全文获取类型
收费全文 | 97篇 |
免费 | 4篇 |
专业分类
电工技术 | 8篇 |
综合类 | 3篇 |
化学工业 | 5篇 |
金属工艺 | 3篇 |
机械仪表 | 20篇 |
建筑科学 | 4篇 |
矿业工程 | 3篇 |
能源动力 | 1篇 |
轻工业 | 5篇 |
水利工程 | 1篇 |
石油天然气 | 9篇 |
武器工业 | 1篇 |
无线电 | 23篇 |
冶金工业 | 2篇 |
原子能技术 | 5篇 |
自动化技术 | 8篇 |
出版年
2023年 | 6篇 |
2022年 | 8篇 |
2021年 | 8篇 |
2020年 | 1篇 |
2019年 | 5篇 |
2018年 | 4篇 |
2016年 | 5篇 |
2015年 | 2篇 |
2014年 | 15篇 |
2013年 | 4篇 |
2012年 | 4篇 |
2011年 | 10篇 |
2010年 | 4篇 |
2009年 | 4篇 |
2008年 | 5篇 |
2007年 | 6篇 |
2006年 | 3篇 |
2005年 | 2篇 |
2004年 | 3篇 |
2003年 | 2篇 |
排序方式: 共有101条查询结果,搜索用时 0 毫秒
31.
干扰条件下T/R-R 型双基地系统的航迹起始 总被引:1,自引:0,他引:1
干扰条件下双基地T站可观测信息具有不稳定性,传统基于有源定位跟踪系统的航迹起始算法将不再适用于T/RR型双基地系统。为提高恶劣环境下的跟踪性能,文中提出了一种干扰条件下双基地系统航迹起始算法。该方法在传统逻辑方法基础上,利用R站观测信息起始目标航迹。针对双基地系统定位精度随目标空间位置变化较大的特点,设计了能够自适应调整的初始波门,保证了系统能以较高概率起始目标航迹;同时改进了点迹与可能航迹的互联规则,大大降低了系统的虚警概率。仿真结果验证了文中方法的有效性。 相似文献
32.
33.
34.
35.
36.
37.
38.
39.
筛选试验是包含温度应力、电应力、机械应力的多种试验,能够有效地剔除设计和制造方面存在缺陷的集成电路,是集成电路应用高可靠性的重要保障。若筛选试验的条件方法、操作和工装夹具等选择不当,可能会使得集成电路外观产生缺陷,常见的缺陷有掉标、引脚变形、瓷损和沾污等。筛选试验的目的是减少存在的缺陷,试验过程中产生外观缺陷是不可接受的,也是质量管控的重要要求。因此,通过对筛选试验过程中的外观缺陷进行分析,探究了筛选试验中影响外观的因素,以减少质量事件的发生,保证集成电路的可靠性。 相似文献
40.