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讨论了伪随机码调相跳频信号的表达形式和特点,并根据雷达系统的需求和参数设计的约束条件设计信号的波形;研究了回波信号的处理方法.根据信号的跳频和编码特性,距离处理分为编码测距和频间距离处理.利用伪随码的相关特性,对回波信号进行采样,提取与发射信号相关的距离信息;对于不同频率闹的距离处理,考虑到跳频产生的不同多普勒频率的影响,所以首先进行速度门的校正和相位补偿.MATLAB仿真结果表明,两种距离处理方法均可获得较为理想的距离信息. 相似文献
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介绍了TWAIN接口的标准,并分析了开发基于TWAIN接口的应用程序的方法.建立了基于TWAIN接口的图像测量系统,并分析了其测量的原理及标定的方法.位移测量的实验结果证明图像测量系统可应用于位移、长度、直径等工件尺寸的测量. 相似文献
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红外波段成像探测是武器装备的重要应用波段,红外辐射模拟已经成为重要研究课题之一.以中长波红外波段告警和跟踪探测等红外传感设备的功能检测和试验为背景,探讨了红外辐射目标模拟的等效性问题.根据中长波红外波段告警、跟踪设备的使用要求,对目标红外辐射的近距离等效性进行了分析和计算.对红外辐射体的特殊设计与研制进行了探讨,提出红外辐射体应满足高温度、大红外辐射口径、高红外发射率、高温度控制精度等方面的要求.介绍了辐射窗口几何尺寸可变设计,通过更换插片式光阑限定辐射窗口几何尺寸的设计思想.从而实现了中长波红外辐射目标模拟,满足中长波红外波段告警和跟踪探测设备的性能检测和试验等工程应用的需要. 相似文献
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通过分析电子侦察中数据挖掘的特点,对雷达辐射源的参数测量误差分布特点进行分析.在传统直方图统计算法的基础上,提出一种面向雷达辐射源特征分布的优化校正算法,通过理论分析和仿真手段验证了校正算法对提升雷达特征参数分布规律分析性能的改善. 相似文献
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微波反射光电导衰减法测量InGaAs 吸收层的均匀性 总被引:1,自引:0,他引:1
外延材料的均匀性对制备大型线列和二维面阵焦平面阵列(FPA)探测器非常重要.用微波反射光电导衰减法(μ-PCD)分别在300 K和85 K温度下测量了用分子束外延技术生长的p-InP/n-InGaAs/n-InP双异质结中掺杂InGaAs吸收层的载流子寿命分布图,并详细论述了这种测试技术的理论基础.在300 K和85 K时,平均寿命分别为168.2 ns和149.4 ns,结果与ZnS/n-InGaAs/n-InP的基本一致.寿命变温曲线表明,中等掺杂InGaAs载流子寿命在低温下变化较小.μ-PCD法可以非接触无损伤快速测量p-InP/n-InGaAs/n-InP双异质结中InGaAs的寿命图,对于表征InGaAs吸收层的均匀性有潜在的应用,这对研制均匀性良好的InGaAs焦平面探测器非常重要. 相似文献
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