激光辐照制备搪瓷涂层

激光辐照制备的搪瓷涂层表面粗糙,与金属基材结合牢固。一般由 Si,Al,Na,K,B,F,O等元素组成。在激光辐照过程中 K,Na 明显地挥发,从而在涂层中的含量明显减少;Co,Ni,主要分布在界面附近;Fe 元素也由基材进入涂层,呈梯度状分布,在界面过渡区含量很高,在涂层内含量很低。搪瓷涂层的形成与激光辐照参数,特别与激光功率间存在极为密切的关系;只有选用合理的参数,才能制得搪瓷涂层。     

电子聚合物基体碳纳米管复合材料研究进展

电子聚合物是一种新型的功能材料，碳纳米管具有优异的力学性能和独特的电学性能等，是聚合物基体复合材料的理想增强体，按不同电子聚合物基体类型进行了归纳，评述了电子聚合物基体碳纳米管复合材料的制备，性能和应用等情况。     

制冷系统的节能优化运行

本文通过对制冷系统耗电诸多因素的初步分析 ,采用正交试验、回归计算等手段 ,得出系统耗电与主要因素的函数关系 ,以便通过优化计算迅速找出最佳运行参数 ,指导操作 ,从而达到节能是目的。     

钠冷快堆中喷雾钠火的计算分析

根据钠冷快堆中喷雾钠火的特点建立了理论模型，编制了SSPRAY程序。该程序模拟钠喷雾燃料过程中钠滴的运动、钠和氧气的燃烧反应、热量传递和质量传递等瞬态过程。用该程序计算了气体和墙壁温度、气体压力、氧气摩尔份额、喷雾流燃烧速率和热量热递速率等主要参数。利用AI实验数据和美国SPRAY－3A的计算结果对程序进行了验证，结果符合较好。     

榆树林油田砂岩储层敏感性研究

榆树林油田储层粘土矿物含量较高，各种注入条件和施工条件都会对该储层造成相应的伤害，应采取相应的防护措施，为防止速敏的发生，储层的注水速度应控制在临界流速（1.0mL/min）以下，在油井转注时，可先注入1.09PV的含粘土稳定剂的进行处理，以提高产量或注入量，注入阴离子表面活性剂配置的活性水再注入地层水，不能增加地层水的渗透率，该项试验研究对指导榆树林油田的开发具有重要的意义。     

航空油品高频/高压电脱水微观机理

设计并建立了一套高压电物理化学显微分析装置，为研究高压电物理化学领域的微观机理提供了一种新的技术途径。采用该技术，研究了胜利稠油经6％加氢裂解柴油稀释的原料油的高频／高压电脱水的微观机理。该原料的脱水率达96．7％，高于传统的电脱水方法。     

大型铸件工作台的生产

工作台结构特点为体积大,重量大,存在大平面,轮廓尺寸4 000 mm×2 000 mm×210 mm,局部高345 mm;顶面有两道导轨面,底面为4 000 mm×2 000 mm×70 mm的大平面,该面在宽度方向上加工14道深48 mm的T型槽,其余部分壁厚20 mm;净重6 500 kg,毛重约7 500 kg;铸件材质为HT300,结构见图1。图1铸件成品图1铸件生产工艺设计根据我厂实际生产能力,以及具备的工装条件,对此件采用树脂自硬砂地坑无箱造型。根据技术要求和铸件结构特点,该铸件浇注位置有两种选择,第一方案是把大平面放在上面,这样两道导轨面位于下面,导轨由底排芯带出,装配时导轨在长度…     

适用于高速长途DWDM系统的色散管理线路

对于高速长途密集波分复用（DWDM）传输，必需采用各种各样的色散补偿、色散管理技术，其中，交替使用正负色散光纤构成色散管理线路（DML）是可行的解决方案之一，在国际上已经取得显著进展，正成为人们关注的焦点，国内在这方面的研究报道还少见.文章以高速长途DWDM系统对传输线路的性能要求为基础，综述了有代表性的3种不同类型的DML的特点和最新进展。     

Modular and rapid testing of SOCs with unwrapped logic blocks

Extensive research has been carried out for test planning of core-based system-on-a-chip devices. Most of the prior work assumes that all of the embedded cores are wrapped for test purpose. However, some designs may contain user-defined logic or cores that cannot be wrapped due to area constraints or timing violations. This paper discusses how these unwrapped logic blocks can be tested rapidly by adapting the TestRail architecture, which uses only the test control mechanism and the test instructions available through the IEEE 1500 standard for embedded core test. A new test scheduling algorithm, which facilitates a concurrent test of both unwrapped logic blocks and IEEE 1500-wrapped cores, is proposed, and experiments show that it outperforms a previous approach when the available number of tester channels and/or the number of unwrapped logic blocks are small.