存储测试系统的可靠性分析

本文针对存储测试系统目前存在的失效现象,从半导体器件本身、焊接工艺和封装工艺进行了失效机理分析,提出了相应的改进措施。在此基础上,作者还结合本系统的实际使用要求,提出了半导体器件的可靠性筛选规程。     

姿态角测试研究

研究飞行体姿态角测试技术,提出了一种姿态角测试方法,给出了可行的实现方案和实测曲线,用卡尔丹角结合测试曲线对被测体姿态进行了分析。通过实际测试,证明了该测试方法原理可行。     

三轴压阻加速度计的激光干涉法冲击校准

提出一种利用激光多普勒干涉法对高g值加速度计进行绝对法冲击校准的方法.本方法采用Hopkinson杆作为冲击加速度信号发生器,应用激光多普勒干涉仪可以精确地获得激励加速度脉冲的波形.对一种三轴压阻式加速度计的灵敏度校准实验证实了此方法的准确性,并对其横向效应进行了研究和讨论.     

提高单片机应用系统可靠性的研究

可靠性设计是单片机应用系统设计的重要内容,它保证在规定使用条件下,系统具有良好的运行可靠性与安全性·本文从硬件、软件两方面系统地阐述了提高单片机系统可靠性的方法.加强电路的设计技巧和软件的抗干扰能力是提高单片机测控系统可靠性的重要手段.     

微型加速度测试仪的ASIC实现

本文设计了一种微型加速度记录仪用数字ASIC,它采用可编程设计技术,达到了小体积、低功耗及多用途设计目标.样片采用0.8μm工艺制造,封装尺寸为9×9mm.实际测试表明,它能够满足恶劣环境下的加速度采集要求.     

晶振芯片在高g值冲击下的失效机理分析

芯片是弹载存储测试系统的最基本的单元,它的抗强冲击能力直接影响测试系统的可靠性.为了研究芯片抗高过载能力,本实验利用Hopkinson杆对最典型的晶振芯片进行高g值冲击,以一维应力波理论估计芯片受到的加速度.对实验现象进行理论分析后得出与应力波传播方向平行放置的芯片抗冲击性能要高于与应力波传播方向垂直的芯片.     

冲击波超压存储测试技术研究

目的改进冲击波超压的测试方法,解决传感器长引线带来的安装不便、易受干扰的实际测试问题;方法利用所谓的存储测试技术,将压力传感器、适配电路、A/D转换器、触发控制电路、通讯接口及电池紧凑封装在坚固的钢壳内,构成一种可缮相对独立工作的便携式超压测试仪;结果研制成功了采样频率可编程的存储式超压测试仪,并对0.6kgTNT药柱的爆炸冲击波进行了多点测试,捕获数据完整可靠;结论冲击波超压存储测试技术具有抗干扰性强和无需电缆引线的优点,特别适宜于大范围多测点的试验场合.     

动态应变仪的误差分析与校准

分析了动态应变仪的测量原理和调平衡技术的原理.采用调平衡技术解决了被测信号由于测量桥路的不平衡引入的误差.分析了应变仪信号传输和处理过程中带来的误差影响并提出了解决方案.     

瞬态波形记录仪中有源低通滤波器的设计

基于14bit瞬态波形记录仪高精度的要求提出八阶有源低通滤波器的设计,并从理论上进行了分析和仿真,通过对设计电路的测试,取得了满意的实验结果.