一种宽带纵振换能器

介绍一种宽带纵振换能器,利用换能器的纵振模态和前盖板弯曲振动模态的耦合,使发射电压响应-3dB带宽达到了一个倍频程.     

高温退火对反应溅射制备的a-SiC:H薄膜结构的影响

通过红外透射谱、拉曼散射谱和X射线衍射谱的测量,研究了反应溅射制备的氢化非晶硅碳膜（SP-a-SiC：H）高温退人处理后的结构变化。发现在等时退火的情况下,退火温度对薄膜结构影响明显,H原子的逸出温度与键合有关,H从CH_n中逸出要比从SiH_n键中追出需要更高的温度,样品经800℃退火后,a－SiC：H膜转化为μc－SiC膜     

纳米粉预处理的CVD金刚石薄膜成核与生长研究

研究了纳米金刚石粉预处理的光滑硅衬底上CVD金刚石薄膜的成核与生长．通过与研磨处理样品相比较,纳米金刚石的预处理极大地提高了成核密度（可达10⁹／cm²）、成核速度与成膜质量,并能方便地进行成核密度的控制,是一种经济实用、简单有效的预处理方法．     

智能变电站智能终端自动测试仪设计

电力行业缺少针对智能终端的专业测试设备,现有测试系统庞杂、配置繁琐、接换线多、数据处理繁杂、误差点多,制约了测试机构的检测效率和质量。为解决现有测试系统的弊端,实现智能终端的闭环自动测试、简化测试系统、提高测试能力和效率,研制一种智能终端自动测试仪。通过接口及配置规范化,在开始测试前一次性完成所有接线和配置,实现测试中零接换线。通过回路自动切换技术,对测试回路进行预设计,在测试中根据不同项目要求进行回路自动切换和构建,实现自动测试和零换线。通过检测过程透明显示技术,实现测试结果的实时处理和显示,方便结果分析和判定。通过试验验证和工程应用,证明智能终端自动测试仪的精度和抗干扰能力满足标准要求,自动测试能力和效率相对传统方法明显提高,满足应用需求。     

基于热敏电阻的多通道高精度温度测量系统

以负温度系数热敏电阻为核心器件设计了多通道高精度温度测量系统.用改进的电压测量电路间接测量热敏电阻的阻值,有效地克服了电压源的干扰,测量精度高,测量分辨率可达0.01℃,测温准确度可达±0.1℃;并且该电路结构简单,成本低、功耗小、体积小,具有很高的实用价值,可用于需要精密测温的系统,如热导率测量仪的温度测量中.     

IEC拟成立多媒体技术委员会

IEC将在年内成立拟称为“声音、图形、多媒体系统与设备技术委员会——TC100。该委员会将由现有的SC12A(接收设备分委会)、TC60(记录系统技术委员会)和TC84(声频、视频、视像工程设备与系统技术委员会)三机构合并组成。 TC100工作范围包括:一般用途与专门用途的声频、视频、数据等信号的调制设备和系     

用Van der Pauw法研究硼重掺杂金刚石薄膜电学性质

以B2O3作掺杂剂，用热丝辅助化学气相沉积法成功合成了硼掺杂半导体金刚石薄膜．用VanderPauw法测量了掺硼金刚石薄膜的电阻率、霍耳迁移率以及载流子浓度随温度的变化关系．实验结果表明：杂质硼原子的激活能为0．078eV，室温迁移率为18cm2·V－1·s－1，远小于单晶金刚石的空穴迁移率．并根据实验结果对金刚石薄膜的导电机制、散射机制等作了分析．     

美国认证机构认可委员会工作近况

美国认证机构认可委员会工作近况陈光华编译美国认证机构认可委员会（ＲＡＢ）成立于１９８９年１１月，是美国质量管理协会（ＡＳＱＣ）的独立的分支机构，设在ＡＳＱＣ总部内。它不以盈利为目的，日常开支靠其业务收入维持。ＲＡＢ的业务范围包括；认证机构的认可，审核...     

氮化硼薄膜在退火相变中的应力研究

利用射频溅射系统在P型Si（100）衬底上制备氮化硼薄膜。对其进行600～1000℃的常压下N2保护退火。通过傅立叶变换红外谱（FTIR）分析，发现hBN-cBN-hBN的可逆相变。通过不同温度退火后立方相横光学振动模式峰位的移动，计算了氮化硼薄膜中残余应力的变化。发现沉积后退火很好地解决了高立方相氮化硼薄膜应力释放的问题，可提高立方氮化硼薄膜在硅衬底上的粘附性。并且探索性地讨论在退火过程中c-BN成核、生长与薄膜中应力变化的关系。