"橄榄型"社会阶层结构范式论

拥有一个"橄榄型"社会阶层结构,社会就会减少动荡,保持社会的相对稳定与和谐.现阶段培育"橄榄型"的社会阶层结构,是构建社会主义和谐社会的重要基础.     

气力输送在烧结电除尘输灰系统中的应用

针对烧结厂烧结电除尘灰的工况特性，介绍了输送烧结电除尘灰的正压气力输灰系统的特点、组成，还对在调试和试运行过程中遇到的故障进行了分析并制订了解决措施。     

缝纫设备输送动力装置的分析

文章介绍了几种缝纫设备输送动力装置的送布原理，认为应针对不同的面料特性及经制工艺要求，选用合适的设备输送系统。     

锌精矿制粒沸腾焙烧新工艺的应用与改进

介绍了锌精矿制粒沸腾焙烧新工艺的工业化生产应用与技术改进情况 ,阐述了取得的成果及存在的问题     

多测井曲线的综合处理合成

测井曲线是地质分层的基础，但在利用单一测井曲线解决复杂地质问题时也存在多解性和局限性。为克服多解性，人们采用多种测井曲线进行地质分层，提高了分层的精度。本文在此基础上提出把多条曲线分别赋予不同的加权因子，然后进行归一化处理，形成一条标准综合参数测井曲线。此综合参数曲线突出了所选的多条测井曲线的公共信息，减少或削弱了单一测井曲线中的偶然误差，提高了综合后测井资料的可信度。该方法可应用于地质分层、岩性分析、含油气预测等诸多领域。应用时要注意，并非所选择的测井曲线种类越多越好，而是要选择那些最能反映地层单元特征信息的测井曲线。     

大孔径石蜡加氢精制催化剂的制备

采用氨吸附-程序升温脱附(NH3-TPD)、低温N2吸附(BET)、压汞法以及加氢精制活性评价等技术,探索SiO2-Al2O3载体在制备过程中孔结构和表面性质的变化。实验结果表明,采用特殊扩孔剂制备载体,当焙烧温度为700℃时,平均孔径可达到17.3nm,其中孔径大于20nm的孔占总孔体积的13.2%;同时载体表面上的中、强酸中心也全部丧失,均为弱酸中心。采用该载体制备的MoNiP/SiO2-Al2O3石蜡加氢精制催化剂,在MoO3用量减少了约1/4的情况下,比目前工业上使用的催化剂具有更高的脱金属能力和加氢精制活性。     

平衡阀和双向液压锁的正确选用

双向液压锁和平衡阀在一定场合下都能作为闭锁元件使用，可以保证工作装置不会因自重等外部原因出现下滑、超速或窜动，但在一些特定速度载荷的情况下却不能互换使用。下面针对2种产品的结构形式，谈谈笔者的一些看法。     

MIP-CGP工艺专用催化剂CGP-1的开发与应用

阐述了生产汽油组分满足欧Ⅲ排放标准并多产丙烯的催化裂化工艺（简称MIP-CGP）专用催化剂（简称CGP-1）的研究开发与工业应用结果。CGP-1催化剂的基质具有良好的容炭性能，使活性组元受到良好保护，其优势作用在第二反应区得以充分发挥，具有更高的氢转移活性和强的汽油小分子烯烃裂化活性。中国石化九江分公司和镇海炼化公司的MIP-CGP工业试验标定结果表明，与常规FCC相比，采用CGP-1催化剂的MIP-CGP技术在生产烯烃体积分数小于18％的汽油组分的同时，丙烯产率达到8％以上。此外，汽油诱导期大幅提高，抗爆指数增加；总液体收率有所提高，干气产率下降，焦炭选择性良好。     

A model for preventive maintenance operations and forecasting

Equipment costs constitute the greatest majority of overall costs for semiconductor manufacturing. Therefore, maintaining high equipment availability has been regarded as one of the major goals in the industry. The ability to forecast correctly equipment preventive maintenance (PM) timing requirements not only can help optimizing equipment uptime but also minimizing negative impacts on manufacturing production efficiency. This research used grey theory and evaluation diagnosis to construct a PM forecasting model for prediction of PM timing of various machines. The results showed significant improvements of PM timing predictions compared to the existing method based on experience and an alternative method proposed by Li and Chang (Semiconductor Manufacturing Technology Workshop 2002: 10–11, pp. 275–277) for the same fab cases. Received: June 2005 / Accepted: December 2005