全文获取类型
收费全文 | 123518篇 |
免费 | 11820篇 |
国内免费 | 7620篇 |
专业分类
电工技术 | 9004篇 |
技术理论 | 8篇 |
综合类 | 9578篇 |
化学工业 | 18211篇 |
金属工艺 | 8036篇 |
机械仪表 | 8433篇 |
建筑科学 | 9964篇 |
矿业工程 | 3942篇 |
能源动力 | 3858篇 |
轻工业 | 8637篇 |
水利工程 | 2935篇 |
石油天然气 | 6334篇 |
武器工业 | 1432篇 |
无线电 | 14522篇 |
一般工业技术 | 13280篇 |
冶金工业 | 5173篇 |
原子能技术 | 1764篇 |
自动化技术 | 17847篇 |
出版年
2024年 | 554篇 |
2023年 | 1767篇 |
2022年 | 3372篇 |
2021年 | 4881篇 |
2020年 | 3686篇 |
2019年 | 3085篇 |
2018年 | 3372篇 |
2017年 | 3877篇 |
2016年 | 3579篇 |
2015年 | 5174篇 |
2014年 | 6543篇 |
2013年 | 7787篇 |
2012年 | 8926篇 |
2011年 | 9776篇 |
2010年 | 9088篇 |
2009年 | 8689篇 |
2008年 | 8706篇 |
2007年 | 8416篇 |
2006年 | 8005篇 |
2005年 | 6449篇 |
2004年 | 4630篇 |
2003年 | 3845篇 |
2002年 | 3710篇 |
2001年 | 3125篇 |
2000年 | 2619篇 |
1999年 | 2139篇 |
1998年 | 1418篇 |
1997年 | 1151篇 |
1996年 | 997篇 |
1995年 | 831篇 |
1994年 | 659篇 |
1993年 | 486篇 |
1992年 | 356篇 |
1991年 | 266篇 |
1990年 | 205篇 |
1989年 | 159篇 |
1988年 | 130篇 |
1987年 | 97篇 |
1986年 | 83篇 |
1985年 | 52篇 |
1984年 | 48篇 |
1983年 | 41篇 |
1982年 | 29篇 |
1981年 | 28篇 |
1980年 | 27篇 |
1979年 | 17篇 |
1978年 | 7篇 |
1977年 | 9篇 |
1959年 | 19篇 |
1951年 | 9篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 13 毫秒
71.
Calculation of Mass Attenuation Coefficients of Beta Particles 总被引:1,自引:0,他引:1
Yi C.Y.; Han H.S.; Cho W.K.; Park U.J.; Jun J.S.; Chai H.S. 《Radiation protection dosimetry》1998,78(3):221-229
72.
镀铜/镍聚丙烯腈纤维填充复合材料电磁波屏蔽性能的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
研究了镀铜/镍的聚丙烯腈纤维填充ABS树脂制得的复合材料的导电性及电磁波屏蔽性能,复合材料的导电性主要与导电纤维的填加量有关,导电纤维与基体树脂间的相容状况、复合加工时某些工艺条件等对复合材料的导电性也有较大的影响,电磁波屏蔽性能随导电纤维填加量的增加而提高,加入适当的偶联剂有助于改善和复合材料的电磁波屏蔽性能。 相似文献
73.
GaN的MOVPE生长和m-i-n型蓝光LED的试制 总被引:1,自引:0,他引:1
利用自行研制的常压MOVPE设备和全部国产MO源,采用低温生长缓冲层技术,在蓝宝石(α-Al2O3)衬底上获得了高质量的GaN外延层。未掺杂的GaN外延层的室温电子迁移率已达114cm2/V.s,载流于浓度为2×1018。77K光致发光谱近带边发射峰波长为365nm,其线宽为4DmeV。X射线双晶衍射回摆曲线的线宽为360arcsec。用Zn掺杂生长了绝缘的i-GaN层。在此基础上研制了m-i-n型GaN的LED,并在室温正向偏压下发出波长为455nm的蓝光。 相似文献
74.
An elastic half plane with an oblique edge crack is considered in this paper. A pair of concentrated forces or point dislocations is assumed to act at an arbitrary point in the half plane. The half plane with an edge crack is first mapped into a unit circle by a rational mapping function so that the following analysis can be carried out on the mapped plane analytically. Then the complex stress functions are derived by separating the whole problem into two parts; one is the principal part corresponding to the infinite plane acted on by concentrated forces or dislocations, the other is the holomorphic part, which can be determined by making use of the property of regularity of complex stress functions. The stress intensity factors of the crack can be calculated with different inclined angles of the crack, and the displacement and stress components at an arbitrary position in the half plane can be expressed explicitly. 相似文献
75.
介绍了调剖剂XJF的配方,讨论了影响调剖剂性能的配方因素(膨润土含量、HPAM溶液浓度、XJ用量及添加剂Fc的浓度),考察了封堵能力和应用范围,简介了在火烧山油田现场试验的结果。 相似文献
76.
双相位码是数据串行通信和记录中使用的一种编码方法。在集散控制系统中使用的磁带机和飞行数据记录器中得到广泛应用。本文主要介绍双相位码的编码、译码原理及双相位码的特点;重点论述双相位码的编码和译码过程在微机上的实现。工程实践和实验表明,用微机实现双相位码的编码和译码过程是切实可行的。试用在TDC-2000集散控制系统中获得了圆满成功。 相似文献
77.
桐油改性酚醛树脂的结构及固化过程的研究 总被引:8,自引:0,他引:8
通过桐油与苯酚在酸性催化剂存在下反应,然后再在碱性催化剂存在与甲醛反应制得了一种热固性桐油改性酚醛树脂。利用红外光谱,差示扫描量热法分析技术对改性树脂的结构及固化反应过程进行了研究。 相似文献
78.
79.
In conformity with the principle of Design for Manufacture,feature-based design strate-(?)es have been developed.As the“feature”is relevant to the“macro process plan”and“macro NCprograms”,obviously,“feature”is beyond the power of conventional solid modellers.Neverthe-less,substantial breakthrough has not been made in the solid modeling field,except“feature at-taching”or“feature recognizing”methods have been taken on.In this paper,the theory,concepts,system architecture,and algorithm principles of solid modeling tool system have beenrepresented.The practice of Feature Solid Modeling Tool System (FSMTS) developed atHuazhong University has proved that the tool may be a new foundation of Feature-Based Design. 相似文献
80.
Embedded deterministic test for low-cost manufacturing 总被引:1,自引:0,他引:1
Rajski J. Kassab M. Mukherjee N. Tamarapalli N. Tyszer J. Jun Qian 《Design & Test of Computers, IEEE》2003,20(5):58-66
You have probably heard that BIST takes too long and its fault coverage is low, and that deterministic test requires too many patterns. This article shows how on-chip compression and decompression techniques provide high fault coverage with low test times. 相似文献