全文获取类型
收费全文 | 114071篇 |
免费 | 13283篇 |
国内免费 | 10085篇 |
专业分类
电工技术 | 11045篇 |
综合类 | 13336篇 |
化学工业 | 13838篇 |
金属工艺 | 8041篇 |
机械仪表 | 8250篇 |
建筑科学 | 8211篇 |
矿业工程 | 5043篇 |
能源动力 | 3002篇 |
轻工业 | 13393篇 |
水利工程 | 3557篇 |
石油天然气 | 3990篇 |
武器工业 | 1562篇 |
无线电 | 11638篇 |
一般工业技术 | 9480篇 |
冶金工业 | 4480篇 |
原子能技术 | 1888篇 |
自动化技术 | 16685篇 |
出版年
2024年 | 757篇 |
2023年 | 1961篇 |
2022年 | 4690篇 |
2021年 | 5973篇 |
2020年 | 4181篇 |
2019年 | 2851篇 |
2018年 | 3056篇 |
2017年 | 3622篇 |
2016年 | 3265篇 |
2015年 | 5297篇 |
2014年 | 6304篇 |
2013年 | 7719篇 |
2012年 | 9434篇 |
2011年 | 9926篇 |
2010年 | 9266篇 |
2009年 | 9182篇 |
2008年 | 9231篇 |
2007年 | 9100篇 |
2006年 | 7737篇 |
2005年 | 6359篇 |
2004年 | 4577篇 |
2003年 | 3187篇 |
2002年 | 2916篇 |
2001年 | 2660篇 |
2000年 | 2153篇 |
1999年 | 735篇 |
1998年 | 247篇 |
1997年 | 172篇 |
1996年 | 114篇 |
1995年 | 111篇 |
1994年 | 68篇 |
1993年 | 82篇 |
1992年 | 74篇 |
1991年 | 57篇 |
1990年 | 51篇 |
1989年 | 57篇 |
1988年 | 35篇 |
1987年 | 16篇 |
1986年 | 21篇 |
1985年 | 11篇 |
1984年 | 9篇 |
1983年 | 19篇 |
1982年 | 8篇 |
1981年 | 25篇 |
1980年 | 36篇 |
1979年 | 17篇 |
1959年 | 31篇 |
1958年 | 1篇 |
1956年 | 1篇 |
1951年 | 32篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 0 毫秒
31.
The changes in structure and the hardness of two electroless deposited Ni-P alloy coatings (with P content of 1.5 and 9.5 wt pct) with heat treatment have been studied by XRD and TEM. The deposits containing 1.5 wt pct P can be represented as an fcc NiP supersaturated solid solution of 5~10 nm microcrystallites. whereas the deposits containing 9.5 wt pct P are amorphous. The heat treatment process induces crystallization of amorphous Ni to Ni phosphides and fcc Ni.Both of the deposits reach maximum hardness after annealing at 400℃ for 1 h. All coated steel specimens are inferior in fatigue strength to uncoated steel specimens mainly due to the poor fatigue resistance of the coating itself 相似文献
32.
33.
粘土矿物是低渗砂岩储层的主要胶结物,对储层物性及开发过程中储层物性变化趋势有着重要的影响和控制作用。另外,粘土矿物也蕴含着大量沉积环境介质的物理化学信息,认识其自然规律,可以有效地指导预测有利储层,认识和改造油层。以鄂尔多斯盆地砂岩储层中的粘土矿物为研究对象,探讨分析粘土矿物对低渗储层性质的影响,该研究对含油气盆地低渗储层有效开发具有一定的参考价值。 相似文献
34.
CMOS电路中抗Latch-up的保护环结构研究 总被引:5,自引:0,他引:5
闩锁是CMOS集成电路中的一种寄生效应,这种PNPN结构一旦被触发,从电源到地会产生大电流,导致整个芯片的失效。针对芯片在实际测试中发现的闩锁问题,介绍了闩锁的测试方法,并且利用软件Tsuprem4和Medici模拟整个失效过程,在对2类保护环(多子环/少子环)作用的分析,以及各种保护结构的模拟基础之上,通过对比触发电压和电流,得到一种最优的抗Latch up版图设计方法,通过进一步的流片、测试,解决了芯片中的闩锁失效问题,验证了这种结构的有效性。 相似文献
35.
36.
建立企业内部网站是现代信息化技术提高企业管理水平的有效途径.从企业的需求与目的出发,设计开发了高效、实用、庄重大方的企业网站. 相似文献
37.
38.
39.
40.