冷轧态Ti-35Nb-2Zr-0.3O合金的异常热膨胀行为

采用高真空非自耗电弧熔炼炉对Ti-35Nb-2Zr-0.3O (质量分数,%)合金进行熔炼。运用OM、XRD、SEM、TEM和静态热机械分析仪对Ti-35Nb-2Zr-0.3O合金进行表征,研究冷轧形变对合金显微组织及热膨胀行为的影响。结果表明:Ti-35Nb-2Zr-0.3O合金在冷轧过程中产生应力诱发马氏体α"(stress-induced martensiticα",SIMα")相,并形成平行于轧制方向的强110织构。等轴晶组织的Ti-35Nb-2Zr-0.3O合金表现出正常的热膨胀行为。形变后,合金的热膨胀行为出现异常现象,轧制方向表现为负膨胀,负膨胀程度随着形变量的增加而增大,截面方向表现为大于固溶态的正膨胀。30%形变合金的轧制方向在室温到250℃具有Invar效应,这一现象归因于SIMα"相变、晶格畸变和110织构的形成。冷轧态Ti-35Nb-2Zr-0.3O合金在室温到110℃的异常膨胀归因于SIMα"相到β相的晶格转变,而在高于110℃的异常膨胀行为归因于ω相和α相的析出。     

应用Visual Basic实现点焊电流和压力的实时监测

动态多参数实时监测是电阻点焊质量在线评估的一种有效方法。采用Visual Basic6.0语言编程．通过80C196KB和PC机之间的串行通信，实现了对焊接电流和电极压力的实时检测，联机试验所生成的波形图实时反映了三相次级整流点焊的动态焊接过程以及曲线变化趋势与影响因素之间的对应关系，为点焊质量多参数监控奠定了基础。     

变速器智能检测系统软件的开发

针对变速器在线检测已经成为汽车工业生产流水线重要组成部分的情况,开发了一个基于组态王软件的变速器检测监控系统。阐述了系统的硬件结构和软件总体规划,在介绍使用组态网的数组字典定义变量的基础上,论述了软件中的核心模块一换挡控制模块的流程图和模块的详细设计过程。     

基于QPSO数据聚类的图像颜色分割

聚类算法在数据分析及数据挖掘等许多领域有广泛应用,在聚类方法中引入一种新的距离度量标准替代传统的Euclidean距离度量标准以提高其健壮性,并在此基础上提出基于粒子群算法(Particle Swarm Optimization,简称PSO)的聚类方法和基于量子行为的微粒群优化算法(Quantum-behaved Particle Swarm Optimization,简称QPSO)的聚类方法,然后将两种聚类方法应用于图像分割.实验结果表明,基于QPSO的聚类方法性能优于基于PSO的聚类方法.     

无线Mesh网GPS同步技术的研究

研究了时分、空分的无线Mesh网中通信节点之间的时隙同步问题的解决方案.传统的无线Mesh解决方案中使用全向天线加异步竞争信道的模式,节点之间的干扰随着网络规模的扩大而加剧,严重影响了通信效率.同步无现Mesh网引入时分和空分的机制,使通信节点在其预先分配到的时隙和对应方向的天线上进行通信,克服了全向、异步模式中的弊端,大大提高了通信效率.研究分析了同步Mesh网较异步Mesh网点优势和特点,以及同步精度对同步Mesh网性能的重要影响.设计并实现一种基于GPS秒脉冲的时隙同步算法,并在CPLD平台上实现该算法.     

基于直方图规定化的抗几何攻击数字水印算法

提出一种基于严格直方图规定化的抗几何攻击数字水印算法。该算法基于图像块信息熵与边缘检测结果,选择图像最大的平坦区域,利用严格直方图规定化将图像平坦区域的直方图规定化为特定形状,为了提高水印检测精度与嵌入图像的保真度,选择锯齿状直方图作为水印信息。实验表明,该算法嵌入水印后的图像具有很好的保真度,对几何攻击、噪声污染、JPEG压缩、线性和非线性滤波有较好的鲁棒性。     

轻型井点降水的施工工艺及应用

轻型井点降水是在需要降低地下水位的基坑一侧或四周埋设井点管插入透水层中,利用真空泵的压力把地下水抽出地面,从而使地下水位降低,达到施工目的。     

强化水利工程勘测设计质量管理的策略分析

水利工程勘测设计是指对水利工程项目进行具体设计和全面规划的过程,其是水利工程项目的核心。设计过程是工程项目能否顺利施工和投产运行,工程建成后能否获得预期的社会效益和经济效益的关键因素。笔者结合多年实践经验,先分析了水利工程勘测设计质量面临的现状和发展形势,继而提出了在水利水电行业强化勘测设计质量的具体策略。     

VLSI并行测试生成系统的一种动态层次框架

随着VLSI技术的发展和计算机性能的提高,并行测试生成系统不仅必需而且可行,本文在总结已有并行技术的基础上,提出了并行测试生成系统的一种动态层次框架,并给出了一种实现方案。     

一种能有效降低Memory BIST功耗的方法

随着系统芯片(SoC)上存储器比重的日趋增加和Memory BIST(memory built-inself-test)的广泛应用,对较低测试功耗的嵌入式Memory BIST的设计要求越来越高,因为测试功耗一般为系统正常工作时的两倍多,而过高的功耗会烧毁电路和降低芯片成品率.通过采用按时钟域划分存储器组和串并结合的方法来降低Memory BIST的测试功耗.实验仿真结果表明,用该方法所得的最大功耗只有传统方法的1/14,可见该方法能有效降低测试时的能量损耗.