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1.
职场对于毕业生专业能力不断地提出新的要求,高校对于编程语言课程的开设应该紧跟时代的步伐,不断地为社会提供专业素养高的人才,同时也能使学生更好地学以致用.从课程安排合理性问题的提出,采用德尔菲(Delphi)法确立评价体系,以及课程开设的建议等方面进行了全面的综述,以期能对相关研究提供借鉴和参考. 相似文献
2.
电容式电压互感器(CVT)内部存在绝缘缺陷时,其整体运行状态不会出现明显变化,但CVT频率响应特性会发生改变。为准确检测出CVT内部的绝缘缺陷,通过获取CVT宽频电压传递函数进行CVT绝缘缺陷故障检测。搭建了冲击电压试验平台,通过雷电冲击、操作冲击和振荡操作冲击3种冲击波形,研究了不同类型冲击电压波形下的CVT频率响应特性。研究结果表明,由3种不同类型冲击电压获取的CVT电压传递函数主要参数特征基本一致,在主电容充电电压相同的情况下,振荡操作冲击电压可以提高输出电压,高效地获取CVT宽频电压传递函数。通过对比不同绝缘缺陷条件下由振荡操作冲击电压获取CVT电压传递函数的差异,为利用冲击电压频率响应特性检测CVT内部绝缘缺陷提供了支撑。 相似文献
3.
为了提高DS-CDMA系统的容量,提出了一种基于高斯-赛德尔(Gauss-Seidel)迭代算法的空时多用户检测算法.针对高斯-赛德尔迭代算法容易引起的误差扩散,改进算法同时从正反两个方向进行串行干扰消除,并借助最大似然序列准则进行判决,有效地抑制了误差扩散的影响.仿真结果表明,改进算法具有更快的收敛速度和更优的误码性能. 相似文献
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8.
聚焦离子束(FIB)的透射电镜制样 总被引:4,自引:0,他引:4
亚微米IC芯片的发展,对于TEM在IC的失效分析和工艺监控过程中所担负的工作提出了越来越高的要求。许多方法和手段被用于解决TEM制样这个问题[1]。FIB技术被证明为现今最有效的精确定位制样的方法[2]。原有TEM制样技术的定位减薄难,单次制样成功率低,且对单一器件的定位能力差的难题,可通过电视监测和聚焦离子磨削的方法加以克服。利用这种技术,可以完成以往难以实现的IC芯片的精密定位制样工作,使透射电镜在亚微米级IC的分析中达到实用性阶段。本文介绍该技术使用的具体方法。实验过程实验所用设备为美国fei.公司所生产的FIB200型… 相似文献
9.
长春龙嘉国际机场T2航站楼平面呈人字形布局,主体为钢筋混凝土框架结构,屋盖采用四角锥网架结构,采用锥形柱支承。结合场地情况,对±0m标高以下的回填压实桩基础方案和地下架空桩基础方案两种方案进行对比,确定能减少桩的负摩阻效应的地下架空桩基础方案为最优方案。结合建筑特点,屋盖采用网架结构能较好地实现建筑造型,同时尽量控制各结构单元尺寸,以减弱行波效应对结构产生的扭转影响。结合出发大厅空间特点,采用索网幕墙的立面方案,使建筑立面更为简洁,采用有效措施解决了超长索网幕墙在结构变形缝处变形协调问题。 相似文献
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