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通过建立活塞裙部型线、活塞优化后的燃烧室及内冷油道等的有限元模型,采用PERMAS软件计算了优化后的活塞在标定工况下的温度场和热机耦合应力,分析了活塞的疲劳寿命,并测量了800h热冲击试验后,活塞环槽、活塞外圆尺寸等尺寸和型线的变化情况。结果表明:活塞高温区域主要分布在活塞顶部,最高温度约为301℃,在活塞材料许用范围内;第一环槽的表面平均温度为194℃,低于润滑油结焦温度230℃;增加了20%喷油量时,活塞的表面温度仍可满足设计要求。在活塞受到热机耦合作用时,活塞向主推力面方向倾斜,主推力面受力较大,约为44N/mm2,活塞销座表面最大应力值区域主要分布在后端销孔上侧,约为98N/mm2,应力值均在许用范围内。活塞疲劳寿命最低的部位在活塞燃烧室底部及燃烧室喉口,理论寿命分别为6.9和7.7,800h热冲击试验后,活塞环槽、销孔、活塞环槽底径、活塞外援尺寸等尺寸变化均较小,活塞外圆型线和椭圆型线变化不大,能够满足使用要求。 相似文献
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用原子力显微镜(AFM)观测了铁基合金(Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9)薄带断口的介观结构.通过对310℃退火样品的观测,可以发现薄带的贴辊面区(SRFA)和自由面区(FFA)存在着非常明显的结构差异;而540℃退火样品的AFM观测结果则显示这种差异并不明显.将310℃和540℃退火的样品在HF酸溶液中进行腐蚀,获得不同腐蚀深度的腐蚀表面,再用AFM观测其表面形貌,则发现:在310℃退火样品的腐蚀表面,自由面和贴辊面形貌各自随腐蚀深度的变化而变化,并且两表面形貌之间在腐蚀前期有差异,但后期无明显不同;而540℃退火样品的两个腐蚀表面,则不存在这样的变化和差异.该观测结果与薄带断口观测到的介观结构相符合.造成这种结构差异的原因是经不同温度退火后,薄带内部残留的内应力不同. 相似文献
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对高维数据进行建模是Takagi-Sugeno(T-S)模糊系统建模面临的一个重大挑战。为此,该文提出一种特征选择与组稀疏编码相结合的模糊系统建模新方法WOMP-GS-FIS。首先,运用一种新型的加权正交匹配追踪算法对原始样本进行特征选择,在此基础上提取出模糊规则前件并产生模糊系统字典;然后,基于组稀疏正则化构造关于后件参数的组稀疏优化问题,在优化问题求解的同时得到重要的模糊规则。实验结果表明,在保证模型泛化性能的前提下,该方法不仅能对所获得的模糊规则结构进行精简还可以进一步减少模糊规则数,进而解决高维数据环境下模糊规则可解释性差的问题。 相似文献
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在数据稀少或失真等场景下,传统软划分聚类算法无法获得满意的聚类效果。为解决该问题,以极大熵聚类算法为基础,基于历史知识利用的途径,提出两种新的具备历史借鉴能力的软划分聚类模型(分别简称SPBC-RHK-1和SPBC-RHK-2)。SPBC-RHK-1是仅借鉴历史类中心的基础模型,SPBC-RHK-2则是以历史类中心和历史隶属度相融合为手段的高级模型。通过历史知识借鉴,两种模型的聚类有效性均得到有效提高,比较而言具备更高知识利用能力的SPBC-RHK-2模型在聚类有效性和鲁棒性上具有更好的表现。由于所用历史知识不暴露历史源数据,因此两种方法还具有良好的历史数据隐私保护效果。最后在模拟数据集和真实数据集上的实验验证了上述优点。 相似文献
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通过Fe基纳米晶磁芯电感(LN)与由其并联电容构成的LC回路(LCN)的阻抗频谱曲线和磁阻抗曲线的比较分析,发现LCN磁阻抗比值(△Z/Z0)和磁敏线性区间都比LN大得多,LCN存在特征频率:fr0、frhmax、fr,依据特征频率可以确定磁阻抗曲线的形状,实现LCN磁感灵敏度、磁敏线性区间等磁敏特性的有效调控。 相似文献
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应对第三代红外焦平面技术挑战的HgCdTe分子束外延 总被引:1,自引:0,他引:1
叙述了围绕第三代红外焦平面的需求所进行的HgCdTe分子束外延的一些研究结果.75mm HgCdTe薄膜材料的组分均匀性良好,80K下截止波长偏差为0.1μm.对所观察到的HgCdTe表面缺陷成核机制进行了分析讨论,获得的75mm HgCdTe材料平均表面缺陷密度低于300cm-2.研究发现As的表面黏附系数很低,对生长温度十分敏感,在170℃下约为1×10-4.计算表明,As在HgCdTe中的激活能为19.5meV,且随(Na∑Nd)1/3的增大呈线性下降关系,反比系数为3.1×10-5meV·cm.实验发现Hg饱和蒸汽压下,对应不同的温度240,380,440℃,As在HgCdTe中的扩散系数分别为(1.0±0.9)×10-16,(8±3)×10-15,(1.5±0.9)×10-13cm2/s.采用分子束外延生长的HgCdTe材料已用于红外焦平面探测器件的研制,文中报道了一些初步结果. 相似文献