低合金高强耐磨钢中部槽机器人焊接工艺研究

文中以中部槽用Hardox450低合金高强钢与ZG30SiMn钢为焊接材料,分别采用手工和机器人MAG焊接方式进行了模拟焊接,通过超声波探伤、显微组织观察和力学性能测试等方法对低合金高强耐磨钢中部槽机器人焊接工艺进行了研究。结果表明:采用预热温度为200℃,层间温度控制在150℃左右和焊后缓冷工艺进行机器人MAG焊接,其接头力学性能达到中部槽力学性能指标设计要求。与手工焊接相比,利用机器人进行中部槽焊接时,其打底焊和填充焊时的热输入较大,但盖面焊的热输入较小,焊接生产效率明显高于手工焊接的。机器人焊接热输入波动范围小于手工焊接的,其焊接产品质量稳定性优于手工焊接的。     

刮板输送机链轮制造工艺研究与改进

介绍了链轮制造工艺的发展,对现有的几种链轮制造工艺方法做了研究,针对现有制造工艺存在的加工量大、加工难度大的问题,提出了将链轮齿形直接锻造成型的工艺方法。通过验证,改进后的工艺能大幅降低链轮的制造成本,具有很好的推广意义。     

全熔敷中部槽的研究及应用

中部槽作为刮板输送机的关键部件,其平稳运行是保证高产、高效煤炭开采的重要因素。为解决中部槽因磨损失效造成使用寿命短的问题,采用熔敷技术对磨损的中部槽进行耐磨强化处理。通过井下工业性试验验证了方案的可行性和有效性,能显著提高中部槽耐磨性能,有效延长其使用寿命。     

四川省化学工业研究设计院取得质量管理体系认证证书

四川省化学工业研究设计院于今年5月2 6—2 8日通过了方圆标志认证中心四川分中心质量管理体系认证审核。并于7月7日取得了认证证书,证书号为:0 2 0 4Q1330 9ROM。该认证体系覆盖的产品及其过程有:三唑酮(包括原药、2 0 %乳油和15 %可湿性粉剂)、杀螺胺乙醇胺盐(包括原药、5 0 %可湿性粉剂)、杀螺胺(2 5 %乳油)的生产;乙羧氟草醚、烯效唑系列产品的开发。该体系还涉及该院院办公室、企业管理部、人力资源部、研发中心、采购供应部、农化营销部、进口部等部门和双流试验厂等。该体系共编制作业文件近80个,建立记录2 6 6处,使体系覆盖范围的…     

高职实践教学过程中学生成绩评价新探

实践教学是高职教育的重要组成部分,学生成绩评价是实践教学改革的关键环节之一。学生的学业评价不仅要为学生排名次、做总结,还要具备形成、反思、激励和改进的功能。从目前高职实践教学的实际情况出发,分析了学生成绩评价的研究现状,并对实践教学的学生成绩评价提出了科学合理的建议。     

WZO薄膜生长及氧流量对其特性的影响

采用直流脉冲反应磁控溅射方法生长W掺杂ZnO(ZnO:W,即WZO)透明导电氧化物(TCO)薄膜并研究了氧气流量对薄膜微观结构、组分、表面形貌以及光电性能的影响。实验结果表明,WZO薄膜具有良好的(002)晶面择优取向生长,且适当的氧气流量是制备优质WZO薄膜的关键因素。WZO薄膜表面形貌受薄膜结晶质量的影响。当氧气流量为2.08×10-7 m3/s时,WZO薄膜在400～1 500nm透过率达到84.5%,电阻率为4.61×10-3Ω.cm,迁移率为20.5cm2v-1s-1。XPS测试表明WZO薄膜中Zn和W均处于氧化态,其中W元素呈现W6+价态。     

一种聚类分析驱动种子调度的模糊测试方法

作为当前被广泛应用的自动化软件测试技术,模糊测试的首要目标是尽可能多地探索被测程序的代码区域以达到更高的覆盖率,从而检测出更多的漏洞或者错误.现有的模糊测试方法大多是根据种子的历史突变数据来调度种子,实现起来较简单,但忽略了种子所探索程序空间的分布情况,导致测试工作可能会陷入只对程序的某单一区域进行探测,造成测试资源的浪费.本文提出了一种基于聚类分析驱动种子调度的模糊测试方法Cluzz.首先,Cluzz结合种子执行路径覆盖的分布来分析种子在特征空间上的区别,使用聚类分析对种子在程序空间中的执行分布情况进行划分.然后,根据不同种子簇群的路径覆盖模式与聚类分析结果对种子进行优先级评估,探索稀有代码区域并优先调度评估得分较高的种子.其次,通过种子评估得分为种子分配能量,将突变得到的有趣输入保留并进行归类以更新种子簇群信息.Cluzz根据更新后的种子簇群重新评估种子,以确保测试过程中种子的有效性,从而在有限时间内探索更多的未知代码区域,提高被测程序的覆盖率.最后,将Cluzz实现在3个当前主流的模糊器上,并在8个流行的真实程序上进行大量测试工作.结果表明,Cluzz检测独特崩溃的平均数量是普通模糊器的1.7倍,在发现新边缘数量方面平均优于基准模糊器22.15%.此外,通过与现有种子调度方法进行对比,Cluzz的综合表现要优于其它基准模糊器.     

IWO缓冲层对磁控溅射生长绒面HGZO薄膜性能的影响

研究了W掺In2O3(IWO)缓冲层(buffer layer)对磁控溅射直接生长绒面结构H化Ga掺杂ZnO(HGZO)薄膜的微观结构和光电性能的影响。实验发现,加入IWO缓冲层能够有效地增大薄膜表面粗糙度,提高了薄膜光散射能力,薄膜绒度(550nm波长处)由7.05%提高至18.37%;具有IWO缓冲层的HGZO(IWO/HGZO)薄膜的电学性能稍微提升。通过优化工艺条件,当IWO缓冲层厚为10nm时,生长获得的IWO/HGZO复合薄膜方块电阻为3.6Ω,电阻率为6.21×10-4Ωcm,可见光及近红外区域透过率(400～1 100nm)为82.18%,薄膜绒度(550nm波长处)为18.37%。