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拉西瓦水电站工程反拱水垫塘优化设计 总被引:1,自引:0,他引:1
在大型高水头水电站中,拉西瓦水电站是我国第一座采用反拱形水垫塘作为特高拱坝坝后消能建筑物的工程,也是我国现有特高拱坝水垫塘中长度最短、宽度最小的工程,其单位水体消能率接近国际经验控制的最高标准。在无规范明确规定和缺少工程资料的情况下,经一系列科研试验和数值计算,优化了反拱水垫塘结构和排水、抽水系统设计等。其经验丰富了我国坝后消能建筑物的设计内容,对我国规范中反拱水垫塘设计规定以及对其他大型高水头水电站坝后消能防冲建筑物的设计具有重要参考价值。 相似文献
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固体中光声拉曼效应的理论分析 总被引:2,自引:1,他引:1
从非线性波动方程出发,运用准平衡模型以及热弹理论,对固体样品中光声拉曼效应进行理论分析,导出了脉冲激光泵浦下光声拉曼信号的解析表达式,并总结分析了固体中光声拉曼效应的一些原理特性、实验问题和应用价值。 相似文献
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G. Lucovsky J.G. Hong C.C. Fulton N.A. Stoute Y. Zou R.J. Nemanich D.E. Aspnes H. Ade D.G. Schlom 《Microelectronics Reliability》2005,45(5-6):827
This paper uses X-ray absorption spectroscopy to study the electronic structure of the high-k gate dielectrics including TM and RE oxides. The results are applicable to TM and rare earth (RE) silicate and aluminate alloys, as well as complex oxides comprised of mixed TM/TM and TM/RE oxides. These studies identify the nature of the lowest conduction band d* states, which define the optical band gap, Eg, and the conduction band offset energy with respect to crystalline Si, EB. Eg and EB scale with the atomic properties of the TM and RE atoms providing important insights for identification high-k dielectrics that meet performance targets for advanced CMOS devices. 相似文献
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In this paper we report the fabrication of ferroelectric Pb(Zr0.52Ti0.48)O3 (PZT) thin films on Si-on-Insulator (SOI) substrates with and without an electrode by pulsed excimer laser deposition combined with rapid thermal annealing. Based on the structural and interfacial characteristics analysis by X-ray diffraction (XRD), Rutherford backscattering spectroscopy (RBS), cross-sectional transmission electron microscopy (XTEM) and automatic spreading resistance measurement (ASR), the film structure and orientation were revealed to be dependent on the annealing time and annealing temperature as well as deposition temperature. From RBS spectra and XTEM observation it is shown that the PZT thin films did not interact with the top silicon layers of SOI and that the composition of the film was similar to the target. The ASR measurements showed that the electrical properties of PZT/SOI as well as PZT/Pt/SOI were abrupt, and that the electrical properties of the SOI substrates were still good after the PZT growth. 相似文献
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推导出了成叠带状光纤在松套管中余长的两个计算公式,此两公式是带状光纤缆结构设计需要用到的基本公式。此外,还对带状光纤缆结构设计作了初步讨论。 相似文献