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Zhao Hongliang Lu Tingting Liu Fengqin Yin Pan Wang Sen 《JOM Journal of the Minerals, Metals and Materials Society》2019,71(5):1643-1649
JOM - The Isa/Ausmelt smelting technology with a top submerged lance (TSL) has been extensively used in copper smelting processes. However, the TSL is extremely vulnerable to damage and failure... 相似文献
43.
炼油达标污水回用处理试验研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用曝气生物滤池、多介质过滤、超滤、反渗透工艺,对炼油达标外排污水进行回用处理中试试验。结果表明,曝气生物滤池对油、COD和浊度去除效果良好,超滤、反渗透膜化学清洗周期达到 2个月以上,脱盐率稳定在98%以上,产水品质达到回用要求。 相似文献
44.
柯克亚油气田混合来源天然气的地球化学特征 总被引:7,自引:3,他引:4
柯克亚油气田是我国开发比较早的一个油气田,但由于受混源和其他因素的影响,对气源的认识众说纷纭。通过对天然气的地球化学特征的分析,并参照国内外关于甲烷、乙烷、丙烷碳同位素关系方面的资料,提出了如下看法:柯克亚天然气碳同位素相对较重,与塔里木盆地下古生界海相天然气的碳同位素组成区别较大;根据天然气40Ar/36Ar组成,柯克亚油气田的气源不是单一来源;柯克亚油气田绝大多数天然气的甲烷和乙烷碳同位素值关系符合Faber推断的 型有机质方程直线关系,说明有机质属于较好的有机质类型,或者是由原油裂解形成的天然气;除了K2井和K18井天然气成熟度较低以外,绝大多数天然气的成熟度大约在1.8%~2.2%之间,属于高过成熟气,但也混有一些成熟度在0.9%~1.2%的源岩形成的天然气;推测天然气主要来源于石炭系―二叠系源岩,而混有成熟度低的源岩形成的天然气则有可能来自侏罗系源岩。 相似文献
45.
管道风险管理方法研究 总被引:6,自引:0,他引:6
按照管道风险管理的流程分别对管道风险评价、风险控制和决策支持、效能测试和响应进行了论述。针对目前国内管道行业的情况,提出了进行管道风险评价的有效方法及维护措施。着重介绍了国外管道风险可接受标准的情况,作为国内制定管道风险评价标准的参考。 相似文献
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Chong D. Y. R. Lim B. K. Rebibis K. J. Pan S. J. Sivalingam K. Kapoor R. Sun A. Y. S. Tan H. B. 《Advanced Packaging, IEEE Transactions on》2006,29(4):674-682
The recent advancement in high- performance semiconductor packages has been driven by the need for higher pin count and superior heat dissipation. A one-piece cavity lid flip chip ball grid array (BGA) package with high pin count and targeted reliability has emerged as a popular choice. The flip chip technology can accommodate an I/O count of more than five hundreds500, and the die junction temperature can be reduced to a minimum level by a metal heat spreader attachment. None the less, greater expectations on these high-performance packages arose such as better substrate real estate utilization for multiple chips, ease in handling for thinner core substrates, and improved board- level solder joint reliability. A new design of the flip chip BGA package has been looked into for meeting such requirements. By encapsulating the flip chip with molding compound leaving the die top exposed, a planar top surface can be formed. A, and a flat lid can then be mounted on the planar mold/die top surface. In this manner the direct interaction of the metal lid with the substrate can be removed. The new package is thus less rigid under thermal loading and solder joint reliability enhancement is expected. This paper discusses the process development of the new package and its advantages for improved solder joint fatigue life, and being a multichip package and thin core substrate options. Finite-element simulations have been employed for the study of its structural integrity, thermal, and electrical performances. Detailed package and board-level reliability test results will also be reported 相似文献