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基于EXFS的物理机制,我们用EXAFS研究多元物质中任一组元临近结构时,首先由测定的吸收谱求出精细结构函数X(k),根据X(k)确定结构参数.这种方法在结构研究中有其独到之处,本文根据"短程序理论"所构造的物理模型,对用透射法的结果的处理方法进行了深入讨论. 相似文献
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采用高灵敏度的micro-Raman系统研究了多孔硅(PS)在纵向的Raman效应,并研究了多孔硅尺寸对Raman谱的影响.实验中采用脉冲电化学腐蚀和直流电化学腐蚀两种方法制备PS样品,纵向Raman光谱的结果表明,在纵向不同深度,用脉冲电化学腐蚀方法制备的PS,Raman光谱不存在频移,而用直流电化学腐蚀方法制备的PS在多孔层深度为70～90μm处的Raman光谱有向低波数方向约40 cm-1的移动,它是由于常规电化学腐蚀方法制备的PS不同深度的尺寸分布对量子效率的影响引起的. 相似文献
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报道了对多孔硅进行后处理的一种新方法 ,即真空中微波等离子体辅助的硫钝化处理 .傅里叶变换红外谱表明 ,经处理的样品表面主要是被SiSx 和SiOy 所覆盖 ,与未经处理的样品相比 ,其发光强度增加约 3 5倍 ,PL峰蓝移了 40nm ,而且在空气条件下存放 6 0d后发光强度没有变化 .表明这种方法是增加多孔硅发光强度和提高稳定性的有效方法之一 . 相似文献