首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   299728篇
  免费   16948篇
  国内免费   8759篇
电工技术   12945篇
技术理论   14篇
综合类   11277篇
化学工业   44657篇
金属工艺   15419篇
机械仪表   14951篇
建筑科学   18154篇
矿业工程   5007篇
能源动力   8611篇
轻工业   18333篇
水利工程   3839篇
石油天然气   11509篇
武器工业   1360篇
无线电   40140篇
一般工业技术   46523篇
冶金工业   35266篇
原子能技术   3427篇
自动化技术   34003篇
  2024年   644篇
  2023年   3266篇
  2022年   5261篇
  2021年   8270篇
  2020年   6121篇
  2019年   5512篇
  2018年   6350篇
  2017年   7065篇
  2016年   6667篇
  2015年   8064篇
  2014年   10803篇
  2013年   16532篇
  2012年   14560篇
  2011年   17365篇
  2010年   14434篇
  2009年   14862篇
  2008年   14442篇
  2007年   14171篇
  2006年   14263篇
  2005年   12698篇
  2004年   9511篇
  2003年   8605篇
  2002年   7756篇
  2001年   7525篇
  2000年   7441篇
  1999年   8559篇
  1998年   14462篇
  1997年   10288篇
  1996年   8494篇
  1995年   6348篇
  1994年   5422篇
  1993年   4812篇
  1992年   3247篇
  1991年   2784篇
  1990年   2446篇
  1989年   2124篇
  1988年   1796篇
  1987年   1308篇
  1986年   1239篇
  1985年   1207篇
  1984年   991篇
  1983年   864篇
  1982年   833篇
  1981年   799篇
  1980年   678篇
  1979年   549篇
  1978年   461篇
  1977年   583篇
  1976年   1022篇
  1975年   326篇
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 343 毫秒
101.
102.
103.
104.
105.
Bochkareva  N. I.  Ivanov  A. M.  Klochkov  A. V.  Kogotkov  V. S.  Rebane  Yu. T.  Virko  M. V.  Shreter  Y. G. 《Semiconductors》2015,49(6):827-835
Semiconductors - It is shown that the emission efficiency and the 1/f noise level in light-emitting diodes with InGaN/GaN quantum wells correlate with how the differential resistance of a diode...  相似文献   
106.
以多晶硅锭中硬质点为研究对象,通过实验研究和数值模拟的方法,对多晶硅锭中硬质点进行形貌和成分分析,并提出改善控制方法。研究结果表明硅锭中部的硬质点较细小,主要由SiC组成;硅锭头部的硬质点较粗大,主要由SiC和Si3N4组成,还有少量O的存在。进一步研究发现多晶硅定向凝固铸锭炉的热场结构对于多晶硅锭硬质点形成有直接影响,通过改进热场结构,优化晶体生长界面,显著减少了铸锭中硬质点的数量。  相似文献   
107.
108.
研究改性剂(间苯二酚/六次亚甲基四胺共混物)用量对紫炭黑填充天然橡胶/顺丁橡胶并用胶性能的影响。结果表明:随着改性剂用量增大,胶料的硬度和定伸应力提高,拉伸强度、撕裂强度先下降后提高,阿克隆磨耗量先增大后减小;当改性剂/紫炭黑用量比为4%时,胶料的物理性能较好。添加改性剂可提高紫炭黑对胶料的补强作用,并在一定程度上改善胶料的热稳定性。  相似文献   
109.
110.
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号