首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   14篇
  免费   0篇
  国内免费   2篇
综合类   1篇
化学工业   1篇
建筑科学   1篇
轻工业   6篇
石油天然气   2篇
一般工业技术   2篇
原子能技术   1篇
自动化技术   2篇
  2024年   1篇
  2023年   3篇
  2022年   4篇
  2021年   1篇
  2018年   1篇
  2015年   2篇
  2014年   1篇
  2013年   1篇
  2012年   1篇
  2011年   1篇
排序方式: 共有16条查询结果,搜索用时 0 毫秒
11.
常规地面频域可控源电磁法采用单发射源,为获得较大探测深度需采用大收发距进行观测,这容易导致观测资料信噪比较低。为此,尝试在地面采用移动源,通过缩小收发距、采用不同偏移距的发射源进行观测,实现提高资料信噪比的目的,并通过综合利用几何测深与频率测深加大有效探测深度。结合典型一维层状模型,对地面移动源频率域电磁法与常规地面可控源电磁法的探测效果进行对比分析,结果表明移动源电磁法对常见的地电模型均有较好的探测效果,可弥补常规地面可控源电磁法对地下高阻层不敏感的缺点。对赣东北某矿区开展方法实验,数据处理结果验证了地面移动源电磁法对于解决实际问题的适用性。  相似文献   
12.
带有未建模动态的非线性系统的自适应动态面控制   总被引:1,自引:0,他引:1  
张天平  鲁瑶 《控制与决策》2012,27(3):335-342
针对一类带有未建模动态的非线性纯反馈系统,利用神经网络逼近能力,提出一种自适应动态面控制方案.通过在传统后推设计中引入一阶滤波器,避免了对虚拟控制反复求导而导致的计算复杂性问题.利用Young’s不等式和积分型李亚普诺夫函数,有效地减少了可调参数的数目,无需虚拟控制增益系数导数的信息.理论分析表明了闭环控制系统是半全局一致终结有界的.  相似文献   
13.
对常见的2种食品中铬元素的测定方法进行比较分析,测定方法分别为电感耦合等离子体质谱仪法(GB5009.268-2016《食品安全国家标准食品中多元素的测定》)和原子吸收石墨炉法(GB5009.123-2014《食品安全国家标准食品中铬的测定》)。以富铬奶粉和消渴麦片为样本,对2种检测方法进行比较,测定结果均在允许偏差之内,可满足检测要求,为保健食品中铬元素的检测提供相关数据依据。  相似文献   
14.
国家“十三·五”科技创新规划明确要求建立保障国家能源安全和战略利益的技术体系,加强“深海、深地、深空、深蓝”等领域的战略高技术部署,研发海洋可控源电磁系统、加快深海探测技术研发具有重要意义.首先介绍海底节点时频双域电磁采集系统工作原理,然后详细阐述了该系统的电磁传感器、数据采集站、声学系统及框架设计,并对整体采集性能进...  相似文献   
15.
为探究针织物基复合吸声材料在降低噪声方面的可应用性,通过制备聚乙烯醇纳米纤维膜与罗纹空气层织物复合材料,研究其吸声及其它基本性能,采用正交试验法对影响材料声学性能的因素进行分析,通过对实验数据进行极差分析,探究该材料可用于吸声的最佳参数。结果表明:复合材料吸声性能的影响因素从大到小依次为:覆膜情况、密度盘刻度、纱线种类;当密度盘刻度为2、毛/腈(50/50)混纺纱覆膜的情况下,复合材料的吸声效果达到最佳,平均吸声系数高于0.3,可用作吸声材料;聚乙烯醇纳米纤维膜的增加对织物吸声性能有很大改善;织物的吸声系数随着织物密度的增加而提高。  相似文献   
16.
为解决喷印OLED发光层制备中基板污点、涂布不均等问题引起的Mura缺陷,建立基于BGK-LBM(单松弛格子Boltzmann方法)的三维数值模型,对喷印OLED像素槽附近墨滴落点偏差引起的散点沉积缺陷进行仿真分析。先研究不同墨滴尺寸以不同撞击速度撞击不同接触角平板后的最大铺展半径,再以最大铺展半径为参考研究不同润湿性梯度下的像素槽外墨滴的铺展回流。结果表明:对于微米级直径的OLED喷印墨滴,尺寸越大、墨滴撞击速度越大、像素坑内接触角越小其最大铺展半径越大;而针对存在落点偏差的散点,当最大铺展半径大于或等于散点的落点偏差时,将在足够的像素槽基板内外接触角差值引起的润湿性梯度牵引下重新进入像素槽内;撞击速度还影响其回缩阶段的回缩速度,撞击速度越小回缩越慢,因而墨滴会存在受到润湿性梯度的影响而被牵引向润湿度高的一侧;只有当像素槽内外接触角造成的润湿性梯度足够时,在撞击铺展后边缘进入像素槽边界处的墨滴才能被牵引重新流入像素槽内,散点沉积缺陷即得到抑制。本文提出的最大铺展半径可以用来拓宽像素槽外墨滴的有效落点范围,作为喷印OLED制备中打印精度控制的参考,用于指导生产。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号