   
30.
微电子封装技术的发展趋势   总被引:1,自引:0,他引:1  
鲜飞 《电声技术》2002,(4):45-47
论述了微电子封装技术的现状与未来,介绍了微电子封装中几个值得注意的发展动向,同时,从中可以看出IC芯片与微电子封装技术互相促进、协调发展密不可分的关系。  相似文献   
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