开关电源造成不能存储的怪病

一台长城JTC—512型彩电,据用户讲:每天早晨刚一开机声音最大,亮度很低、无色、图像也不好,需要重新调整几个模拟量和微调图像才能正常收看:以后短时间暂停再开机又正常.只要停机超过4h(小时)以上,又是声音最大,调好的台又都得重调,明显是不能记忆了。一般情况很可能是存储块(N58655P)或CPU(50431～101)及其周围元件出了问题。打开机壳一看.上述两个集成块都是新换过,均为进口正品,周围有几个另件也都换过,看来这部分电路应该没问题,以前的修理人没能解决问题才转手的。     

缩短RFMEMS开关释放时间的上悬梁方法

针对RF MEMS开关释放时间过长的问题,提出了在开关梁上设计一个上悬梁的方法,以增大开关梁所受压膜阻尼,抑制开关梁在平衡位置附近的振动,从而缩短RF MEMS开关的释放时间。给出了这种方法的相关理论、等效模型及仿真结果。通过ANSYS仿真雷声梁在设置上悬梁前后的动态特性:对于4μm高的梁,释放时间由设置上悬梁前的103μs(0.5μm厚),176μs(0.8μm厚)和232.5μs(1.1μm厚)分别下降为53.3,89和123.4μs;对于3μm高0.5μm厚的梁,释放时间由43.3μs下降为22μs。仿真结果均表明:在标准大气压下,当雷声梁高度为上悬梁高度的一半时,加入上悬梁后雷声梁的释放时间约为原来的1/2,即开关速度约为原来的2倍。     

提高RF MEMS开关速度的电压控制方法

针对RF MEMS开关释放时间过长的问题,提出了一种电压控制方法有效地缩短了开关的释放时间,提高了开关的速度。这种方法无需修改器件设计,仅需要调整偏置电压变化形式,用线性压降替代传统的阶跃压降,就能有效抑制MEMS梁在释放过程中的振动。给出了这种方法的相关理论、等效模型及仿真结果。由ANSYS仿真结果可知,在标准大气压下,采用28μs单段线性压降后,梁的释放时间从103μs缩短到62.5μs;采用26μs双段线性压降后,梁的释放时间进一步缩短到26μs,仅为原来的1/4,即开关速度约为原来的4倍。     

氯/紫外耦合工艺去除低温水中氨氮的中试研究

利用牡丹江某水厂的中试装置,研究了氯/紫外耦合工艺对低温期水中氨氮的去除效能。考察了氯氮质量比、紫外光照强度、紫外接触时间和紫外剂量4个因素对氨氮去除效能的影响。试验结果表明,紫外光照强度、紫外接触时间、紫外剂量和氯氮质量比对氨氮去除均有影响;氯/紫外耦合工艺能够在较低氯氮质量比条件下,实现对氨氮的有效去除,为解决低温期氨氮难去除的问题提供了新途径。