基于衰减速率算法模型的压力容器裂纹缺陷剩余寿命与安全裕度

疲劳裂纹是引发压力容器安全失效的主要原因,然而传统压力容器安全评定方法未考虑裂纹缺陷安全衰减过程的时变性,因此对裂纹缺陷的安全裕度表征方式存在缺陷。为此,本文通过力学公式推导、裂纹实验仿真与裂纹疲劳扩展实验相结合的方式研究了压力容器表面裂纹缺陷在疲劳断裂过程中的深长尺寸扩展规律,探索了裂纹缺陷在疲劳载荷作用下的安全衰减过程,结合安全衰减路径理论的基本思想,利用裂纹缺陷在失效过程中沿安全衰减时变路径的变化趋势来定义裂纹缺陷的疲劳失效速率,通过建立安全衰减时变路径与安全衰减速率之间的瞬态数学关系式,得到了裂纹缺陷安全衰减速率表征模型,并据此构建了曲线积分形式的裂纹缺陷剩余寿命计算模型与安全裕度表征模型。实验结果表明,本文所提寿命预测模型计算结果与裂纹缺陷的实际剩余寿命十分接近。裂纹缺陷的剩余寿命维持在总寿命的50%以上时,所提方法的安全裕度下降速率较为缓慢;而当裂纹缺陷的剩余寿命处于总寿命的50%以下时,安全裕度的下降速率会迅速增加。这种安全裕度表征方式不仅与裂纹缺陷的疲劳扩展规律一致,而且比传统方法更加符合裂纹缺陷的实际安全衰减过程、更有利于安全检测人员对临近失效裂纹缺陷进行识别与检测。     

列车车底智能检测系统的应用与研究

针对人工检测动车组故障时,存在人员检修压力过大、检修能力不足的问题,设计了一种运用机器人+视觉识别技术的列车车底智能检测系统。详细阐述了列车车底智能检测系统的总体架构、检测流程和关键技术,以期能够促进列车车底智能检测系统的进一步推广应用。     

不同食品加工方式对食物过敏原蛋白的影响

食物过敏是一个全球化的公共卫生和食品安全问题,通过食品加工来消除或减轻食物过敏原蛋白的致敏性,一直是食品科学领域的研究热点。文章介绍了3种热加工技术(湿热加工、干热加工、微波加工)和6种非热加工技术(超高压技术、超声波技术、低温等离子体技术、辐照技术、微生物发酵技术和酶交联技术)对食物过敏原蛋白致敏性的影响,期望为研发低致敏性或脱敏食品提供一定的借鉴和参考,以破解食物过敏人群膳食受限的困扰。     

基于EIGA-PKPLS的电解铝制造系统特征提取方法

针对电解铝工艺制造系统中影响参数多、特征冗余的问题,该文提出一种结合精英免疫遗传算法与聚合核偏最小二乘法(elite immune genetic algorithm-polymerize kernels partial least squares,EIGA-PKPLS)的电解铝制造系统特征提取方法.该算法首先提出聚合...     

摩托车发动机性能的微机群测群控系统

本文介绍了一个用模块化开放性思想设计的“摩托车发动机性能微机群测群控系统”。该系统由五个微电脑检测系统组成,并用一台系统实施总控管理。其最大的特点是,每个微电脑检测子系统既可联机工作,也可自由脱机工作。本文主要讨论了该系统的工作原理,并详细阐述了系统硬件和软件的设计思想。     

氯乙酸间歇生产过程中控制方案的若干改进措施

某厂1999年底建成的年产万吨氯乙酸生产装置采用了自动控制系统。本文在对该自动控制系统进行全面分析之后，针对其结晶釜温度控制方案提出了具体的改进措施,即将原系统使用的预热水罐更换为体积大小合理的预热水槽，并按过程控制原理对预热水槽施加 一定的控制方案，以降低结晶釜夹套的进水预热过程和釜内温度控制过程的耦合度，提高氯乙酸结晶工序的控制性能。     

双密封结构泄漏过程浅析

用氦质谱加压真空法检测双密封结构产品漏率时,常有"缓慢升高"现象的发生,必需解决这一读数困难的问题.建立了双密封结构泄漏过程的数学模型,从而在理论上解释了此类现象发生的原因,并编制程序后对一些具体结构进行了分析计算.这对确定检漏时间和相应的数据处理方法有一定的指导意义.     

基于RFID的酒类产品防伪架构设计与研究

对现有酒类防伪技术存在的缺陷进行分析,提出可利用射频识别技术来解决目前防伪技术存在的问题。设计了一种基于射频识别技术的酒类产品防伪架构,主要从酒类EPC标签的功能模块与数据信息、RFID防伪识别器和酒类产品全生命周期追踪的设计来搭建RFID防伪体系,并通过Sense-1864E读写器进行防伪识别器的演示实验,验证了其可行性。     

PZN-9PT单晶生长及电学性能研究

弛豫铁电单晶是目前电子材料研究的热点,而制备技术是解决该材料应用的关键.为了考察PZN-9PT晶体的生长形态、结构和性能,本文采用高温溶液法生长了PZN-9PT单晶,采用XRD表征了其相结构,采用相关电学性能测试方法表征了其介电、压电、电滞回线和机电耦合系数等电学性能.研究结果表明,采用高温溶液法可以制备出纯钙钛矿结构的PZN-9PT单晶,晶体呈淡黄色多面体形态,其三方-四方相转变温度为89℃,居里温度为175℃,[110]切型PZN-9PT单晶的压电常数为339 pC/N,矫顽场为8.7 kV/cm.     

电场下[001]cub切型弛豫铁电单晶PMN-32PT电畴的极化反转

为研究弛豫铁电单晶PMN-32PT电畴在电场下的极化反转,利用偏光显微镜研究了电场下[001]_(cub)切型PMN-32PT单晶电畴组态的变化,建立了极化反转模型.在[001]_(cub)单晶切片中,当电场强度达到4kV/cm时,电畴开始极化反转,出现平行于电场方向的畴壁,畴壁沿垂直自身的方向运动,畴壁的运动实际是畴的横向扩张;当电场强度增至6kV/cm时,畴壁消失,又出现垂直于电场方向的新畴壁;而电场强度进一步增至10kV/cm时,新畴壁也消失,且电畴消光,这表明多畴已单畴化.