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谢兴龙 朱键强 刘凤翘 管富义 黄关龙 戴亚平 杨镜新 李美荣 薛绍林 高奇 薛志玲 庄亦飞 韩爱妹 林尊琪 郑志坚 丁永坤 陈家斌 王世绩 顾援 王伟 王瑞荣 吴江 《中国激光》2003,30(8)
高功率激光物理国家实验室在国家高技术惯性约束聚变主题的支持下 ,经过不懈的努力又成功建成了一台基于钕玻璃放大器的 2 0TW超短脉冲系统 (SPS装置 )。其输出功率水平相当于实验室前年建成、国内规模最大的神光Ⅱ装置输出功率总和的两倍以上。新的SPS装置采用相干公司的Mira90 0作为振荡器 ,用改装在 1 0 5 3μm工作波长的再生放大器作为预放 ,经过 7级钕玻璃放大器对啁啾脉冲放大及扩束后 ,末级输出光束净口径 1 0 0mm ,光斑近场填充因子大于 5 0 %。经过主放大器放大的啁啾脉冲随后进入一对 4 0 0mm× 1 90mm的涂金光栅压缩器 ,经… 相似文献
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椭圆弯晶谱仪具有测谱宽度大,能谱分辨力高等特点,并在"神光II"激光惯性约束聚变实验研究中得到了很好的应用。利用X射线衍射仪铜(Cu)靶X射线管作为X射线线光源,选取合适厚度滤片,抑制Cu-Kβ线及韧致辐射,测量了Cu-Kα能点处二氧化硅石英椭圆弯晶的积分衍射效率和摆动曲线半高全宽,并开展了针对上述两个重要参数随晶体弯曲曲率半径改变的测试验证,预估了能谱分辨力。结果表明,椭圆弯晶的积分衍射效率和摆动曲线半高全宽对晶体弯曲半径改变敏感,通过提高晶体弯曲度可增强晶体"镶嵌"效果。该结果可为下一步优化设计多用途性椭圆弯晶谱仪,以及完善X射线光谱定量化测量提供了数据支撑。 相似文献
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椭圆型晶体谱仪谱测量的解谱 总被引:1,自引:1,他引:0
描述了椭圆型晶体谱仪配X射线CCD相机的X射线谱测量系统(EBCS-XCCD),研究了CCD相机记录信号的解谱处理方法,推出了对实测原始谱曲线辨认或标识值的计算公式及激光等离子体辐射X射线在某一波长光谱强度的公式,使之应用在激光打靶产生的等离子体源辐射X射线谱的回推,辨认出了激光等离子体X射线源能谱,并与文献[1]的结果进行了比较,结果基本一致.测试结果证实了解谱方法的可行性,表明X射线CCD相机适用于椭圆型晶体谱仪的光谱测量记录.在已知晶体的积分反射率、滤片透射率和CCD探测效率的条件下,可以获得X射线源光谱强度,为下一步诊断激光等离子体的电子温度和离子密度的空间分布轮廓和进一步细化X射线激光研究奠定了基础. 相似文献
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基于微型光机电系统扫描镜技术的激光散斑抑制方法 总被引:1,自引:0,他引:1
激光固有的时间和空间相干性,造成的散斑现象成为实现激光显示技术的瓶颈。针对激光显示的消散斑问题,提出了一种基于微型光机电系统(MOEMS)扫描镜技术的散斑抑制方法,并设计了一种简单的二维扫描镜结构,为开发非运动式、小体积、低功耗、高速低成本电调制的MOEMS,实现对激光散斑的抑制,标准化消相干器件的工艺的开发和规模化生产技术提供了参考。 相似文献
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InP材料被广泛的应用于光电子领域,但其材料脆、工艺不成熟、成本高,而Si基外延InP材料能良好的改善该技术瓶颈。论文中对不同介质、不同厚度的介质键合制备Si/InP材料进行了分析。其中以SiO2键合制备的Si/InP材料应力转化率最高,且SiO2制备工艺简单、亲水,材料键合强度大,机械特性好,是键合制备Si/InP材料的首选。而且,SiO2键合介质越薄,其应力转化率越高,材料对力学信号就越敏感,制备的Si/InP材料的机械性能越好。 相似文献
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为了了解3号喷气燃料质量状况,国家石油产品质量监督检验中心于2004年第3季度对部分生产企业生产的3号喷气燃料质量进行抽样检测,按照GB 6537-94标准判定,合格率为100%。但与以往检测结果相比,3号喷气燃料芳烃含量、密度有所上升,烟点普遍下降。建议各生产企业应密切关注生产原料、工艺、检测等方面,保证产品质量。 相似文献