基于接口芯片PCI9030的PCI总线接口卡的设计

介绍了如何利用接口芯片PCI 9030制作PCI总线接口卡,实现由ISA接口向PCI接口的转换.文中从实例出发,详细阐述了接口卡的硬件设计、EEPROM的配置、驱动程序的编写等方面的内容.     

基于相关检测方法的一种帧同步系统

提出将相关检测方法应用于一种帧同步系统,介绍了该系统的以DSP(数字信号处理)专用芯片为核心的终端机硬件结构,引入了数据检测和帧同步码识别的数学模型,采用TMS320C50软件实现对数据的检测、判决及对帧同步码的识别,并给出实验结果。     

伪码调相连续波雷达数字接收及其快速算法

传统的伪码调相连续波(PRC-CW)雷达采用多路模拟相关电路实现对回波信号的相关接收,通过多路试探搜索各距离单元的目标,电路复杂。提出的数字化方案,对回波信号直接数字化,利用高速DSP实现数字卷积,可替代多路模拟相关电路。但是直接卷积的运算量过大,DSP无法承受。本文对此进行了研究,分析了包括FFT在内的五种快速算法,结合PRC-CW雷达的具体情况,确定了一种适于DSP实现的快速卷积算法。仿真和实测数据证实了数字化方案及快速算法的正确性。     

基于方位向信息分离的机动SAR成像算法

针对机动SAR成像,该文提出一种基于方位向运动信息分离的成像算法.在完成距离压缩后,通过方位向运动信息分离,去除非方位向运动造成的距离走动和空变性影响,然后利用方位向速度等效变换实现距离弯曲校正,最后通过非均匀傅里叶变换实现方位向的压缩.该算法利用3维坐标在斜距方程中性质相同的原理,经过非方位向运动信息的校正,将3维空...     

电子产品寿命预测中BS模型法的应用

本文研究了BS模型在电子产品寿命预测中的应用。电子产品的退化类型类似于材料的疲劳,依据电子产品寿命与电应力、环境应力的关系,采用加速寿命试验的方法,加速电子产品故障规律的显现,能够在短时间内获取加速应力下的BS模型参数,避免因电子产品寿命较长所造成的获取BS模型参数的困难。利用灰色预测理论,根据电子产品在加速应力下的BS模型参数推测正常应力下的BS模型参数,并据此进行寿命预测。最后以某型雷达电源板为例进行实例分析,验证此方法的可行性。     

基于AD8302的高精度幅相检测系统的设计

为了提高幅相测量精度、简化电路,扩展频率范围,介绍了一种用于RF/IF幅度和相位测量的AD8302芯片;并利用此芯片和单片机组成高精度幅相检测系统,主要是以实现两路模拟输入信号的相位差和幅度比测量为目的;并利用分频器、施密特触发器和D触发器组成相位极性判断电路,扩展相位测量范围为0～360°;该系统能精确测量两输入信号的幅度比和相位差,测试结果表明基于AD8302的幅相检测系统具有精度高、抗干扰能力强等优点.     

无人机地面站中遥测信号数据采集与处理系统的设计

介绍一种对周期性遥测信号进行实时数据采集和处理的方法，该方法在无人机地面站的信号处理系统中应用并取得成功。重点介绍电路的组成、工作原理及软件的设计。     

某类PRC-CW雷达数字化接收单元采集电路的设计

为了缩短某类PRC-CW雷达的探测时间,同时减少其接收单元的体积并提高电路的抗干扰性能,需要设计出针对此类雷达的数字化接收单元.文章在介绍一种数字化接收过程的基础上详细介绍了应用在这种数字化接收过程中的采集电路设计.     

基于二维空变运动补偿的机动平台大斜视SAR稀疏自聚焦方法

大斜视角和空间3维加速度的存在使机动平台SAR的运动误差具有明显的2维空变性,极大地增加了成像难度。为此,该文提出了一种基于2维空变运动误差估计与补偿的稀疏自聚焦方法。该方法基于Keystone变换和频域相位滤波法构造了能够校正成像参数空变性的频域近似观测算子。在自聚焦过程中,首先,构建基于频域近似观测算子的稀疏自聚焦模型并采用迭代软阈值方法(ISTA)进行求解,从而实现图像的粗聚焦和非空变运动误差的估计;然后,采用稀疏自聚焦模型估计多个子区域的精确相位误差曲线,并基于最小二乘法估计空变的运动误差参数;最后,通过对近似观测算子的修正实现空变运动误差的补偿。仿真实验验证了该方法的有效性。     

模糊灰色关联分析在BIT测试性能评价中的应用

机内测试(BIT)作为一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,已大量应用于雷达装备中;为了测试性验证试验之前获得基本上判定BIT测试性能力,提出了一种基于模糊灰色关联分析的测试能力评估方法;首先确定了用于评估BIT测试能力的指标,该指标有效地将机内测试的测试覆盖率、故障覆盖、结构覆盖等多个特性指标综合考虑;利用模糊层次分析法确定各个指标的权重,然后通过灰色关联分析建立了BIT方案集与测试诊断能力间的距离模型,通过该距离模型来评估BIT测试能力;应用表明,该方法可以有效指导测试性设计及在装备的测试性试验前对装备的BIT设计进行评价.