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71.
反应气氛中,氧的存在通常会强化含碳燃料与NO还原反应.利用石英管固定床反应器研究了程序升温条件下氧含量对天然气扩散火焰中生成的炭黑与NO反应的影响规律,实验结果表明,反应气中氧存在会降低炭黑与NO的还原率和起始反应温度.从实验中得到了炭黑与NO反应的动力学关系,随氧含量增加,炭黑与NO反应有更低的活化能.透射电子显微镜微观分析表明,氧气氛会使炭黑层状结构内部融合,外表面增大,可以认为外表面积增大形成丰富的表面碳氧基团C(O)在强化还原反应方面起着重要作用.  相似文献   
72.
金属薄膜互连的电迁移现象是VLSI最重要的可靠性问题之一。然而,常规的电迁移评价方法均需要较长的试验周期,而且具有一定的破坏性。近年来发展的1/f~γ噪声检测电迁移的方法以其快速、经济、非破坏性的特点,显示出诱人的应用前景。本文介绍了这一方法的研究现状与展望。  相似文献   
73.
微组装技术是继表面安装技术之后的第五代电子组装技术。本文综述了微组装技术当前的发展概况,对该技术未来十年的发展方向和趋势作了预测,并着重介绍了其代表性产品多芯片组件以及关键技术。  相似文献   
74.
75.
Microsoft.NET Framework提供的垃圾回收机制确保应用程序不会发生资源泄漏,提高了应用程序的健壮性。本文研究了垃圾回收算法的实现。  相似文献   
76.
针对金属化电迁移,进行了失效机理与工艺相关性的研究;确定了金属晶粒尺寸与金属化可靠性之间存在着直接关系.金属平均晶粒直径与金属电迁移寿命受金属化溅射工艺条件的影响完全一致.提出了平均晶粒直径作为能够表征金属化可靠性的特征工艺参数的概念和金属化可靠性在线评价方法.  相似文献   
77.
对地块空间资源的整合更新,是经济发展背景下中心城区优势区位级差地租的应有反映,是城市宏观功能布局调整及可持续发展的必然要求,是体现生态和历史文化层面城市公共资源开放性的应有之义.本文分别对苏州乐园的“乐园”和“交通”两个关键要素进行专题研究,提出更新要点.  相似文献   
78.
79.
80.
电子器件可靠性的噪声表征方法   总被引:10,自引:0,他引:10  
庄奕琪  孙青 《电子学报》1996,24(2):76-82
随着电子器件朝着高性能、小尺寸和长寿命方向发展,传统的寿命试验可靠性评价方法的局限性日益显著,近年来得到的大量研究结果表明,对于大多数电子器件,噪声是导致器件失效的各种潜在缺陷的敏感反映,噪声检测方法以其灵敏、普适、快速和非破坏性的突出优点,正在发展成为一种新型的电子器件可靠性表征工具,本文对该领域目前的研究进展做了概括性的评述。  相似文献   
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