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991.
992.
本文研究了PIIN的时,频响应特性,得到了它作为陷波器的最佳陷波条件,提出了利用环路损耗调节器性能,实现最佳陷波特性的方法,采用该方法使FORDL的陷波深度达到了65dB,同时,本文还研究限制FORDL最佳陷波特性实现的主要系统因素-相位感生的强度噪声(PIIN)给出其在单模条件下的频率特性,由此出发,分析了影响PIIN的几个因素,提出了抑制PIIN的三个途径:(1)采用极化控制器适当调节两个正交 相似文献
993.
通过增加分散剂松香的用量,提高了欧姆银浆的关键中间体材料银泥的质量稳定性。将压滤法应用于银泥洗涤工艺,既节省了设备投资,又避免了设备腐蚀。在欧姆银浆中掺入10%的活性铝粉,降低了浆料成本,而且增强了浆料的工艺适应性。表层银浆的配制采用辊轧工艺替代球磨工艺,并对有机载体进行了调整,提高了生产效率,改善了膜层光洁度。 相似文献
994.
固体激光器中尖峰调制的机理分析 总被引:1,自引:0,他引:1
建立了腔长调制的理论模型,通过线性化近似,导出光强调制深度近似解析解,解释了高频调制效果比低频调制好的实验现象,并且给出了确定调制参数的一般原则。 相似文献
995.
精密相位激光测距仪的设计 总被引:8,自引:0,他引:8
本文在论述了精密相位激光测距的理论依据的基础上,着重对系统设计中的误差进行了较为深入的分析与讨论,并据此提出了小型相位式激光测距仪的设计方案及相位鉴别与统计处理的方法,最后进一步给出了提高系统精度的修正措施。 相似文献
996.
997.
998.
999.
Xiang Lu S. Sundar Kumar Iyer Jin Lee Brian Doyle Zhineng Fan Paul K. Chu Chenming Hu Nathan W. Cheung 《Journal of Electronic Materials》1998,27(9):1059-1066
We have demonstrated feasibility to form silicon-on-insulator (SOI) substrates using plasma immersion ion implantation (PIII)
for both separation by implantation of oxygen and ion-cut. This high throughput technique can substantially lower the high
cost of SOI substrates due to the simpler implanter design as well as ease of maintenance. For separation by plasma implantation
of oxygen wafers, secondary ion mass spectrometry analysis and cross-sectional transmission electron micrographs show continuous
buried oxide formation under a single-crystal silicon overlayer with sharp Si/SiO2 interfaces after oxygen plasma implantation and high-temperature (1300°C) annealing. Ion-cut SOI wafer fabrication technique
is implemented for the first time using PIII. The hydrogen plasma can be optimized so that only one ion species is dominant
in concentration and there are minimal effects by other residual ions on the ion-cut process. The physical mechanism of hydrogen
induced silicon surface layer cleavage has been investigated. An ideal gas law model of the microcavity internal pressure
combined with a two-dimensional finite element fracture mechanics model is used to approximate the fracture driving force
which is sufficient to overcome the silicon fracture resistance. 相似文献
1000.
Noda K. Tatsumi T. Uchida T. Nakajima K. Miyamoto H. Chenming Hu 《Electron Devices, IEEE Transactions on》1998,45(4):809-814
A simple fabrication technology for delta-doped MOSFETs, named post-low-energy implanting selective epitaxy (PLISE) is presented. The PLISE technology needs no additional photo-lithography mask, deposition step or etching step even for CMOS devices. The only additional step is growing undoped epitaxial channel layers by UHV-CVD after the channel implantation. With this technology, delta-doped NMOSFETs with 0.1-μm gate length were successfully fabricated. By optimizing the epi-layer thickness and the channel doping level, short-channel effects are suppressed enough to achieve 0.1-μm gate length. Moreover, the junction capacitance at zero bias is reduced by 50% 相似文献