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Leakage Current Optimization Techniques During Test Based on Don't Care Bits Assignment 总被引:1,自引:0,他引:1
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It is a well-known fact that test power consumption may exceed that during functional operation.Leakage power dissipation caused by leakage current in Complementary Metal-Oxide-Semiconductor(CMOS)circuits during test has become a significant part of the total power dissipation.Hence,it is important to reduce leakage power to prolong battery life in portable systems which employ periodic self-test,to increase test reliability and to reduce test cost.This paper analyzes leakage current and presents a kind of leakage current sinmlator based on the transistor stacking effect. Using it,we propose techniques based on don't care bits(denoted by Xs)in test vectors to optimize leakage current in integrated circuit(IC)test by genetic algorithm.The techniques identify a set of don't care inputs in given test vectors and reassign specified logic values to the X inputs by the genetic algorithm to get minimum leakage vector(MLV). Experimental results indicate that the techniques can effectually optimize leakage current of combinational circuits and sequential circuits during test while maintaining high fault coverage. 相似文献
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针对环形振荡器物理不可克隆函数均匀性与独特性不够理想的问题,提出一种可调可重构的环形振荡器物理不可克隆函数设计.该设计包含可重构环形振荡器模块、整合器模块和裁决器模块.可重构环形振荡器模块由多个独立且具有相同设计的可重构环形振荡器-计数器组构成,芯片各部分的工艺偏差由计数器的数值反映;整合器模块通过将多个计数器数值进行... 相似文献
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SOC可测试性设计与测试技术 总被引:19,自引:0,他引:19
超深亚微米工艺和基于芯核的设计给芯片系统(system-on-a-chip,SOC)测试带来了新的问题.对SOC可测试性设计与测试技术的国际研究现状及进展进行了广泛而深入的综述.从芯核级综述了数字逻辑、模拟电路、存储器、处理器4类芯核的可测试性设计与测试技术,从系统级综述了测试激励、测试响应和测试访问机制等SOC测试资源的设计以及压缩/解压缩与测试调度等测试资源划分、优化技术,并介绍了2个标准化组织开展的SOC测试标准工作.最后,展望了SOC测试未来的发展方向. 相似文献
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根据市政管网的特点和管理部门的需求,开发一套可监控和管理市政管网的管理系统.本系统以GIS、SCADA和数据库技术为基础,将GIS应用平台和SCADA系统高度集成,实现了空间数据和实时数据的一体化管理.基于ArcGIS的GIS平台与SCADA技术相结合,可对市政管网进行动态监控和集中管理,为市政管网的安全运行和预警、防灾、减灾提供强有力的保障. 相似文献
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对校园公共自行车的管理现状进行了研究,设计了一种校园公共自行车管理系统,实现了NFC、ZigBee和GIS技术的有机融合.NFC技术负责采集并验证用户的信息,而被借车辆的实时状态通过ZigBee网络传输到GIS监控平台进行分析和显示,为管理者作出快速并准确的判断提供依据.测试结果证明,管理系统运行稳定,可实现预定功能,为下一步系统扩展到校园其他管理领域奠定了基础. 相似文献