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Weikai Su Wei Hong ZhengHau Zhu YunYi Wang 《Journal of Infrared, Millimeter and Terahertz Waves》1992,13(12):1925-1941
In this paper, the scattering parameters of a waveguide cross junction loaded with a metallic post in the center are analyzed for the first time by using the Method of Lines. The homogeneous boundary condition of the third kind and curved boundary are introduced in the formulation. Numerical results are in good agreement with the experimental data. The scattering parameters at Ka-band and W-band of the cross junctions loaded with metallic posts of different radii are presented. It is shown from the numerical results that loaded with metallic posts is an effective means for adjusting the network parameters of the waveguide cross junction to satisfy some special requirements in the design of millimeter wave components. 相似文献
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Keng Siau 《Requirements Engineering》2007,12(4):199-201
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王俏 《精细石油化工进展》2003,4(2):41-43
研究了以植物纤维向日葵壳为原料,采用水解-氧化-水解法制取草酸(乙二酸)的新工艺。与用同类原料,其他方法制草酸相比,本工艺在提高产率,降低生产成本以及易于业化方面有很大突破。在H2SO4质量分数为70%,原料浸泡时间3h以上,m(HNO3):m(向日葵壳)=方面有很大突破,在H2SO4质量分数为70%,原料浸泡时间3h以上,m(HNO3):m(向日葵壳)=2.1:1.0;氧化-水解反应时间5h,反应温度65-70℃的条件下,草酸二水合物收率可达78.5%。 相似文献
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Antiferroelectric lead zirconate (PbZrO3) films derived from acetate precursors have been fabricated on Pt/Ti-coated silicon wafers and fused silica at 700 °C with an automatic dip-coating process. Films formed directly on the metallized silicon wafer showed the coexistence of perovskite and pyrochlore phases. A pre-coated titania layer of about 10 nm facilitated the formation of the desired perovskite phase. Films deposited on fused silica exhibited interactions between lead and silica which inhibited the crystallization of the films. In this case, a pre-coated titania layer in the range 50–75 nm acted as a diffusion barrier layer, allowing the formation of the perovskite phase. Antiferroelectricity in the films was confirmed by X-ray superstructure, dielectric double hysteresis loops and d.c. bias behaviour at room temperature. The corresponding transverse electro-optic properties were also measured for films deposited on fused silica. 相似文献
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