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121.
Fault-based test suite prioritization for specification-based testing   总被引:1,自引:0,他引:1  

Context

Existing test suite prioritization techniques usually rely on code coverage information or historical execution data that serve as indicators for estimating the fault-detecting ability of test cases. Such indicators are primarily empirical in nature and not theoretically driven; hence, they do not necessarily provide sound estimates. Also, these techniques are not applicable when the source code is not available or when the software is tested for the first time.

Objective

We propose and develop the novel notion of fault-based prioritization of test cases which directly utilizes the theoretical knowledge of their fault-detecting ability and the relationships among the test cases and the faults in the prescribed fault model, based on which the test cases are generated.

Method

We demonstrate our approach of fault-based prioritization by applying it to the testing of the implementation of logical expressions against their specifications. We then validate our proposal by an empirical study that evaluates the effectiveness of prioritization techniques using two different metrics.

Results

A theoretically guided fault-based prioritization technique generally outperforms other techniques under study, as assessed by two different metrics. Our empirical results also show that the technique helps to reveal all target faults by executing only about 72% of the prioritized test suite, thereby reducing the effort required in testing.

Conclusions

The fault-based prioritization approach is not only applicable to the instance empirically validated in this paper, but should also be adaptable to other fault-based testing strategies. We also envisage new research directions to be opened up by our work.  相似文献   
122.
从企业价值评估出发,基于企业价值评估失真对企业战略风险进行研究,通过对战略决策风险、资源障碍风险和财务风险等造成企业战略风险的因素进行分析,找到基于企业价值评估失真的战略风险传导路径,以避免或减少企业价值评估失真对企业战略的制定和实施所带来的影响。  相似文献   
123.
对3种不同粒径的氧化铝进行活化,控制滤建,研究其除氟性能,并在实验条件下测得其饱和吸附量.实验结果表明,除氟剂粒径小、比表面积较大时,有利于除氟性能的提高.  相似文献   
124.
为改善水质,研究了活性炭—陶粒复合吸附工艺。陶粒对有机物中极性分子和不饱和分子有较高的选择吸附优势,对饮用水中常见的污染物NH3-N的吸附能力也很强。陶粒与活性炭的吸附性能有很好的互补性能,组合工艺可有效去除污染物。静态试验结果表明,吸附剂最佳配比为70%活性炭+30%陶粒,通过吸附特性比较得出,活性炭—陶粒组合工艺对水中CODMn的吸附性能优于单独使用活性炭。在最佳条件下,对CODMn和氨氮的去除率分别为28.6%和34%。  相似文献   
125.
126.
在日照作用下对钢管混凝土构件进行截面温度场测试,分析了截面温度场随日照方位及截面空间分布的变化规律。结果表明,截面温度场随时间及截面空间变化的非线性均很显著;钢管表面各测点与圆心测点出现温度峰值的时间存在相位差;沿截面直径方向,各测点温度变化随直径缩小趋缓,即越靠近圆心,测点温度变化越滞后于环境的变化;圆心点的温度变化受各个方向温度变化的共同作用,但更多地受到强势方向的影响。  相似文献   
127.
学生宿舍就寝后谈话及防火管理问题一直是学生管理部门的一大难题,针对学生宿舍集中、监测点多两大特点,提出一个基于ZigBee技术的解决方案.硬件设计以CC2430为核心,分析并设计出声、光、烟雾检测电路;为实现安装方便灵活性,各节点采用了灵活多样的供电方式.在分析ZStack协议栈操作系统的基础上,在其中实现了信号采集程序;监控PC机软件采用VC++及SQL数据库技术进行设计.经测试,系统能有效地采集、存储各路传感器信号并及时报警,为学生宿舍管理提供了一种方便有效的新方法.  相似文献   
128.
The fault coverage for digital system in nuclear power plants is evaluated using a simulated fault injection method. Digital systems have numerous advantages, such as hardware elements share and hardware replication of the needed number of independent channels. However, the application of digital systems to safety-critical systems in nuclear power plants has been limited due to reliability concerns. In the reliability issues, fault coverage is one of the most important factors. In this study, we propose an evaluation method of the fault coverage for safety-critical digital systems in nuclear power plants. The system under assessment is a local coincidence logic processor for a digital plant protection system at Ulchin nuclear power plant units 5 and 6. The assessed system is simplified and then a simulated fault injection method is applied to evaluate the fault coverage of two fault detection mechanisms. From the simulated fault injection experiment, the fault detection coverage of the watchdog timer is 44.2% and that of the read only memory (ROM) checksum is 50.5%. Our experiments show that the fault coverage of a safety-critical digital system is effectively quantified using the simulated fault injection method.  相似文献   
129.
一种测量真空开关灭弧室真空度的新方法   总被引:8,自引:1,他引:8  
提出了一种无需施加磁场、利用发射电流衰减速度测量真空开关灭弧室真空度的新方法。首先利用500μA发射电流对触头表面轰击,除去触头表面上多余的分子吸附层。然后利用35μA发射电流与触头间残余气体分子的碰撞电离,形成离子流。离子流又撞击触头表面,被表面捕获,形成新增吸附层。这些新增吸附层的存在会增大触头材料逸出功,导致发射电流的衰减。真空度不同,发射电流的衰减速度就不同,故在发射电流衰减量一定的条件下,通过检测发射电流衰减时间就可以测量灭弧室内的真空度。文中通过理论分析,给出了发射电流衰减时间与真空度的关系并进行了实验验证。  相似文献   
130.
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