几种线连接耦合损耗因子的计算

根据直线连接耦合损耗因子的计算理论,推导出了折线连接、弧线连接、任意曲线连接耦合损耗因子的计算公式。通过数值仿真,建立了直线连接、折线连接、弧线连接和任意曲线连接耦合系统模型,并对这4种形式连接的耦合损耗因子进行了数值计算。建立了轿车统计能量分析模型,并对轿车各个相邻子系统进行耦合,算出了轿车各子系统间线连接耦合损耗因子。     

一种网络休闲游戏模型和协议的实现

在分析常见的网络游戏模型的基础上,提出了一种适合于网络休闲游戏的服务器组模型,并基于客户端设计了一种网络休闲游戏的游戏协议,最后给出了协议的实现方案。     

激光位移监测系统研制

简要介绍了激光位移监测系统的测量原理,提出了激光位移监测系统在滑坡监测应用中的技术方法;在此基础上讨论了激光位移监测系统的组成,根据滑坡监测的实际情况,进行了激光位移监测系统的模拟试验,并对模拟试验的结果进行了适当的分析。实验结果表明,激光位移监测系统适合于监测大型滑坡的地表位移和变形。     

图形协处理器SM501在视频系统中的应用

以一个包括SM501的嵌入式视频系统为实例,根据系统要求设计了该芯片的硬件电路,并讨论了图形协处理器SM501的图形显示和硬件加速功能,给出了详细的电路原理图和SM501的驱动程序.实验结果表明,多媒体图形协处理器通过和高性能的嵌入处理器相结合,可以达到同个人电脑水平相当的强大显示功能.对嵌入式系统中的图形显示应用设计有一定借鉴意义.     

基于谱聚类的高分辨率全色遥感影像分割

为了协调高分辨率全色遥感影像区域和边界的最优分割,提出了一种基于像素邻域和光谱特征的谱聚类高分辨率全色遥感影像分割方法。该算法重点着手于构建影像图模型,在其中引入像素邻域作用并充分顾及像素光谱测度差异。假定邻域像素具有连接关系,并在此基础上构建影像连接矩阵,再考虑像素光谱测度差异的影响建模像素间相似性,最终结合像素连接性和相似度构建影像权值矩阵完成图模型建立;而后在图模型的基础上,采用对权值矩阵特征分解并就分解结果进行选择的方式将影像数据变至低维特征空间,进而对获取的新数据执行FCM聚类算法达到影像分割目的。为了验证提出算法的有效性,分别对模拟影像和高分辨率全色遥感影像进行分割实验,定性、定量的评价结果表明了该算法的可行性与优越性。     

复杂薄壁结构钎焊接头的超声Lamb检测

薄板钎焊结构具有变形小、质量轻等优点而具有广阔的应用前景,但未钎透等焊接缺陷的存在严重影响薄壁钎焊结构的使用安全。针对常规超声很难实现薄壁结构钎焊接头焊接缺陷定位、定量的问题,采用可变角度探头激发出不同模式的Lamb波对模拟试块和焊接接头进行检测。试验结果表明,槽类模拟试块最佳检测模式为A_0模式,实际钎焊结构的最佳模式为A_1模式。分析了出现这种现象的原因并通过试验进行了验证。     

反相液相色谱法测定二硫化硫醇基苯并噻唑的纯度

介绍了反相液相色谱法定量分析橡胶硫化促进剂二硫化硫醇基苯并噻唑的纯度分析方法。用 HP1100型高效液相色谱仪,ZORBAX RX-C18(250 mm×4.6 mm,5μm)色谱柱,流动相 V(甲醇):V(水)=3:1,λ=280 nm,流速1.0 mL/min,柱温25℃,对二硫化硫醇基苯并噻唑纯度进行定量测定。该法重复性好,相对标准偏差为0.11%,标准回收率在99.8%～100.2%,定量结果准确度高。     

可变类谱聚类遥感影像分割

为实现遥感影像分割中类别数的准确、自动判别,提出了一种可变类谱聚类算法.根据影像的相似图构建权值矩阵和标准Laplacians矩阵,计算Laplacians矩阵较小特征值对应的特征向量生成特征向量矩阵,并视其与像素对应的向量行为像素特征点集;研究Laplacians矩阵处于不同（近似）块对角结构时类属同一目标类像素特征点的聚集性,定义聚类度指标,计算不同分割类别数对应聚类度;选择聚类度将发生最后一次较大跳变时的分割类别数作为算法估计类别数,并采用FCM（Fuzzy C-Means）算法划分该类别数对应像素特征点集实现影像分割.分别采用提出算法和基于特征间隙的算法分割合成及真实遥感影像.实验结果表明提出算法可准确地判别影像类别数.     

FBAR用氮化铝压电薄膜研究

介绍了FBAR用复合氮化铝(AlN)压电薄膜的制作方法。采用双S枪中频(40 kHz)磁控反应性溅射铝靶制作出了AlN压电薄膜。采用双S枪直流(DC)磁控溅射钼(Mo)靶制作出了Mo电极薄膜。对AlN压电薄膜、Mo电极薄膜进行了X线衍射(XRD)分析,结果表明,AlN压电薄膜(002)面、Mo薄膜(110)面择优取向优良。对4″Si基AlN压电薄膜进行了膜厚测试,结果表明,其膜厚均匀性优于±0.5%。对4″Si基AlN压电薄膜、Mo薄膜进行了应力测试,结果表明,其应力分别在-100~+100 MPa及-150~+220 MPa;对4″Si基Mo/AlN/Mo/AlN复合压电薄膜应力进行了应力测试,结果表明,其应力低达-71.518 5 MPa。对4″Si基AlN压电薄膜进行了化学成分分析,结果表明,其Al∶N原子比为51.8∶48.2。     

基于剥离工艺的晶圆材料表面形貌表征

压电晶圆表面形貌特征参数是影响光刻剥离工艺及器件批生产成品的关键技术基础。基于声表面波(SAW)器件剥离工艺,该文提出并量化了晶圆材料表面形貌表征参数体系:翘曲度(BOW)、平坦度(GBIR)、小区平坦度(SBIR)、小区平坦度合格率(PLTV)等,并给出了晶圆材料表面形貌表征参数的测试方法及对光刻工艺参数的影响。