全文获取类型
收费全文 | 199668篇 |
免费 | 2307篇 |
国内免费 | 613篇 |
专业分类
电工技术 | 3468篇 |
综合类 | 149篇 |
化学工业 | 28960篇 |
金属工艺 | 8049篇 |
机械仪表 | 6068篇 |
建筑科学 | 4811篇 |
矿业工程 | 1303篇 |
能源动力 | 5127篇 |
轻工业 | 17115篇 |
水利工程 | 2297篇 |
石油天然气 | 4040篇 |
武器工业 | 8篇 |
无线电 | 23066篇 |
一般工业技术 | 40012篇 |
冶金工业 | 37227篇 |
原子能技术 | 5086篇 |
自动化技术 | 15802篇 |
出版年
2021年 | 1605篇 |
2019年 | 1568篇 |
2018年 | 2573篇 |
2017年 | 2645篇 |
2016年 | 2775篇 |
2015年 | 1794篇 |
2014年 | 3074篇 |
2013年 | 8939篇 |
2012年 | 5050篇 |
2011年 | 7021篇 |
2010年 | 5589篇 |
2009年 | 6350篇 |
2008年 | 6444篇 |
2007年 | 6511篇 |
2006年 | 5579篇 |
2005年 | 5228篇 |
2004年 | 5005篇 |
2003年 | 4887篇 |
2002年 | 4525篇 |
2001年 | 4656篇 |
2000年 | 4578篇 |
1999年 | 4726篇 |
1998年 | 11373篇 |
1997年 | 8120篇 |
1996年 | 6408篇 |
1995年 | 4673篇 |
1994年 | 4271篇 |
1993年 | 4073篇 |
1992年 | 3223篇 |
1991年 | 3076篇 |
1990年 | 2870篇 |
1989年 | 2951篇 |
1988年 | 2826篇 |
1987年 | 2398篇 |
1986年 | 2308篇 |
1985年 | 2715篇 |
1984年 | 2505篇 |
1983年 | 2345篇 |
1982年 | 2090篇 |
1981年 | 2203篇 |
1980年 | 2029篇 |
1979年 | 2124篇 |
1978年 | 2120篇 |
1977年 | 2366篇 |
1976年 | 3188篇 |
1975年 | 1833篇 |
1974年 | 1761篇 |
1973年 | 1772篇 |
1972年 | 1443篇 |
1971年 | 1339篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 0 毫秒
41.
Buttari D. Chini A. Meneghesso G. Zanoni E. Moran B. Heikman S. Zhang N.Q. Shen L. Coffie R. DenBaars S.P. Mishra U.K. 《Electron Device Letters, IEEE》2002,23(2):76-78
Pre-metal-deposition reactive ion etching (RIE) was performed on an Al0.3Ga0.7N/AlN/GaN heterostructure in order to improve the metal-to-semiconductor contact resistance. An optimum AlGaN thickness for minimizing contact resistance was determined. An initial decrease in contact resistance with etching time was explained in terms of removal of an oxide surface layer and/or by an increase in tunnelling current with the decrease of the AlGaN thickness. The presence of a dissimilar surface layer was confirmed by an initial nonuniform etch depth rate. An increase in contact resistance for deeper etches was experienced. The increase was related to depletion of the two-dimensional (2-D) electron gas (2-DEG) under the ohmics. Etch depths were measured by atomic force microscopy (AFM). The contact resistance decreased from about 0.45 Ωmm for unetched ohmics to a minimum of 0.27 Ωmm for 70 Å etched ohmics. The initial thickness of the AlGaN layer was 250 Å. The decrease in contact resistance, without excessive complications on device processing, supports RIE etching as a viable solution to improve ohmic contact resistance in AlGaN/GaN HEMTs 相似文献
42.
43.
A. N. Gudkov V. M. Zhivun A. V. Zvonarev V. V. Kovalenko A. B. Koldobskii Yu. F. Koleganov S. V. Krivasheev V. B. Pavlovich N. S. Piven' E. V. Semenova 《Atomic Energy》1989,66(2):115-118
Translated from Atomnaya Énergiya, Vol. 66, No. 2, pp. 100–103, February, 1989. 相似文献
44.
45.
I. N. Polandov V. K. Novik O. K. Gulish B. P. Bogomolov V. B. Morozov 《Measurement Techniques》1989,32(9):888-890
Translated from Izmeritel'naya Tekhnika, No. 9, pp. 34–35, September, 1989. 相似文献
46.
47.
V. L. Ozol' L. F. Kandyba N. T. Bychenkov L. A. Zbarskii B. E. Koropov 《Metallurgist》1989,33(8):156-156
Lenin Dnepropetrovsk Pipe Plant. Translated from Metallurg, No. 8, p. 39, August, 1989. 相似文献
48.
49.
50.
Tipton C.W. Bayne S.B. Griffin T.E. Scozzie C.J. Geil B. Agarwal A.K. Richmond J. 《Electron Device Letters, IEEE》2002,23(4):194-196
This paper reports on the first demonstration of a half-bridge power inverter constructed from silicon carbide gate turn-off thyristors (GTOs) operated in the conventional GTO mode. This circuit was characterized with input bus voltages of up to 600 VDC and 2 A (peak current density of 540 A/cm2) with resistive loads using a pulse-width modulated switching frequency of 2 kHz. We discuss the implications of the thyristor's electrical characteristics and the circuit topology on the overall operation of the half-bridge circuit. This work has determined the conservative critical rate of rise value of the off-state voltage to be 200 V/μs in these devices 相似文献