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摘要:随着光刻技术的发展,以及封装技术的提高,硅片的集成度越来越高,现在的工艺也允许在100纳米级的硅片上集成上亿的晶体管;随着工作频率的提高,电磁波长也与器件的尺寸相比拟,传统的基尔霍夫定律不再适用,反射及串扰开始影响信号的质量;随着电压幅度的降低,电流的增大,电源配送网络稳定性设计变得更加复杂。这样为了给晶体管提供一个干净的电源或信号,传递信号及电源的网络的完整性分析将变得至关重要。本文通过siwave和ADS 的集合对网络进行电源完整性及信号完整性仿真,优化电路板,缩短开发周期节约成本。 相似文献
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已经有多种方法分析了LiF作为电子注入缓冲层对有机电致发光器件的影响,用LiF/Al双层阴极和发光层Alq3制成的有机电致发光器件(OLED),可以降低器件的开启电压,提高器件的发光效率、发光亮度。文章主要对OLEDs(A):Al/Alq3/ITO和(B):Al/LiF(1nm)/Alq3/ITO的C-V特性进行了研究,当在阴极和发光层Alq3之间加上1nm厚的LiF层作为电子注入缓冲层以后,器件的电容由不加LiF时的72500pF减小到12500pF,由于电容的减小,有效地降低了器件的功耗,进而提高了器件的寿命,节约了能源,进一步改善了器件的性能。 相似文献
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利用溶胶-凝胶旋涂制膜方法制备了具有良好表面形貌及c轴择优取向性的(Li,Mg):ZnO薄膜.重点研究了该法制膜时不同膜厚(Li,Mg):ZnO薄膜的结构及光学性质.扫描电子显微镜(SEM)图像及X射线衍射(XRD)图谱分析结果表明随着膜厚的增加,薄膜晶粒尺寸逐渐增大,薄膜的晶化程度及c轴择优取向性增强.但薄膜厚度的增加是有一定范围的,当薄膜厚度过大时,薄膜均匀性、致密性及c轴择优取向性显著下降.样品的荧光光致发光(PL)谱表明,Mg的掺入使近紫外发光峰出现了蓝移,恰当膜厚的(Li,Mg):ZnO薄膜发光特性主要以深能级发射(DLE)为主,蓝绿发光峰强度很高. 相似文献
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用半绝缘多晶硅(SIPOS)-SiO2复合层作为4H-SiCn+pp+结构的钝化层,克服了用多孔碳化硅或单纯用SiO2钝化的不足.在LPCVD淀积SIPOS层后,用900℃氧气氛退火代替了平常的热氧化,在SIPOS层上生长了一层SiO2.实际测量证实了这种新方法的合理性.分析了各主要工艺对钝化效果的影响,综合优化指出:在淀积SIPOS层时,掺氧量要高,而淀积温度不应太高.用此方法钝化的4H-SiCn+pp+结构,击穿电压接近理想值,反向漏电流明显降低 相似文献
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一、引言目前,汽液平衡数据的获得虽然有许多半经验的公式可以应用,但大多数都需要用实验数据回归必要的参数。因此建立一套好的汽液平衡测量装置对于开发石油化工工业,为化工基础设计提供宝贵的数据是十分必要的。我们的工作是结合目前国内生产的 相似文献
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