激光衍射光栅测试仪的设计与实现

激光二极管衍射光栅光斑亮度比和透过率的测定是影响VCD、DVD等设备中激光读写头以及光学镜头质量的关键因素.本设计采用高性能单片机AVR Atmegal6L设计并实现了650nm激光衍射光栅测试仪,对衍射光栅0级和1级光斑亮度比和光栅透过率测试误差小于2%,方差小于2.2×10-3,满足了光栅测试的精度和稳定性要求.     

基于AD5933的阻抗频谱测试系统设计与实现

通过对元件进行阻抗频谱的测量,可以获取元件更有价值的数据.本文设计了以AD5933为核心的复阻抗频谱测试电路,简要介绍了测试流程及软件的编写,最后根据实际测试数据,对影响测量精度的因素进行了分析.本测试系统阻值范围为100Ω～10MΩ,能够满足一般阻抗频谱测试的要求.     

TiO_2高温电导及缺陷化学分析

对 Ti O2 高温电导机制和缺陷化学进行了详细的理论分析和推导 ,计算了未掺杂样品的电导激活能。电导激活能不仅与温度有关 ,而且与载流子的特性有关。在低温高氧分压下 ,电导激活能大 ,氧缺位浓度较小 ,缺陷以一价氧缺位为主 ;而在高温低氧分压下 ,电导激活能小 ,氧缺位浓度较大 ,缺陷以二价氧缺位为主     

TiO2高温电导及缺陷化学分析

对TiO2高温电导机制和缺陷化学进行了详细的理论分析和推导，计算了未掺杂样品的电导激活能。电导激活能不仅与温度有关，而且与载流子的特征有关。在低温高氧分压下，电导激活能大，氧缺位浓度较小，缺陷以一价氧缺位为主；而在高温低氧分压下，电导激活能小，氧缺位浓度较大，缺陷以二价氧缺位为主。     

PTCR老化特性测试仪

为满足PTCR生产中老化特性测试的要求，研制了多工位PTCR老化特性测试仪。采用单片机、PLD及各种外围接口电路，实现各个工位的先通先断，从而保证各个工位通断时间满足测试要求，具有自动过电流保护，保证了PTCR老化性能的准确、高效测试。     

多通道14位串行AD转换器MAX1148

美国MAXIM公司推出的MAX1148是一个高速、低功耗、多通道的14位串行A／D转换器：它采用逐次逼近转换技术，可以将模拟信号转换成14位数字信号输出：MAX1148具有自动关断和快速唤醒功能，且内部集成有时钟电路、采样／保持电路。8路模拟输入端可以由内部集成的多路开关和采样保持器采用软件编程设置成对8路(单极单端输入方式)或4路(双极差分输入方式)模拟信号采样：芯片采用单电源供电，电源电压在4．75～5．25V之间均能正常工作。MAX1146通过4线串行接口直接与CPU进行通信，接口简单方便，不需要其他外部电路。     

矩阵式PTCR耐电压自动测试系统

为了解决PTC热敏电阻元件在耐电压测试过程中测试效率低以及测试结果的稳定性与可靠性差等问题,设计了矩阵式PTCR耐电压自动测试系统.系统由气缸夹持并推进样品夹具;采用高速MCU控制继电器组顺序对8×16矩阵式PTCR样品进行耐电压测试;各路均有过流保护电路,可实时监测回路电流并对过流迅速做出反应,且运用了去干扰技术;还可与上位机配合自动分选样品.实际应用表明,系统的测试结果准确稳定可靠,自动化程度高,提高了生产效率.