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991.
a-C:F:H薄膜的化学键结构 总被引:1,自引:0,他引:1
使用CF4和CH4为源气体,利用射频等离子体增强化学气相沉积法,制备了a-C:F:H薄膜样品.采用拉曼光谱仪、傅里叶变换红外光谱仪、X射线光电子能谱仪(XPS)对薄膜的结构进行了测试和分析.研究发现:该膜呈空间网状结构,膜内碳与氟、氢的结合主要以sp3形式存在,而sp2形式的含量相对较少;在薄膜内主要含有C-Fx(x=1,2,3)、C-C、C-H2、C-H3等以及不饱和C=C化学键;同时,薄膜中C-C-F键的含量比C-C-F2键的含量要高.在不同功率下沉积的薄膜,其化学键结构明显不同. 相似文献
992.
一种提高水玻璃砂溃散性的有效办法长安机器制造厂(重庆630023)刘育民我厂生产的铸钢件,采用水玻璃砂表面干燥型。为了提高水玻璃砂的湿强度,满足造型、制芯工艺性能的需要,曾在水玻璃砂中加入8%~9%的白坭(白泥实测胶质价为32%~34%,水分5%~8... 相似文献
993.
将LiTaO3压电陶瓷颗粒分别添加到Al2O3和Sialon结构陶瓷基体中,通过对复相陶瓷试样断口形貌和裂纹扩展路径的观察,研究了Al2O3和Sialon结构陶瓷基体中LiTaO3第二相的断裂行为。研究结果表明:Al2O3和Sialon陶瓷基体的断裂均为沿晶断裂,LiTaO3压电陶瓷颗粒的断裂为穿晶断裂,在LiTaO3第二相的断口上,观察到了许多断裂台阶,这些断裂台阶是由于试样断裂时,裂纹扩展过程中遇到LiTaO3晶粒内的90°电畴发生裂纹偏转和分支引起的。 相似文献
994.
对连轧材产生的表面缺陷(裂纹)进行了深入细致的调查工作,已查找其可能产生的原因.通过对缺陷产生主要原因的分析,提出了防止产生表面缺陷的措施. 相似文献
995.
NC Verification的研究现状及展望 总被引:7,自引:0,他引:7
先介绍了目前国内外NC Verification的研究现状,而后提出深入探讨的几个问题。 相似文献
996.
997.
998.
999.
美国犹他州伯林哈姆扬大学的研究员们发现,对低碳钢进行熔化极气体保护焊时,最佳的保护气体为80CO_2+20He。他们使用 ER70S—3焊丝,多种保护气体如 Ar 气、He 气、CO_2气及其混合而成的气体,对低碳钢进行了一系列焊接试验。对于污染和飞溅的数量、焊缝表面粗糙度、焊道形状,熔深、成本以及全部性能作了测定和评价,结论为:所有的保护气均能有效地防止焊缝污染。预先混合的98Ar—CO_2保护气体产生的飞溅最少。产生的飞溅量与混合气体中 CO_2的百分数成正比。将氦气混入 相似文献
1000.