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11.
数值仿真是研究、优化牺牲阳极阴极保护效果的重要方法。针对核电凝汽器阴极保护需求,完成基于低电位牺牲阳极阴极保护设计,开展了基于有限元数值计算的仿真模拟,研究了不同保护方案对凝汽器保护电位分布的影响。结果表明,采用优化的低电位阳极阴极保护方案,凝汽器中不锈钢组件的保护电位在-493~-810mV之间,钛组件保护电位在-386~-678mV之间,既可满足凝汽器阴极保护电位要求,又可以降低钛材的氢脆风险。  相似文献   
12.
研究了p型含氮以及不含氮直拉(CZ)硅中热施主(TD)以及氮氧(N-O)复合体的电学性质.硅片在350~850℃范围进行不同时间的退火后,利用四探针和通过室温傅里叶红外光谱(FTIR)分别测量其载流子浓度和间隙氧浓度的变化.实验结果表明:p型含氮直拉硅(NCZ)中热施主的电学特性基本与n型NCZ硅相同,但N-O复合体的消除温度明显低于n型NCZ硅,这是由于p型NCZ硅中硼促进了N-O复合体的消除.  相似文献   
13.
从研究旋涡气流光整加工机理入手,分析了磨粒在气流场中的运动和受力情况,推导出磨粒对工件内表面正压力的公式,探讨了各种参数对正压力的影响关系。  相似文献   
14.
龙26-平3井是设计在松辽盆地中央坳陷区龙虎泡构造上的一口水平井,二开采用低粘高切油包水钻井液体系,水平段钻进时因旋转导向仪器故障起下钻10趟,完钻井深3910.00m,完钻起钻至1936.00m突然发生键槽卡钻,震击、泡柴油无效,爆炸松扣未成功,原钻具倒扣下击无效,超级震击器震击解卡。本文总结分析了此次键槽卡钻事故处理过程中出现的问题和成功做法,为类似井型卡钻事故的处理,积累了宝贵的经验。  相似文献   
15.
利用电沉积的方法制备CuxS薄膜,研究了不同的络合剂,不同的硫源及不同的热处理温度对电沉积制备CuxS薄膜性质的影响。研究发现:不同的络合剂可以制备得到不同相的CuxS薄膜,用EDTA作为络合剂的时候得到是六方相的Cu2S其主要晶面是(102),当用柠檬酸钠作为络合剂的时候得到的是单斜的Cu31Sl6其主要晶面是(842)。当用Na2S2O3作为硫源的时候得到的是单斜的Cu31S16其主要晶面是(842),当用硫脲作为硫源的时候得到是六方相的CuxS其主要晶面是(102)。随着热处理温度的提高,薄膜的结晶程度有了很大的提高,晶粒有了明显的长大,不同温度的热处理证实了CuxS薄膜的生长是沿着[102]方向定向生长的。  相似文献   
16.
研究了氢退火对大直径直拉硅单晶中空洞型缺陷(voids)的影响.样品在1050~1200℃范围进行氢退火,退火前后样品上的流水花样缺陷(FPD)和晶体原生粒子(COP)在腐蚀后分别用微分干涉光学显微镜和激光记数器进行观察.实验结果表明在氢退火以后,FPD缺陷的密度随温度升高不变,而样品上的COP密度大量减少.分析可知,氢气退火仅仅消除了硅片表面的voids,而对于硅片体内的voids不产生影响,并在实验的基础上,讨论了氢退火消除voids的机理.  相似文献   
17.
采取从某一温度(600~1000℃)开始缓慢升温至高温(1150℃)并保温若干时间的方法,使得直拉Si片中大于起始温度对应的氧沉淀临界尺寸的那一部分原生氧沉淀得以长大,然后通过傅里叶红外光谱测量氧浓度变化以及利用扫描红外显微术测量氧沉淀密度.通过这样的方法,定性地研究了300mm掺N直拉Si片的原生氧沉淀的径向分布.研究表明:氧沉淀异常区域(称为P区)的原生氧沉淀密度显著高于空位型缺陷区域(称为V区);此外,V区中的原生氧沉淀的尺寸分布是不连续的,表现为高温下形成的大尺寸原生氧沉淀和低温下形成的小尺寸氧沉淀,而P区中的原生氧沉淀的尺寸分布则是连续的.我们从直拉Si晶体生长过程中原生氧沉淀的形成机制出发,对上述结果做了定性的解释.  相似文献   
18.
教育和谐是我们社会和谐中的重要理念,体育教育又是我们整体教育中的重要环节,本文就从体育教育对学生的身心健康影响方面去论述体育教育中的和谐观。  相似文献   
19.
曲面数控加工中刀具干涉的检验   总被引:1,自引:0,他引:1  
文章讨论了雕塑曲面数控加工中单张曲面产生刀具干涉的现象;相邻两曲面在凹向交线处的无干涉加工以及曲面拼接处刀具干涉的截面验证法,给出了具体算法和加工实例,取得了较好的干涉处理效果。  相似文献   
20.
地下管线是城市的"生命线",地下管线探查和测绘是城市规划建设和管理的重要基础性工作,掌握施工区地下管线的分布是确保地下管线安全的前提。目前,地下管线探测的主要物探方法包括直流电法(充电法、高密度电法等)、电磁法(电磁感应法、地质雷达法等)、磁梯度法、地震波映像法等。实际工程中应用最广泛的为直流电法、电磁感应法以及地质雷达法。主要介绍了三种探测方法的基本原理和特点,并结合工程实例进行应用分析,最后对当前管线探测技术存在的问题和发展趋势进行总结和展望。  相似文献   
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