A MICROBEAM SYSTEM OF HIGH ENERGY IONS AT FUDAN UNIVERSITY

Particle induced X- ray emission (PIXE) and Rutherford backscattering spectrometry (RBS) have been used extensively for analytical purpose because of their quantitative accuracy, reliability, simplicity and capability of non- destructive and multielement analysis. When these techniques are combined with a scanning microbeam system and a data acquisition system, three dimensional distribution of elemental composition can be displayed. Samples analyzed so far at Fudan University include a microelectronic circuit and some biological and archaeological samples. The PIXE and RBS spectra and the secondary electron images have been measured.     

THE USE OF MeV PROTON NON-RUTHERFORD ELASTIC BACKSCATTERING FOR THE ANALYSIS OF LOW Z ELEMENTS

The MeV proton non- Rutherford elastic backscattering (PEBS) has been used to measure a variety of low Z element- containing samples including thick SiC film, N implanted stainless steel, thin films interface (Ag on Cu) and very deep (4μ m) SOI structure by high energy oxygen implantation. It is demonstrated that by using the significant enhancement of cross sections for low Z elements and selecting the proper energy region of the excitation curves both the sensitivities for detecting low Z elements and the accessible depth of the PEBS technique are remarkablely improved over the ordinary RBS method. The disadvantages of the PEBS as compared with RBS as well as high energy He elastic backscattering (HeEBS) are also discussed.     

第九次国际离子束分析会议简介

第九次国际离子束分析会议于1989年6月26至30日在加拿大金斯敦的皇后大学召开,来自20余国300多位代表参加会议。本次会议采取了与以往历次会议不同的形式:把一个大会场分成以四个小会场为主的模式。 一、会议重点     

离子束分析进展

1983年在美国亚里桑那州州立大学召开了第六届国际离子束分析会议。这次会议的侧重方向是低能离子散射。近年来,由于超高真空技术、高速计算机、飞行时间方法、离子源等技术的发展和应用,散射截面、射程、阻止本领等各种基本参数的精确化,促进了低能离子散射技术的发展,使它成为表面结构分析中的重要手段。必须指出,上述多方面技术的进步所产生的影响,不仅仅局限于低能离子散射,而是遍及离子束分析的整个领域。     

节能减排关键在节能意识

叙述了节能减排是挖掘能源的最有效途径,建筑节能的空间很大;指出,实现节能不仅仅在于节能技术,关键在于提高国民的节能意识.     

1－6MeV的~7Li离子在固体C、Al、Cu、Ag、Au和Pb薄膜中的阻止本领

报道了１—６ＭｅＶ的７Ｌｉ离子在固体Ｃ、Ａｌ、Ｃｕ、Ａｇ、Ａｕ和Ｐｂ薄膜中的阻止本领的测量结果。数据误差小于６％。     

A PIXE METHOD TO STUDY BIOLOGY AT THE DNA LEVEL

An external proton beam system with a detection sensitivity of 10 g for ruthenium was used to study DNA. A metal- organic compound tris (4,7- diphenylphenanthroline) ruthenium (Ⅱ) [Ru(DiP)32-] was chosen as a metal marker. The target DNA labeled with Ru (DiP)32- was electrophoresed in an agarose gel and then was analysed by PIXE. The DNA sample with the metal marker showed clearly Ru peaks in the PIXE spectra, while the control showed no Ru peak at all. This method can be used to study biology at the DNA level.     

复旦大学的3MV串列静电加速器(英文)

一台美国国家静电公司(NEC)制造的、端电压为3MV的9SDH-2型串列加速器于1987年在复旦大学安装并投入运行。本文叙述了机器本身以及在第一年运转中所出现的问题和经验。加速器建立了三条束流管线:一条是超高真空靶室系统,用它已进行了Al(100)清洁表面的研究;另一条是微米束系统,已能提供2μm的质子束;第三条为通用束线,已用它研究了~(56)Fe的核共振对KX射线产额的影响。目前,在该束线上还进行离子束分析,如用8.8MeV He~(++)进行高Tc超导体非卢瑟福散射实验等。     

离子束分析进展——介绍第六届国际离子束分析会议

第六届国际离子束分析会议于1983年5月23日至27日在美国凤凰城附近的亚里桑那州州立大学召开,由该校物理系主办。主办单位必须提出一个“这次会议的主导方向”或“侧重方向”。 这次会议的主办单位提出的侧重方向是:低能离子散射。必须指出,在离子束分析领域中的“低能、中能、高能”与原子核物理或粒子物理中相应的概念大不相同。在这里,低能是指离子的能量低于约10keV,中能是指10～1000keV,高能则是指MeV量级的离子束。     

大学教育要适应知识更新

新时期知识的更新非常快,现在的大学生学到的知识,4年下来有一半是旧的,所以高校要使学生知识而更宽。传播知识在新世纪到来时会变得不太重要,重要的是让学生学会如何做人,如何思考问题。因此,高等教育的关键是培养学生的创造力。中国人很聪明,关键是怎样开发出来。教师的职责第一是教学生怎样做人;第二是教他们怎样思考同历;第三才是传授知识。知识更新特别快的另一个后果是要“终生受教育”,活到老学石老。大学教育要适应知识更新@杨福家$复旦大学