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Research and Development of a Network—Based Intelligent Maintenance Information System 总被引:1,自引:0,他引:1
ZANGTie-gang YANGMing-zhong GUOShun-sheng 《国际设备工程与管理》2003,8(2):74-79
A maintenance information system is an important part of equipment management.An intelli-gent maintenance information system(IMIS)is a synthesis of network technology,information technology and intelligent technology.The IMIS in used to finish flexible maintenance decision-making and fast main-tenance planning,which helps enterprises to effectively reduce maintenance cost and increase working effi-ciency.Because the IMIS integrates advanced technologies,its performance is better than a traditional one.The difference between an IMIS and a traditional maintenance information system,and the functions,struc-ture,important realizations,and application of an IMIS are discussed in this paper. 相似文献
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介绍了在常规模式下开发信息系统项目的不利因素,提出了在信息系统工程项目开发中引入工程监理的信息系统开发模式,对信息系统工程监理的概念、主要工作任务进行了说明,中心论述了在引入了信息系统工程监理机制的开发中的建设方、承建方和监理方的三者关系。 相似文献
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提出了一种多跨简支曲线轨道折线梁桥的空间振动分析模型,采用20自由度的梁段单元,可方便考虑T型梁横向与竖向弯曲、自由扭转、约束扭转等变形,选取正交流动坐标,建立了曲线轨道折线梁桥的动力特性矩阵,特别适用于曲线轨道折线梁桥与列车的空间振动分析。在实例研究中,计算了提速列车通过32m曲线轨道折线梁桥时的空间振动响应,并检算该桥是否具有足够的刚度及良好的运营平稳性,可供有关部门参考。 相似文献
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延长鄂式破碎机破碎板使用寿命的方法 总被引:1,自引:0,他引:1
鄂式破碎机工作时,破碎板直接与物料接触,承受着巨大的破碎力和物料的摩擦作用,破碎板的使用寿命直接关系到鄂式破碎机的工作效率和生产成本。从设计、选材、组装、使用过程中的改进等方面,论述了延长鄂式破碎机破碎板使用寿命的方法。 相似文献
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Ting Gang Zhu Uttiya Chowdhury Michael M. Wong Jonathan C. Denyszyn Russell D. Dupuis 《Journal of Electronic Materials》2002,31(5):406-410
In this paper, we report the study of the electrical characteristics of GaN and AlGaN vertical p-i-n junctions and Schottky
rectifiers grown on both sapphire and SiC substrates by metal-organic chemical-vapor deposition. For GaN p-i-n rectifiers
grown on SiC with a relatively thin “i” region of 2 μm, a breakdown voltage over 400 V, and forward voltage as low as 4.5
V at 100 A/cm2 are exhibited for a 60-μm-diameter device. A GaN Schottky diode with a 2-μm-thick undoped layer exhibits a blocking voltage
in excess of ∼230 V at a reverse-leakage current density below 1 mA/cm2, and a forward-voltage drop of 3.5 V at a current density of 100 A/cm2. It has been found that with the same device structure and process approach, the leakage current of a device grown on a SiC
substrate is much lower than a device grown on a sapphire substrate. The use of Mg ion implantation for p-guard rings as planar-edge
terminations in mesageometry GaN Schottky rectifiers has also been studied. 相似文献